一,、什么是無損探傷,？
答：無損探傷是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下,，對被檢驗部件的表面和內(nèi)部質(zhì)量進行檢查的一種測試手段,。

二,、常用的探傷方法有哪些,？
答：常用的無損探傷方法有：X光射線探傷,、超聲波探傷、磁粉探傷,、滲透探傷,、渦流探傷、γ射線探傷,、螢光探傷,、著色探傷等方法。

三,、試述磁粉探傷的原理,？
答：它的基本原理是：當(dāng)工件磁化時，若工件表面有缺陷存在,，由于缺陷處的磁阻增大而產(chǎn)生漏磁,，形成局部磁場，磁粉便在此處顯示缺陷的形狀和位置,，從而判斷缺陷的存在,。

四、試述磁粉探傷的種類,？
1,、按工件磁化方向的不同，可分為周向磁化法,、縱向磁化法,、復(fù)合磁化法和旋轉(zhuǎn)磁化法。
2,、按采用磁化電流的不同可分為：直流磁化法,、半波直流磁化法、和交流磁化法,。
3,、按探傷所采用磁粉的配制不同，可分為干粉法和濕粉法,。

五,、磁粉探傷的缺陷有哪些？
答：磁粉探傷設(shè)備簡單,、操作容易,、檢驗迅速、具有較高的探傷靈敏度,，可用來發(fā)現(xiàn)鐵磁材料鎳,、鈷及其合金、碳素鋼及某些合金鋼的表面或近表面的缺陷,；它適于薄壁件或焊縫表面裂紋的檢驗,，也能顯露出一定深度和大小的未焊透缺陷；但難于發(fā)現(xiàn)氣孔、夾碴及隱藏在焊縫深處的缺陷,。

六,、缺陷磁痕可分為幾類？
答：1,、各種工藝性質(zhì)缺陷的磁痕,；
2、材料夾渣帶來的發(fā)紋磁痕,；
3,、夾渣、氣孔帶來的點狀磁痕,。

七,、試述產(chǎn)生漏磁的原因？
答：由于鐵磁性材料的磁率遠大于非鐵磁材料的導(dǎo)磁率,，根據(jù)工件被磁化后的磁通密度B＝μH來分析,，在工件的單位面積上穿過B根磁線，而在缺陷區(qū)域的單位面積 上不能容許B根磁力線通過,，就迫使一部分磁力線擠到缺陷下面的材料里,，其它磁力線不得不被迫逸出工件表面以外出形成漏磁，磁粉將被這樣所引起的漏磁所吸引,。

八,、試述產(chǎn)生漏磁的影響因素？
答：1,、缺陷的磁導(dǎo)率：缺陷的磁導(dǎo)率越小,、則漏磁越強。
2,、磁化磁場強度（磁化力）大小：磁化力越大,、漏磁越強,。
3、被檢工件的形狀和尺寸,、缺陷的形狀大小,、埋藏深度等：當(dāng)其他條件相同時，埋藏在表面下深度相同的氣孔產(chǎn)生的漏磁要比橫向裂紋所產(chǎn)生的漏磁要小,。

九,、某些零件在磁粉探傷后為什么要退磁？
答：某些轉(zhuǎn)動部件的剩磁將會吸引鐵屑而使部件在轉(zhuǎn)動中產(chǎn)生摩擦損壞,，如軸類軸承等,。某些零件的剩磁將會使附近的儀表指示失常。因此某些零件在磁粉探傷后為什么要退磁處理。

十,、超聲波探傷的基本原理是什么,？
答：超聲波探傷是利用超聲能透入金屬材料的深處，并由一截面進入另一截面時,，在界面邊緣發(fā)生反射的特點來檢查零件缺陷的一種方法,，當(dāng)超聲波束自零件表面由探頭通至金屬內(nèi)部，遇到缺陷與零件底面時就分別發(fā)生反射波來,，在螢光屏上形成脈沖波形,，根據(jù)這些脈沖波形來判斷缺陷位置和大小。

