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CMI 900/950型 X-射線膜厚測量儀
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測量儀器,,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度,、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域,,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確,、快速的分析?;赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包,,實(shí)現(xiàn)了對CMI900/950主機(jī)的全面自動化控制,分析中不需要任何手動調(diào)整或手動參數(shù)設(shè)定,??赏瑫r測定zui多5層,、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,,以滿足您特定的分析報告格式要求,;如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象,、CAD文件等,。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析,、zui大值,、zui小值、數(shù)據(jù)變動范圍,、相對偏差,、UCL(控制上限)、LCL(控制下限),、CpK圖,、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式,。
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀,、各種尺寸的樣品;并且測量點(diǎn)zui小可達(dá)0.025 x 0.051毫米,。
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