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納米粒度及zeta電位儀有哪些特點
1.膜電極設(shè)計,，避免產(chǎn)生熱效應(yīng),，能準(zhǔn)確測量顆粒電泳速度,。
2.快速傅利葉變換算法，迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜,，縮短分析時間,。
3.納米粒度及zeta電位儀采用新的動態(tài)光散射技術(shù)，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法,。
4.“Y”型光纖光路系統(tǒng),，通過藍(lán)寶石測量窗口，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布,，在加載電流的情況下,，與膜電極對應(yīng)產(chǎn)生微電場，測量同一體系的Zeta電位,，避免樣品交叉污染與濃度變化,。
5.納米粒度及zeta電位儀可控參比方法（CRM），能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜,，確保分析的靈敏度,。
6.異相多譜勒頻移技術(shù)，較之傳統(tǒng)的方法,，獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級,，提高分析結(jié)果的可靠性。
7.無需比色皿,，毛細(xì)管電泳池或外加電極池,，僅需點擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果,。
8.超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計,，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準(zhǔn)確性,。
9.消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,，諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失，樣品池位置不同帶來的誤差,，比色皿器壁的折射與污染,，分散介質(zhì)的影響，多重散射的衰減等,，提高靈敏度,。
2.快速傅利葉變換算法，迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜,，縮短分析時間,。
3.納米粒度及zeta電位儀采用新的動態(tài)光散射技術(shù)，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法,。
4.“Y”型光纖光路系統(tǒng),，通過藍(lán)寶石測量窗口，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布,，在加載電流的情況下,，與膜電極對應(yīng)產(chǎn)生微電場，測量同一體系的Zeta電位,，避免樣品交叉污染與濃度變化,。
5.納米粒度及zeta電位儀可控參比方法（CRM），能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜,，確保分析的靈敏度,。
6.異相多譜勒頻移技術(shù)，較之傳統(tǒng)的方法,，獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級,，提高分析結(jié)果的可靠性。
7.無需比色皿,，毛細(xì)管電泳池或外加電極池,，僅需點擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果,。
8.超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計,，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準(zhǔn)確性,。
9.消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,，諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失，樣品池位置不同帶來的誤差,，比色皿器壁的折射與污染,，分散介質(zhì)的影響，多重散射的衰減等,，提高靈敏度,。