十一,、超聲波探傷與X射線探傷相比較有何優(yōu)的缺點,？
答：超聲波探傷比X射線探傷具有較高的探傷靈敏度、周期短,、成本低,、靈活方便、效率高,，對人體無害等優(yōu)點,；缺點是對工作表面要求平滑、要求富有經(jīng)驗的檢驗人員才能辨別缺陷種類,、對缺陷沒有直觀性,；超聲波探 傷適合于厚度較大的零件檢驗。

十二,、超聲波探傷的主要特性有哪些,？
答：1、超聲波在介質(zhì)中傳播時,，在不同質(zhì)界面上具有反射的特性,，如遇到缺陷，缺陷的尺寸等于或大于超聲波波長時,，則超聲波在缺陷上反射回來,，探傷儀可將反射波顯示出來；如缺陷的尺寸甚至小于波長時,，聲波將繞過射線而不能反射,；
2、波聲的方向性好,，頻率越高,，方向性越好，以很窄的波束向介質(zhì)中輻射,，易于確定缺陷的位置,。
3,、超聲波的傳播能量大，如頻率為1MHZ（100赫茲）的超生波所傳播的能量,，相當(dāng)于振幅相同而頻率為1000HZ（赫茲）的聲波的100萬倍,。

十三、超生波探傷板厚14毫米時,，距離波幅曲線上三條主要曲線的關(guān)系怎樣,？
答：測長線 Ф1 х 6 －12dB
定量線 Ф1 х 6 －6dB
判度線 Ф1 х 6 －2dB

十四、何為射線的“軟”與“硬”,？
答：X射線穿透物質(zhì)的能力大小和射線本身的波長有關(guān),，波長越短（管電壓越高），其穿透能力越大,，稱之為“硬”,；反之則稱為“軟”。

十五,、用超生波探傷時,，底波消失可能是什么原因造成的？
答：1,、近表表大缺陷,；2、吸收性缺陷,；3,、傾斜大缺陷；4,、氧化皮與鋼板結(jié)合不好,。

十六、影響顯影的主要因素有哪些,？
答：1,、顯影時間；2,、顯影液溫度,；3、顯影液的搖動,；4、配方類型,；5,、老化程度。

十七,、簡述超生波探傷中,，超生波在介質(zhì)中傳播時引起衰減的原因是什么,？
答：1、超聲波的擴散傳播距離增加,，波束截面愈來愈大,，單位面積上的能量減少。
2,、材質(zhì)衰減一是介質(zhì)粘滯性引起的吸收,；二是介質(zhì)界面雜亂反射引起的散射。

十八,、CSK－ⅡA試塊的主要作用是什么,？
答：1、校驗靈敏度,；2,、校準(zhǔn)掃描線性。

十九.,、用超生波對餅形大鍛件探傷,，如果用底波調(diào)節(jié)探傷起始靈敏度對工作底面有何要求？
答：1,、底面必須平行于探傷面,；
2、底面必須平整并且有一定的光潔度,。

二十,、超聲波探傷選擇探頭K值有哪三條原則？
答：1,、聲束掃查到整個焊縫截面,；
2、聲束盡量垂直于主要缺陷,；
3,、有足夠的靈敏度。

二十一,、超聲波探傷儀主要有哪幾部分組成,？
答：主要有電路同步電路、發(fā)電路,、接收電路,、水平掃描電路、顯示器和電源等部份組成,。

二十二,、發(fā)射電路的主要作用是什么？
答：由同步電路輸入的同步脈沖信號,，觸發(fā)發(fā)射電路工作,，產(chǎn)生高頻電脈沖信號激勵晶片,，產(chǎn)生高頻振動，并在介質(zhì)內(nèi)產(chǎn)生超聲波,。

二十三,、超聲波探傷中，晶片表面和被探工件表面之間使用耦合劑的原因是什么,？
答：晶片表面和被檢工件表面之間的空氣間隙,，會使超聲波*反射，造成探傷結(jié)果不準(zhǔn)確和無法探傷,。

二十四,、JB1150－73標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的判別缺陷的三種情況是什么？
答：1,、無底波只有缺陷的多次反射波,。
2、無底波只有多個紊亂的缺陷波,。
3,、缺陷波和底波同時存在。

