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分光光度計雜散輻射率
雜散輻射率一直是分光光度測量的一個重要影響因素,，它的存在會使比爾定律產生偏移，JJG178-2007《紫外、可見、近紅外分光光度計》檢定規(guī)程中,，對不同級別的分光光度計的雜散輻射率分別進行限定：
A段雜散輻射率要求為：220nm處分別不超過0.1%、0.2%,、0.5%,、1.0%；
B段雜散輻射率要求為：360nm處分別不超過0.1%,、0.2%,，0.5%、1.0%,；420nm處分別不超過0.2%,、0.5%、1.0%,、2.0%,。
1、雜散輻射率的產生原因
雜散輻射率是指在單色光波長一定間隔（一般為五個光譜帶寬）范圍之外,，通過單色器所得到的全部輻射能,，雜散輻射率的大小，反映了出射光束的光譜純度,。
對于分光光度計而言，雜散輻射率包含了三方面的輻射能,，一是波長與測量波長相同,，但由于種種原因偏離正常光路，在不通過樣品的情況下,，直接射到光電接收器上的輻射能,；二是雖然經(jīng)過了樣品，但是由于光學系統(tǒng)色散原件及反射透射鏡的缺陷,，如不必要的反射面,、狹縫的缺陷、灰塵的散射,、光學件（如光柵,、透鏡、反射鏡等）表面的損傷,、霉斑,、準直系統(tǒng)內部或有關隔板邊緣的反射、光學系統(tǒng)的像差,、熱輻射或熒光引起的二次電子發(fā)射,、單色器內壁黑化處理不妥、不均勻色散等產生的進入光電接收器的非測量波長輻射能；三是暗盒和樣品室未蓋嚴從外部漏入的光線,。
2,、雜散輻射率對測量的影響
雜散輻射率的存在會使朗伯-比爾（Lambert-Beer）定律產生偏移。雜散輻射率是分光光度計的關鍵性技術指標,，是分析誤差的主要來源,，它決定了儀器分析樣品的濃度范圍，特別是濃度的上限,，當一臺分光光度計的雜散輻射率一定時,，被分析的試樣濃度越大，其分析誤差就越大,，它能使建立的標準曲線彎曲,。過大的雜散輻射率不但會淹沒小吸收峰，造成光譜圖線條的連續(xù)不光滑,，還會降低儀器的測量準確度,，筆者曾經(jīng)檢過雜散輻射率高達30%T的分光光度計。根據(jù)朗伯-比爾定律：
A=-lgT
如果存在雜散輻射率,，則A=-lg（T0+Ts）
T0為樣品引起的透射比值,，Ts為雜散輻射率引起的透射比值，從式中可以看出Ts越大,，T0越小,，雜散輻射率對測量的影響越大。
3,、減小和消除雜散輻射率的方法
?。?）選擇購買具有優(yōu)良光學系統(tǒng)的分光光度計，這些儀器制作精良,，能夠將固有的雜散輻射率降到zui小,，例如好的單色器雜散輻射率就比較小，光柵式單色器一般比棱鏡式好,。
?。?）儀器應放置在無振動的工作臺上，振動會使準直系統(tǒng)的零件松動,，光路位置偏移,，狹縫變大變小，從而引起雜散輻射率變大,。
?。?） 儀器應放置在粉塵小的場所，粉塵會附著在光學元件的表面,，也會通過狹縫等縫隙進入光接收器及單色器的暗盒,，降低單色光的能量,、增加光的散射，引起雜散輻射率變大,。
?。?） 儀器應放置在干燥的場所，潮濕會使光學元件表面發(fā)霉受腐蝕,，引起雜散輻射率變大,。
（5）確保暗盒和樣品盒的密封性,，防止不必要的光線進入光電接收器,。
（6）對于雜散輻射率已經(jīng)超差的儀器,，首先應該對光學元件特別是單色器進行處理,，根據(jù)筆者十多年的工作經(jīng)驗，90%以上的雜散輻射率超差都是因為粉塵和潮濕引起的,，特別是在飼料廠,、冶金廠等單位使用的儀器。然后用電吹風吹干,，對單色器出射孔的保護玻璃尤其要清洗干凈,，這片玻璃的散射對雜散輻射率影響zui大。其次,，暗盒內表面銹蝕剝落,、損傷也要及時處理，防止不必要的反射,。zui后,，光源的位置要調整到*狀態(tài)，光源的光線經(jīng)準直鏡后,，與光軸平行完整地進入光孔，也是有效減少雜散輻射率的手段之一,。