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納米粒度及zeta電位儀有哪些特點
1.膜電極設計,，避免產生熱效應，能準確測量顆粒電泳速度,。
2.快速傅利葉變換算法,，迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜，縮短分析時間,。
3.納米粒度及zeta電位儀采用新的動態(tài)光散射技術,，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關光譜法,。
4.“Y”型光纖光路系統(tǒng),，通過藍寶石測量窗口，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布,，在加載電流的情況下,，與膜電極對應產生微電場,，測量同一體系的Zeta電位，避免樣品交叉污染與濃度變化,。
5.納米粒度及zeta電位儀可控參比方法（CRM）,，能精細分析多譜勒頻移產生的能譜，確保分析的靈敏度,。
6.異相多譜勒頻移技術,，較之傳統(tǒng)的方法，獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級,，提高分析結果的可靠性,。
7.無需比色皿，毛細管電泳池或外加電極池,，僅需點擊Zeta電位操作鍵,，一分鐘內即可得到分析結果。
8.超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計,，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。
9.消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,，諸如光路中不同光學元器件間傳輸?shù)膿p失,，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染,，分散介質的影響,，多重散射的衰減等，提高靈敏度,。
2.快速傅利葉變換算法,，迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜，縮短分析時間,。
3.納米粒度及zeta電位儀采用新的動態(tài)光散射技術,，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關光譜法,。
4.“Y”型光纖光路系統(tǒng),，通過藍寶石測量窗口，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布,，在加載電流的情況下,，與膜電極對應產生微電場,，測量同一體系的Zeta電位，避免樣品交叉污染與濃度變化,。
5.納米粒度及zeta電位儀可控參比方法（CRM）,，能精細分析多譜勒頻移產生的能譜，確保分析的靈敏度,。
6.異相多譜勒頻移技術,，較之傳統(tǒng)的方法，獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級,，提高分析結果的可靠性,。
7.無需比色皿，毛細管電泳池或外加電極池,，僅需點擊Zeta電位操作鍵,，一分鐘內即可得到分析結果。
8.超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計,，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。
9.消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,，諸如光路中不同光學元器件間傳輸?shù)膿p失,，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染,，分散介質的影響,，多重散射的衰減等，提高靈敏度,。