(1) 激光法：優(yōu)點：操作簡便,，測試速度快,，測試范圍大，重復性和準確性好,，可實現在線測量和干法測量,。缺點：分辨力較低。
(2) 動態(tài)圖像法：優(yōu)點：操作簡便,、拍攝與分析速度快,、重復性和準確性好，可測量大顆粒,，可進行圓形度,、長徑比等形貌分析。缺點：不能分析細顆粒（如<2μm）,，儀器成本較高,。
(3) 靜態(tài)圖像法：優(yōu)點：成本較低、圖像清晰,、可進行圓形度,、長徑比等形貌分析。 缺點：操作復雜,，分析速度慢,，無法分析細顆粒（如<2μm）。
(4) 電鏡法：優(yōu)點：能分析納米顆粒和超細顆粒粒度和形貌,，圖像清晰,，表面紋理可見，分辨率高,，是表征納米顆粒粒度的標準方法,。缺點：代表性差、儀器價格昂貴,。
(5) 光阻法：優(yōu)點：測試速度快,，可測液體或氣體中低濃度顆粒數，分辨力高,，樣品用量少,。缺點：進樣系統(tǒng)比較復雜,，不適用粒徑<1μm 的樣品。
(6) 電阻法：優(yōu)點：操作簡便,，可測顆粒數,，等效概念明確，速度快,，準確性好,。缺點：不適合測量超細樣品和寬分布樣品，維護時更換小孔管比較麻煩,。
(7) 沉降法：優(yōu)點：操作簡便,，儀器可以連續(xù)運行，價格較低,，測試范圍較大,。缺點：測試時間較長，操作復雜,。
(8) 篩分法：優(yōu)點：簡單,、直觀、設備造價低,，常用于大于38μm（400目）的樣品,。缺點：不能用于超細樣品；結果受人為因素和篩孔變形 影響較大,。
(9) 動態(tài)光散射法：優(yōu)點：測試范圍寬（從納米到亞微米）,、測試速度快，重復性好,，操作簡便,。缺點：測試寬分布的納米材料誤差及較大。
(10) 超聲波法：優(yōu)點：可對高濃度漿料直接現場測量,，無需稀釋樣品,。 缺點：分辨率較低，準確性和重復性較差,，結果受環(huán)境因素影響較大,。
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