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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
| Elcometer 456整體式涂層測(cè)厚儀整體式（內(nèi)置）探頭適合測(cè)量平,、曲形表面,。單手操作、無(wú)需連線,，"大腳"探頭可測(cè)得重復(fù),、*的結(jié)果。 | |||||
| Elcometer 456整體式涂層測(cè)厚儀適合測(cè)量有機(jī),、無(wú)機(jī)涂層厚度,，基體類(lèi)型有： | |||||
| ¬鐵基（F） | |||||
| ¬非鐵基（F） | |||||
| ¬鐵基及非鐵基（FNF） | |||||
| Elcometer 456整體式涂層測(cè)厚儀分離式（插入式）探頭選擇多樣，應(yīng)用廣泛,，測(cè)量金屬基體的多種涂層的厚度,。 | |||||
| 有基本型、標(biāo)準(zhǔn)型,、高級(jí)型樣式,。 | |||||
| 用于鐵基（F）、非鐵基（N）或鐵基及非鐵基（FNF）材料,。 | |||||
| 這些探頭均可互換使用,。每個(gè)探頭帶"智能探頭功能"，即： | |||||
| ¬所有鐵基儀器都能接受一個(gè)鐵基456探頭,。 | |||||
| ¬所有非鐵基儀器都能接受任何一個(gè)非鐵基456探頭,。 | |||||
| ¬所有鐵基、非鐵基儀器都能接受所有一個(gè)456探頭,。 | |||||
| Elcometer 456整體式涂層測(cè)厚儀-規(guī)范和零件號(hào) | |||||
| 公制 | 英制（mils） | 零件號(hào) | |||
| 基本 | 鐵基基本整體式量程1 | 0-1500μm | 0-60 | A456FBI1 | |
| 鐵基基本整體式量程2 | 0-5mm | 0-200 | A456FBI2 | ||
| 鐵基基本整體式量程12*-高分辨率 | 0-5mm | 0-200 | A456FBI12 | ||
| 鐵基基本整體式量程3 | 0-13mm | 0-500 | A456FBI3 | ||
| 非鐵基基本整體式 | 0-1500μm | 0-60 | A456NBI1 | ||
| 鐵基及非鐵基（FNF）兩用基本整體式 | 0-1500μm | 0-60 | A456FNFBI1 | ||
| 標(biāo)準(zhǔn) | 鐵基標(biāo)準(zhǔn)整體式量程1 | 0-1500μm | 0-60 | A456FSI1 | |
| 鐵基標(biāo)準(zhǔn)整體式量程2 | 0-5mm | 0-200 | A456FSI2 | ||
| 鐵基標(biāo)準(zhǔn)整體式量程12*-高分辨率 | 0-5mm | 0-200 | A456FBSI12 | ||
| 鐵基標(biāo)準(zhǔn)整體式量程3 | 0-13mm | 0-500 | A456FSI3 | ||
| 非鐵基標(biāo)準(zhǔn)整體式 | 0-1500μm | 0-60 | A456NSI1 | ||
| 鐵基及非鐵基（FNF）兩用標(biāo)準(zhǔn)整體式 | 0-1500μm | 0-60 | A456FNFSI1 | ||
| 高級(jí) | 鐵基高級(jí)整體式量程1 | 0-1500μm | 0-60 | A456FTI1 | |
| 鐵基高級(jí)整體式量程2 | 0-5mm | 0-200 | A456FTI2 | ||
| 鐵基高級(jí)整體式量程12*-高分辨率 | 0-5 mm | 0-200 | A456FBTI12 | ||
| 鐵基高級(jí)整體式量程3 | 0-13mm | 0-500 | A456FTI3 | ||
| 非鐵基高級(jí)整體式 | 0-1500μm | 0-60 | A456NTI1 | ||
| 鐵基及非鐵基（FNF）兩用高級(jí)整體式 | 0-1500μm | 0-60 | A456FNFTI1 | ||
| 在同一探頭,，F(xiàn)12量程結(jié)合了F1和F2的量程（英國(guó)號(hào) GB2367135B）。用戶(hù)可選擇合適的量程和分辨率,。 | |||||
| Elcometer 456分離式涂層測(cè)厚儀零件號(hào) | |||||
| 基本 | 標(biāo)準(zhǔn) | 高級(jí) | |||
| 鐵基（F）分離式 | A456FBS | A456FSS | A456FTS | ||
| 非鐵基（NF）分離式 | A456NBS | A456NSS | A456NTS | ||
| 鐵基（F）和非鐵基（NF）兩用分離式 | A456FNFBS | A456FNFSS | A456FNFTS | ||
| 用于Elcometer 456分離式涂層測(cè)厚儀的探頭是單獨(dú)提供的,。 | |||||