二十五,、JB1150－73標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的距離――波幅曲線的用途是什么,？
答：距離――波幅曲線主要用于判定缺陷大小，給驗收標(biāo)準(zhǔn)提供依據(jù)它是由判廢線,、定量線,、測長線三條曲線組成；
判廢線――判定缺陷的zui大允許當(dāng)量,；
定量線――判定缺陷的大小,、長度的控制線；測長線――探傷起始靈敏度控制線,。

二十六,、什么是超聲場？
答：充滿超聲場能量的空間叫超聲場,。

二十七,、反映超聲場特征的主要參數(shù)是什么？
答：反映超聲場特征的重要物理量有聲強,、聲壓聲阻抗,、聲束擴散角、近場和遠場區(qū),。

二十八,、探傷儀zui重要的性能指標(biāo)是什么？
答：分辨力,、動態(tài)范圍,、水平線性、垂直線性,、靈敏度,、信噪比。

二十九,、超聲波探傷儀近顯示方式可分幾種,？
答：1、A型顯示示波屏橫座標(biāo)代表超聲波傳遞播時間（或距離）縱座標(biāo)代表反射回波的高度,；2,、B型顯示示波屏橫座標(biāo)代表超聲波傳遞播時間（或距離），這類顯示得到的是探頭掃查深度方向的斷面圖,；3,、C型顯示儀器示波屏代表被檢工件的投影面，這種顯示能繪出缺陷的水平投影位置,，但不能給出缺陷的埋藏深度,。

三十、超聲波探頭的主要作用是什么,？
答：1,、探頭是一個電聲換能器，并能將返回來的聲波轉(zhuǎn)換成電脈沖,；2,、控制超聲波的傳播方向和能量集中的程度，當(dāng)改變探 頭入射 角或改變超聲波的擴散角時,，可使聲波的主要能量按不同的角度射入介質(zhì)內(nèi)部或改變聲波的指向性,，提高分辨率；3,、實現(xiàn)波型轉(zhuǎn)換,；4、控制工作頻率,；適用于不同的工作條件,。

三十一、磁粉探頭的安全操作要求,？
答：1,、當(dāng)工件直接通過電磁化時，要注意夾頭間的接觸不良,、或用了太大的磁化電流引起打弧閃光,，應(yīng)戴防護眼鏡，同時不應(yīng)在有可能燃氣體的場合使用,；2,、在連續(xù)使用濕法磁懸液時,，皮膚上可涂防護膏；3,、如用于水磁懸液,，設(shè)備 須接地良好，以防觸電,；4,、在用繭火磁粉時，所用紫外線必須經(jīng)濾光器,，以保護眼睛和皮膚,。

三十二、什么是分辨率,？
答：指在射線底片或熒光屏上能夠識別的圖像之間zui小距離,，通常用每1毫米內(nèi)可辨認(rèn)線條的數(shù)目表示。

三十三,、什么是幾何不清晰度,？
答：由半影造成的不清晰度、半影取決于焦點尺寸,，焦距和工件厚度,。

三十四、為什么要加強超波探傷合錄和報告工作,？
答：任何工件經(jīng)過超聲波探傷后,，都必須出據(jù)檢驗報告以作為該工作質(zhì)量好壞的憑證，一份正確的探傷報告,，除建立可靠的探測方法和結(jié)果外,，很大程度上取決于原始記錄和zui后出據(jù)的探傷報告是非常重要的，如果我們檢查了工件不作記錄也不出報告,，那么探傷檢查就毫無意義,。

三十五、磁粉探傷中為什么要使用靈敏試片,？
答：使用靈敏試片目的在于檢驗磁粉和磁懸液的性能和連續(xù)法中確定試件表面有效磁場強度和方向以及操作方法是否正確等綜合因素,。

