納米粒度及zeta電位儀有哪些特點
1.膜電極設計,,避免產生熱效應,能準確測量顆粒電泳速度,。
2.快速傅利葉變換算法,,迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜,縮短分析時間,。
3.納米粒度及zeta電位儀采用新的動態(tài)光散射技術,,引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關光譜法,。
4.“Y”型光纖光路系統(tǒng),,通過藍寶石測量窗口,直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布,,在加載電流的情況下,,與膜電極對應產生微電場,,測量同一體系的Zeta電位,避免樣品交叉污染與濃度變化,。
5.納米粒度及zeta電位儀可控參比方法(CRM),,能精細分析多譜勒頻移產生的能譜,確保分析的靈敏度,。
6.異相多譜勒頻移技術,,較之傳統(tǒng)的方法,獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級,,提高分析結果的可靠性,。
7.無需比色皿,毛細管電泳池或外加電極池,,僅需點擊Zeta電位操作鍵,,一分鐘內即可得到分析結果。
8.超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計,,減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,,保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。
9.消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,,諸如光路中不同光學元器件間傳輸?shù)膿p失,,樣品池位置不同帶來的誤差,比色皿器壁的折射與污染,,分散介質的影響,,多重散射的衰減等,提高靈敏度,。
2.快速傅利葉變換算法,,迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜,縮短分析時間,。
3.納米粒度及zeta電位儀采用新的動態(tài)光散射技術,,引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關光譜法,。
4.“Y”型光纖光路系統(tǒng),,通過藍寶石測量窗口,直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布,,在加載電流的情況下,,與膜電極對應產生微電場,,測量同一體系的Zeta電位,避免樣品交叉污染與濃度變化,。
5.納米粒度及zeta電位儀可控參比方法(CRM),,能精細分析多譜勒頻移產生的能譜,確保分析的靈敏度,。
6.異相多譜勒頻移技術,,較之傳統(tǒng)的方法,獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級,,提高分析結果的可靠性,。
7.無需比色皿,毛細管電泳池或外加電極池,,僅需點擊Zeta電位操作鍵,,一分鐘內即可得到分析結果。
8.超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計,,減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,,保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。
9.消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,,諸如光路中不同光學元器件間傳輸?shù)膿p失,,樣品池位置不同帶來的誤差,比色皿器壁的折射與污染,,分散介質的影響,,多重散射的衰減等,提高靈敏度,。