(1) 激光法:優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便,,測(cè)試速度快,,測(cè)試范圍大,重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,,可實(shí)現(xiàn)在線測(cè)量和干法測(cè)量,。缺點(diǎn):分辨力較低。
(2) 動(dòng)態(tài)圖像法:優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便、拍攝與分析速度快,、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,,可測(cè)量大顆粒,可進(jìn)行圓形度,、長(zhǎng)徑比等形貌分析,。缺點(diǎn):不能分析細(xì)顆粒(如 <2μm),儀器成本較高,。
(3) 靜態(tài)圖像法:優(yōu)點(diǎn):成本較低,、圖像清晰、可進(jìn)行圓形度,、長(zhǎng)徑比等形貌分析,。 缺點(diǎn):操作復(fù)雜,分析速度慢,,無(wú)法分析細(xì)顆粒(如 <2μm),。
(4) 電鏡法:優(yōu)點(diǎn):能分析納米顆粒和超細(xì)顆粒粒度和形貌,圖像清晰,,表面紋理可見(jiàn),,分辨率高,是表征納米顆粒粒度的標(biāo)準(zhǔn)方法,。缺點(diǎn):代表性差,、儀器價(jià)格昂貴。
(5) 光阻法:優(yōu)點(diǎn):測(cè)試速度快,,可測(cè)液體或氣體中低濃度顆粒數(shù),,分辨力高,樣品用量少,。缺點(diǎn):進(jìn)樣系統(tǒng)比較復(fù)雜,,不適用粒徑 <1μm 的樣品。
(6) 電阻法:優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便,,可測(cè)顆粒數(shù),,等效概念明確,速度快,,準(zhǔn)確性好,。缺點(diǎn):不適合測(cè)量超細(xì)樣品和寬分布樣品,維護(hù)時(shí)更換小孔管比較麻煩,。
(7) 沉降法:優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便,,儀器可以連續(xù)運(yùn)行,價(jià)格較低,,測(cè)試范圍較大,。缺點(diǎn):測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng),操作復(fù)雜。
(8) 篩分法:優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單,、直觀,、設(shè)備造價(jià)低,常用于大于38μm(400目)的樣品,。缺點(diǎn):不能用于超細(xì)樣品,;結(jié)果受人為因素和篩孔變形 影響較大。
(9) 動(dòng)態(tài)光散射法:優(yōu)點(diǎn):測(cè)試范圍寬(從納米到亞微米),、測(cè)試速度快,,重復(fù)性好,操作簡(jiǎn)便,。缺點(diǎn):測(cè)試寬分布的納米材料誤差及較大,。
(10) 超聲波法:優(yōu)點(diǎn):可對(duì)高濃度漿料直接現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量,無(wú)需稀釋樣品,。 缺點(diǎn):分辨率較低,,準(zhǔn)確性和重復(fù)性較差,結(jié)果受環(huán)境因素影響較大,。
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