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    1.薄膜厚度控制的重要性

    ①成品的厚度及厚度均勻性主要取決于復(fù)合前單層膜的厚度及均勻性,，也就是說控制好單層膜的厚度質(zhì)量是獲得合格成品厚度質(zhì)量的前提,。

    ②薄膜的阻隔性與薄膜的厚度密切相關(guān)（一般與厚度成正比關(guān)系），均勻性好的薄膜能獲得均一穩(wěn)定的阻隔性,。

    ③薄膜厚度均勻性直接影響薄膜的機(jī)械拉伸性能,，厚度均勻性好的薄膜能獲得較好的印刷套印精度及復(fù)合質(zhì)量。薄膜拉伸性能檢測儀器：薄膜厚度測試儀,，可獲得薄膜的機(jī)械拉伸性能。

    ④相同內(nèi)層材質(zhì)的復(fù)合膜,，厚度偏高則起始溫度偏高,，反之亦然。也就是說，厚度均勻的復(fù)合膜較能獲得均一的封合質(zhì)量,，避免局部熱封不良現(xiàn)象,。

    ⑤多數(shù)客戶是按平方米作為交貨數(shù)據(jù)，將薄膜厚度控制在要求的范圍內(nèi),，可有效控制復(fù)合膜的加工成本,。

    2.薄膜測厚儀介紹

    （1）螺旋測微器。

    ①螺旋測微器的結(jié)構(gòu),。

    螺旋測微器（又叫千分尺）是比游標(biāo)卡尺更精密的測量厚度的工具,，用它測厚度可以準(zhǔn)確到0.01mm，測量范圍為幾個厘米,。它主要由主尺和螺旋尺組成,，其部分名稱及主要用途如下。

a．          主尺,。用于讀取固定刻度所顯示的zui大毫米刻度數(shù)（包括0.5mm）,。

b．          旋鈕。用于讀取主尺上固定刻度的水平線對應(yīng)的螺旋尺上可動刻度的刻度（包括估讀）,。

c．           旋鈕,。用于緊固被測物。

d．          微調(diào)旋鈕,。用于可動尺的微調(diào),。

e．           測微螺桿。

f．            小砧,。

    ②螺旋測微器的原理,。

    螺旋測微器是依據(jù)螺旋放大的原理制成的，即螺桿在螺母中旋轉(zhuǎn)一周,，螺桿便沿著旋轉(zhuǎn)軸線方向移動的微小距離,，就能用圓周上的讀數(shù)表示出來。螺旋測微器的精密螺紋的螺距是0.5mm,，可動刻度有50個等分刻度,，可動刻度旋轉(zhuǎn)一周，測微螺桿可前進(jìn)或后退0.5mm,，因此旋轉(zhuǎn)每個小分度,，相當(dāng)于測微螺桿前進(jìn)或后退0.5/50=0.01mm?？梢?，可動刻度每一小分度表示0.01mm，所以螺旋測微器可準(zhǔn)確到0.01mm,，由于還能再估讀一位,，可讀到毫米的千分位，故又名千分尺。

    測量時,，當(dāng)小砧和測微螺旋桿并攏時,，可動刻度的零點(diǎn)恰好與固定刻度的零點(diǎn)重合，旋出測微螺桿,，并使小砧和測微螺桿的面正好接觸待測厚度的兩端,，那么測微螺桿向右移動的距離就是所測的厚度。這個距離的整毫米數(shù)由固定刻度上讀出,，小數(shù)部分則由可動刻度讀出,。

    ③使用螺旋測微器應(yīng)注意一下幾點(diǎn)。

a．          測量時,，在測微螺旋桿快靠近被測物體時應(yīng)停止使用旋鈕,，而改用微調(diào)旋鈕，避免產(chǎn)生過大的壓力,，既可使測量結(jié)果,，又能保護(hù)螺旋測微器。

b．          在讀書時,，要注意固定刻度尺上表示半毫米的刻線是否已經(jīng)露出,。

c．           讀書時，千分位有一位估讀數(shù)字,，不能隨便扔掉,，即使固定刻度的零點(diǎn)正好與可動刻度的某一刻度線對齊，千分位上也應(yīng)讀為“0”,。

d．          當(dāng)小砧和測微螺旋桿并攏時,，可動刻度的零點(diǎn)與固定刻度的零點(diǎn)不相重合，將出現(xiàn)*,，應(yīng)加以修正,，即在zui后測厚度的讀數(shù)上去掉*的數(shù)值。

    另外,，數(shù)顯式螺旋測微器讀數(shù)更快捷,、準(zhǔn)確，還可實(shí)現(xiàn)任意位置重復(fù)0位,，使用方便,。

    （2）LPT-1S薄膜測厚儀

    技術(shù)指標(biāo)：

    測量范圍：0~1mm

    分度值：0.001mm

    綜合誤差：≤0.005mm

    上測頭：曲徑半徑為15~50mm

    下測頭：直徑6mm平面

    測頭符合：0.1~0.5N

    測量精度：100μm以內(nèi)＜1μm，100~250μm＜2μm,，250μm＜3μm

    試驗(yàn)條件：標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)環(huán)境

    凈重：1.5kg

    （3）CHY-C2測厚儀

    技術(shù)指標(biāo)：

    常規(guī)測量范圍：0~2mm

    分辨率：0.1μm

    測量速度：10次/分（可調(diào)）

    測量壓力：（17.5±1）kPa（薄膜）,，（50±1）kPa（紙張）

    接觸面積：50mm²（薄膜），200mm²（紙張）

    電源：AC 220V 50Hz

    外形尺寸：300mm[L]×275mm[B]×300mm[H]

    注：賽成科技的薄膜厚度測試儀可對薄膜進(jìn)行多種物理性能測試,，可選量程,，測試,。