Filmetrics膜厚測量儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品薄膜的厚度,，這類儀表中有利用α射線,、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計,；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計,；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。
Filmetrics膜厚測量儀原理分類
測厚儀按照測量的方式不同,，可大致分為：
1,、接觸式測厚儀
接觸面積大小劃分：
點接觸式測厚儀
面接觸時測厚儀
2、非接觸式測厚儀
非接觸式測厚儀根據(jù)其測試原理不同,，又可分為以下幾種：
激光測厚儀
超聲波測厚儀
涂層測厚儀
X射線測厚儀
白光干涉測厚儀
電解式測厚儀
管厚規(guī)
Filmetrics膜厚測量儀：用于測定薄膜,、薄片等材料的厚度，測量范圍寬,、測量精度高,，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零,、公英制轉(zhuǎn)換,、自動斷電等特點。
涂層測厚儀：
涂層測厚儀采用電磁感應(yīng)法測量涂層的厚度,。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路,，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變,，引起磁阻及探頭線圈電感的變化,。利用這一原理可以地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度,。
涂層測厚儀具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）,；
具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（APPL）；
設(shè)有五個統(tǒng)計量：平均值（MEAN）,、zui大值（MAX）,、zui小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）,、標準偏差（S．DEV）
Filmetrics膜厚測量根據(jù)測量原理一般有以下五種類型：
1.磁性測厚法：適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量,。導(dǎo)磁材料一般為：鋼，鐵,，銀,，鎳。此種方法測量精度高,。
2.渦流測厚法：適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量,。此種較磁性測厚法精度低。
3.超聲波測厚法：適用多層涂鍍層厚度的測量或者是以上兩種方法都無法測量的場合,。但一般價格昂貴,，測量精度也不高。
4.電解測厚法：此方法有別于以上三種,，不屬于無損檢測,，需要破壞涂鍍層,，一般精度也不高。測量起來比較其他幾種麻煩,。
5.放射測厚法：此處儀器價格非常昂貴（一般在10萬RMB以上）,，適用于一些特殊場合。
Filmetrics膜厚測量儀的測試方法主要有：磁性測厚法,，放射測厚法,，電解測厚法，渦流測厚法,，超聲波測厚法,。
Filmetrics膜厚測量儀注意事項：
⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當與試件相似。
⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直,。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度,，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響,。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的,。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法,。
⒍測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量,，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定,，否則會影響測量的讀數(shù),。
⒏在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側(cè)頭清除附著物質(zhì),。
Filmetrics膜厚測量儀：用于測定薄膜,、薄片等材料的厚度，測量范圍寬,、測量精度高,，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零,、公英制轉(zhuǎn)換,、自動斷電等特點。