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上海紐邁電子科技有限公司

紐邁分析|顆粒表面特性分析新技術(shù)

時(shí)間:2016-8-2 閱讀:2385
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紐邁分析|顆粒表面特性分析新技術(shù)

 

8月12-14日,,我們頂著“蒸烤煮燜”的酷暑,,拋卻“空調(diào)Wifi西瓜”的愜意,來到的歷史,、文化,、旅游名城成都,參加“中國顆粒學(xué)會(huì)第九屆學(xué)術(shù)年會(huì)暨海峽兩岸顆粒技術(shù)研討會(huì)”,,屆時(shí),,紐邁分析將在大會(huì)上做主題為“顆粒表面特性分析技術(shù)”的報(bào)告,精彩紛呈,,不容錯(cuò)過,。

 
 

PQ001顆粒表面特性分析儀

 

你是否還在為測量顆粒表面特性選擇何種方法所困擾?你是否還在為測量的漫長時(shí)間而煩躁,?你是否還在為測量的繁瑣過程而頭疼,?你是否還在為測量結(jié)果的準(zhǔn)確性而擔(dān)憂?恭喜你,,你不用再煩惱啦,,紐邁分析自主研發(fā)的新技術(shù)——顆粒表面特性分析技術(shù),能幫你解決這些難題,。

 

該項(xiàng)技術(shù)能在非破壞的條件下連續(xù)監(jiān)測懸浮液狀態(tài)下顆粒與溶劑之間的表面化學(xué),、親和性、潤濕性,,與傳統(tǒng)的測量技術(shù)相比,,其具有明顯的優(yōu)勢:
1.測試簡單、快速,,整個(gè)測試過程在3min內(nèi),;
2.樣品無需預(yù)處理,無需引入外部試劑,;
3.測試結(jié)果可靠且穩(wěn)定性高,、重復(fù)性好;
4.適用性廣,,可測量任何大小,、形狀的顆粒。

 

案例1:測定SiC顆粒濕式比表面積


快速直接測定SiC顆粒比表面積,,探究*研磨時(shí)間

 

顆粒表面特性分析技術(shù)適用范圍:
1,、顆粒:SiO2、SiC、ZnO,、Al2O3,、BaCO3、石墨烯,、活性炭,、炭黑等一百多種;
2,、懸浮體系溶劑類型:水,、乙醇、丁酮,、甲苯等各類含H質(zhì)子溶劑,。
功能軟件:
1、測試頁面包括測量設(shè)置區(qū)和結(jié)果顯示區(qū),,設(shè)置與測量分開,,直觀方便;
2,、軟件集成一體化,,對操作人員無特殊要求;
3,、測試過程簡單快速,,利用特定的核磁序列直接測試,穩(wěn)定性高,。

 

顆粒表面特性分析儀除了能測量懸浮液體系顆粒比表面積,,還能測試顆粒表面的其他特性,感興趣的話可以來紐邁分析展臺(tái)(14號)或者訪問紐邁分析咨詢,,而且紐邁分析有分析測試中心,,歡迎各位來樣測試。

案例2:分散劑對顆粒比表面積的影響


加入分散劑后,,比表面積顯著增加,,有利的證明了此分散劑的性能

八月,紐邁分析攜的“顆粒表面特性分析技術(shù)”,,邀您一起來“天府之國”成都,蒞臨紐邁展位(14號),,專業(yè)的應(yīng)用解決方案,,強(qiáng)大的研發(fā)生產(chǎn)能力,完善的售后服務(wù)能力,,總有一項(xiàng)能打動(dòng)您,,還有神秘禮品拿哦!

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