目錄:牛津儀器(上海)有限公司>> CMI900系列X射線涂鍍層厚度測(cè)量?jī)x
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更新時(shí)間:2017-07-16 22:14:15瀏覽次數(shù):1395評(píng)價(jià)
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CMI 900/950型 X-射線膜厚測(cè)量?jī)x
CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度,、材料組成,、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確,、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包,,實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900/950主機(jī)的全面自動(dòng)化控制,分析中不需要任何手動(dòng)調(diào)整或手動(dòng)參數(shù)設(shè)定,??赏瑫r(shí)測(cè)定zui多5層、15種元素,。數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式,,以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求;如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表,、測(cè)定位置的圖象,、CAD文件等。統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值,、誤差分析,、zui大值、zui小值,、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍,、相對(duì)偏差、UCL(控制上限),、LCL(控制下限),、CpK圖,、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式,。
CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀,、各種尺寸的樣品;并且測(cè)量點(diǎn)zui小可達(dá)0.025 x 0.051毫米,。
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