三十六、什么叫定影作用,？
答：顯影后的膠片在影液中,，分影劑將它上面未經(jīng)顯影的溴化銀溶解掉，同時保護住黑色金屬銀粒的過程叫定影作用,。

三十七,、著色（滲透）探傷的基本原理是什么？
答：著色（滲透）探傷的基本原理是利用毛細現(xiàn)象使?jié)B透液滲入缺陷，經(jīng)清洗使表面滲透液支除,，而缺陷中的滲透殘瘤,，再利用顯像劑的毛細管作用吸附出缺陷中殘瘤滲透液而達到檢驗缺陷的目的。

三十八,、著色（滲透）探傷靈敏度的主要因素有哪些,？
答：1、滲透劑的性能的影響,；2、乳化劑的乳化效果的影響,；3,、顯像劑性能的影響；4,、操作方法的影響,；5、缺陷本身性質(zhì)的影響,。

三十九,、在超聲波探傷中把焊縫中的缺陷分幾類？怎樣進行分類,？
答：在焊縫超聲波探傷中一般把焊縫中的缺陷 分成三類：點狀缺陷,、線狀缺陷、面狀缺陷,。
在分類中把長度小于10mm的缺陷叫做點狀缺陷,；一般不測長，小于10mm的缺陷按5mm計,。把長度大于10mm的缺陷叫線狀缺陷,。把長度大于10mm高度大于3mm的缺陷叫面狀缺陷。

四十,、超聲波試塊的作用是什么,？
答：超聲波試塊的作用是校驗儀器和探頭的性能，確定探傷起始靈敏度,，校準(zhǔn)掃描線性,。

四十一、什么是斜探頭折射角β的正確值,？
答：斜探頭折射角的正確值稱為K值,，它等于斜探頭λ射點至反射點的水平距離和相應(yīng)深度的比值。

四十二,、當(dāng)局部無損探傷檢查的焊縫中發(fā)現(xiàn)有不允許的缺陷時如何辦,？
答：應(yīng)在缺陷的延長方向或可疑部位作補充射線探傷。補充檢查后對焊縫質(zhì)量仍然有懷疑對該焊縫應(yīng)全部探傷。

四十三,、非缺陷引起的磁痕有幾種,？
答：1、局部冷 作硬化,，由材料導(dǎo)磁變化造成的磁痕聚集,；2、兩種不同材料的交界面處磁粉堆積,；3,、碳化物層組織偏析；4,、零件截面尺寸的突變處磁痕,；5、磁化電流過高,，因金屬流線造成的磁痕,；6、由于工件表面不清潔或油污造成的斑點狀磁痕,。

四十四,、磁粉檢驗規(guī)程包括哪些內(nèi)容？
答：1,、規(guī)程的適用范圍,；2、磁化方法（包括磁化規(guī)范,、工件表面的準(zhǔn)備）,；3、磁粉（包括粒度,、顏色,、磁懸液與熒光磁懸液的配制）。4,、試片,；5、技術(shù)操作,；6,、質(zhì)量評定與檢驗記錄。

四十五,、磁粉探傷適用范圍,？
答：磁粉探傷是用來檢測鐵磁性材料表面和近表面缺陷的種檢測方法。

四十六,、超聲波探傷儀中同步信號發(fā)生器的主要作用是什么,？它主要控制哪二部分電路工作,？
答：同步電路產(chǎn)生同步脈沖信號，用以觸發(fā)儀器各部分電路同時協(xié)調(diào)工作,，它主要控制同步發(fā)射和同步掃描二部分電路,。

四十七、無損檢測的目地,？
答：1,、改進制造工藝；2,、降低制造成本,；3、提高產(chǎn)品的可能性,；4,、保證設(shè)備的安全運行。

四十八,、超聲波焊縫探傷時為缺陷定位儀器時間掃描線的調(diào)整有哪幾種方法？
答：有水平定位儀,、垂直定位,、聲程定位三種方法。

四十九,、試比較干粉法與濕粉法檢驗的主要優(yōu)缺點,？
答：干粉法檢驗對近表面缺陷的檢出能力高，特別適于大面積或野外探傷,；濕粉法檢驗對表面細小缺陷檢出能力高,，特別適于不規(guī)則形狀的小型零件的批量探傷。