集結(jié)技術(shù),,突破核心 | 賽默飛助力集成電路行業(yè)發(fā)展
關注我們,,更多干貨和驚喜好禮7月28日,賽默飛世爾科技聯(lián)合上海市計量測試技術(shù)研究院電子化學品平臺在上海共同舉辦“集結(jié)技術(shù),,突破核心——2020年集成電路行業(yè)發(fā)展與分析技術(shù)研討會”圓滿結(jié)束,。業(yè)內(nèi)一線專業(yè)大咖及行業(yè)技術(shù)精英100余人共同探討集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展的挑戰(zhàn)與機遇,一覽前沿創(chuàng)新技術(shù),,探索突破核心方案,。
集結(jié)技術(shù) 一覽重磅大咖的行業(yè)深度
集成電路是信息產(chǎn)業(yè)基礎,是構(gòu)筑大國競爭力的核心產(chǎn)品,。如何在多變市場環(huán)境下逆勢上揚,,突破關鍵核心技術(shù),維護產(chǎn)業(yè)鏈安全,,確保供應鏈完整,,已成為國家在產(chǎn)業(yè)布局方面的重要戰(zhàn)略考量。
本次研討會有幸邀請到上海市計量測試技術(shù)研究院電子化學品平臺的資深專家,,以及來自上海,,峨眉和青海的半導體檢測專家,為在場的與會者分享寶貴經(jīng)驗,。
五位專家提及的不論是實驗室的檢測操作需求,,還是集成電路的檢測發(fā)展趨勢,對分析儀器有穩(wěn)定可靠,,智能靈活,,適應性強,信息量大等需求,。對此,,賽默飛可根據(jù)客戶需求,提供完善解決方案,。
突破核心 賽默飛集成上下游的分析檢測方案
差異化方案
賽默飛完善的產(chǎn)品組合滿足產(chǎn)業(yè)鏈從無機到有機ppt級分析要求
Dionex ICS-6000 HPIC高壓離子色譜系統(tǒng):*半導體中ppt 級超純水,、ppb 及ppm 級高純試劑中痕量陰陽離子雜質(zhì)以及% 級混酸含量測定等分析對儀器耐用性和快速分析性能要求。
iCAP™ TQ ICP-MS: 可實現(xiàn)低至1ppt無機雜質(zhì)元素分析,。標配4路碰撞反應氣體,,*消除多原子離子干擾,;標配有機加氧裝置,可直接分析半導體行業(yè)的有機試劑,。
GC1300氣相色譜,,ISQ7000單四極桿氣質(zhì)聯(lián)用儀:用于半導體中超潔凈室中超痕量VOCs的監(jiān)測、電子特氣痕量雜質(zhì)分析等應用需求,,滿足靈敏度,、穩(wěn)定性及可靠性的要求。
前瞻性技術(shù)
借助Element 2 HR-ICP-MS和Element GD Plus GD-MS高分辨能力(高分辨率可達10000),,可區(qū)分質(zhì)量數(shù)小于0.01 amu的質(zhì)譜干擾,真正實現(xiàn)無干擾分析,,并減少復雜的樣品制備和方法開發(fā)過程,。
Element XR HR-ICP-MS高分辨電感耦合等離子體質(zhì)譜儀:高純試劑、高純材料,、高純氣體中痕量元素準確定量,。
兼容性
賽默飛變色龍軟件可以兼容市面上幾乎絕大多數(shù)的色譜分析類產(chǎn)品,從而使用戶更容易上手不同的設備,,如賽默飛變色龍軟件可以直接控制熱脫附產(chǎn)品,;除此之外,賽默飛的設備也可以與在線集成商合作,,從而實現(xiàn)在線IC,、在線ICPMS等在線實時監(jiān)控的成熟方案。
Element GD Plus GD-MS 輝光放電質(zhì)譜儀:高純固體樣品直接分析,,大化減少樣品處理步驟,,降低沾污風險。
兼容性
賽默飛變色龍軟件可以兼容市面上幾乎絕大多數(shù)的色譜分析類產(chǎn)品,,從而使用戶更容易上手不同的設備,,如賽默飛變色龍軟件可以直接控制熱脫附產(chǎn)品;除此之外,,賽默飛的設備也可以與在線集成商合作,,從而實現(xiàn)在線IC、在線ICPMS等在線實時監(jiān)控的成熟方案,。
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