目錄:聚光科技(杭州)股份有限公司>>通用科學(xué)儀器>>光譜>> M5000 PLUS 全譜直讀光譜儀(AES)
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更新時(shí)間:2025-04-11 07:17:14瀏覽次數(shù):311評(píng)價(jià)
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 鋼鐵/金屬,航空航天 |
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M5000 PLUS高性能全譜型火花直讀光譜儀,基于十幾年的火花直讀光譜技術(shù),,全新推出的基于CMOS(互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)傳感器的光譜新產(chǎn)品,,專為金屬材料分析行業(yè)打造的火花直讀光譜儀,。主要為滿足金屬冶煉、鑄造加工及金屬科學(xué)研究等過程中金屬材料化學(xué)成分的分析檢測(cè),,實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)質(zhì)量控制,。
M5000 PLUS 全譜直讀光譜儀(AES)性能優(yōu)勢(shì)
科研級(jí)CMOS檢測(cè)器,全元素分析,,開創(chuàng)PPM級(jí)元素分析新紀(jì)元
噪聲低 科研級(jí)感光元件噪聲小,,抗干擾強(qiáng),具備防光暈技術(shù)
抗干擾 CMOS探測(cè)器集成度高,,可避免外部電路引入噪聲
讀取速度快 采用OEO(Optimal Element-Oriented)技術(shù),,像素信號(hào)單獨(dú)讀取,實(shí)現(xiàn)參數(shù)優(yōu)化設(shè)計(jì)
紫外響應(yīng)高 超高紫外響應(yīng)靈敏度,,無需鍍膜,,實(shí)現(xiàn)非金屬元素(N,C,S,P)分析,效果更優(yōu)
經(jīng)典雙光室設(shè)計(jì),,光譜范圍寬,,元素分辨率有保證
獨(dú)立設(shè)計(jì)的紫外光學(xué)系統(tǒng),激發(fā)臺(tái)直接采光,,專為N,、C、S,、P等紫外元素測(cè)量設(shè)計(jì),,刻線數(shù)多,分辨率高,,兼顧高分辨和譜線范圍優(yōu)勢(shì),,譜線范圍寬,分析元素多,,性能好
單獨(dú)設(shè)計(jì)的紫外光學(xué)系統(tǒng),,體積小,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,,采用多孔吹掃技術(shù),,可將空氣迅速吹掃干凈,確保元素分析效果
穩(wěn)定性升級(jí),,重新定義光學(xué)產(chǎn)品穩(wěn)定性
壓鑄鋁合金整體光室,,4級(jí)消除應(yīng)力處理
光室恒溫設(shè)計(jì),保證光譜位置長(zhǎng)期穩(wěn)定,,不漂移
氣流路的精確設(shè)計(jì),,一切為了結(jié)果更穩(wěn)定
RTMC光譜優(yōu)化技術(shù),帶來更穩(wěn)定的體驗(yàn)
全數(shù)字脈沖光源,,自動(dòng)選擇優(yōu)能量保證分析的準(zhǔn)確性與重復(fù)性
易用性升級(jí),,給用戶更簡(jiǎn)單,、高效的使用體驗(yàn)
優(yōu)質(zhì)硬件與特定算法的結(jié)合,多重穩(wěn)定保障,,更好地監(jiān)控儀器運(yùn)行狀態(tài),,提升分析效果,減少校準(zhǔn)頻率
支持全譜分析檢測(cè),,拓展性更高,。增加分析基體和元素?zé)o需增加硬件,通過軟件即可擴(kuò)展分析范圍,,使用更靈活
智能曲線功能可滿足對(duì)所有材料的分析需求,,真正實(shí)現(xiàn)未知樣品分析,無需糾結(jié)模型選擇,,操作更加簡(jiǎn)便
友好的人機(jī)交互設(shè)計(jì),,軟件主界面簡(jiǎn)潔清晰,圖形化顯示,,短時(shí)間即可學(xué)會(huì)并熟練操作軟件
新增遠(yuǎn)程維護(hù)功能,,可遠(yuǎn)程升級(jí)固件程序,遠(yuǎn)程檢查儀器狀態(tài),,對(duì)儀器生命周期健康負(fù)責(zé)
M5000 PLUS 全譜直讀光譜儀(AES)應(yīng)用領(lǐng)域
應(yīng)用于冶金,、鑄造、機(jī)械加工,、鑄造,、金屬材料科研,、航空航天,、造船、汽車,、海關(guān)檢驗(yàn),、第三方檢測(cè)等諸多領(lǐng)域。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)