激光粒度儀測(cè)量粒度的原理是米氏散射理論。米氏散射理論用數(shù)學(xué)語(yǔ)言描述折射率為 n,、吸收率為 m,、粒徑為 d 的球形顆粒,在波長(zhǎng)為 λ 的激光照射下,,散射光強(qiáng)度隨散射角 θ 變化的空間分布函數(shù),,此函數(shù)也稱(chēng)為散射譜。
根據(jù)米氏散射理論,,大顆粒的前向散射光很強(qiáng)而后向散射很弱,;小顆粒的前向散射光弱而后向散射光很強(qiáng)。如圖所示的是固定波長(zhǎng)下的大,、中,、小顆粒的散射譜示意圖。激光粒度儀正是通過(guò)設(shè)置在不同散射角度的光電探測(cè)器陣列測(cè)這些散射譜來(lái)確定顆粒粒徑的大小,。對(duì)于特定顆粒,,這種散射譜在空間具有穩(wěn)定分布的特征,因此稱(chēng)此種原理的激光粒度儀又稱(chēng)為靜態(tài)激光粒度儀,。
根據(jù)米氏散射理論,,當(dāng)顆粒粒徑小到一定程度(如小于波長(zhǎng) 的 1/10 左右)時(shí),光強(qiáng)分布變成了兩個(gè)相近似對(duì)稱(chēng)的圓(圖 1(1) d<<λ),,此時(shí)稱(chēng)為瑞利散射,。產(chǎn)生瑞利散射的大粒徑就是激光粒度儀的測(cè)試下限。激光粒度儀的測(cè)試下限還與激光波長(zhǎng)有關(guān),,激光波長(zhǎng)越長(zhǎng)測(cè)試下限越大,,波長(zhǎng)越短測(cè)試下限小。研究表明,,具有同時(shí)測(cè)量前向和后向散射光技術(shù),,同時(shí)具有差分散射譜識(shí)別技術(shù)的激光粒度儀,在用紅光(波長(zhǎng)為 635nm)做為光源時(shí)的測(cè)量極限為20nm,,用綠光(波長(zhǎng)為 532nm)時(shí)的測(cè)量極限為 10 nm,。
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