據(jù)了解,有的紫外可見分光光度計(jì)只測試220nm處的雜散光,,不測試340nm處的雜散光,,這樣是不正確的,,需測試220nm處雜散光是因?yàn)椋孩俑鶕?jù)量子光學(xué)理論,,波長是能量的倒數(shù),,波長短能量大,容易產(chǎn)生雜散光,,而220nm處屬于短波部分,;②根據(jù)儀器學(xué)理論中的電光源理論,氘燈在220nm處能量很小,,即信號很小,,容易顯現(xiàn)雜散光;③根據(jù)儀器學(xué)理論中的光電發(fā)射理論,,光電倍增管在220nm處的光譜響應(yīng)(靈敏度)低,,容易顯現(xiàn)雜散光。而測試340nm處雜散光的原因是*不同的,,因?yàn)?40nm處一般是氘燈換鎢燈和儀器調(diào)換濾光片的地方,,此時(shí)zui容易產(chǎn)生雜散光,。所以,,對于紫外可見分光光度計(jì)來講,應(yīng)該測試220nm和340nm兩處的雜散光,。
紫外可見分光光度計(jì)雜散光測試步驟
1,、首先將參比液注入配對石英石吸收池,分別放置在參比池座和試樣池座內(nèi),。再測定波段掃描基線并使之平滑,。
2、將減光片插入試樣光路的濾光片槽內(nèi),,其讀數(shù)即為減光片的衰減值K,,然后將減光片插入?yún)⒈裙饴返臑V光片座內(nèi),
3,、將石英吸收池中的蒸餾水依次換成上述截止濾光液,,插入試樣試樣池座中,在相應(yīng)的波段內(nèi)掃描,、打?。辉谟涗浖埖淖鳂?biāo)上量取測定波長處的透光度,,乘以衰減值K,,即得各測定波長處的雜散光值。