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膜厚儀在不同環(huán)境下的影響因素說明
閱讀：896 發(fā)布時(shí)間：2022-9-19
膜厚儀是一種非接觸式的儀器，在整個(gè)使用過程中*不用擔(dān)心會對產(chǎn)品造成損壞,，也*不用擔(dān)心會對人體造成輻射,。擁有非常廣泛的應(yīng)用范圍。
膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說明：
1,、基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響,，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
2、基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響,，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān),。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
3,、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度,。大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響,。
4,、邊緣效應(yīng)
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的,。
5,、曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大,。因此,，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
6,、試件的變形
測量頭會使軟覆蓋層試件變形,，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
7,、表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響,。粗糙程度增大，影響增大,。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,，每次測量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù),，以克服這種偶然誤差,。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn);或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,，再校對儀器的零點(diǎn),。
8、磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場,，會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作,。
9、附著物質(zhì)
本儀器對那些妨礙測量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,，因此,，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測量頭和被測試件表面直接接觸,。
10,、測量頭壓力
測量頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù),，因此，要保持壓力恒定,。
11,、測量頭的取向
測量頭的放置方式對測量有影響。在測量中,，應(yīng)當(dāng)使測量頭與試樣表面保持垂直,。
其實(shí)任何一種設(shè)備儀器都會有影響誤差，尤其對于比較精密的儀器,，所有不當(dāng)?shù)牟僮鞫加锌赡芙o它帶來很大的影響,，提高專業(yè)素養(yǎng)是避免不當(dāng)操作的關(guān)鍵。