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銅厚測試儀測試的原理
閱讀：5215 發(fā)布時間：2021-7-23
銅厚測試儀可用于測量孔內(nèi)鍍銅厚度和表面銅測量,，擁有非常高的多功能性,，它集快速精確,、簡單易用,、質(zhì)量可靠等優(yōu)勢于一體,，同時它也是專為測量剛性及柔性,、單層,、雙層或多層印刷電路板上的電鍍銅測量而設(shè)計。
銅厚測試儀檢測銅箔厚度主要有兩種方法：一是物理破壞法,，線路板邊角切塊,，使用顯微鏡測量，時間較長,，切了就意味著報廢,；二是使用面銅測厚儀進(jìn)行測量，精準(zhǔn)可靠,，操作也簡單,。銅膜厚度量測，可分為破壞及非破壞性兩種,。至于非破壞性測試法比較常見的有兩種,，一種是電阻式測量設(shè)備，主要的理論基礎(chǔ)是利用截面積愈大電阻愈小的原理檢測,。至于電路板孔銅部分,，則利用渦電流或電阻值法檢測厚度。另一種方式則是用X-ray進(jìn)行厚度測量,，這類測量法必須限定范圍,，且需要有專用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行程序建立與校正，限制會略多一點,。
銅厚測試儀測試原理：
庫侖法：利用適當(dāng)?shù)碾娊庖宏枠O溶解精確限定面積的覆蓋層,，電解池電壓的急劇變化表明覆蓋層實質(zhì)上*溶解，經(jīng)過所耗的電量計算出覆蓋層的厚度,。因陽極溶解的方法不同,，被測量覆蓋層的厚度所耗的電量也不同。用恒定電流密度溶解時,，可由試驗開始到試驗終止的時間計算;用非恒定電流密度溶解時,，由累積所耗電量計算，累積所耗電量由電量計累計顯示,。
金相法：利用金相顯微鏡原理,，對鍍層厚度進(jìn)行放大，以便準(zhǔn)確的觀測及測量,。
X-ray 方法：X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強(qiáng)烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用,。此相互作用產(chǎn)生離散波長和能量的二次輻射,，這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量(若密度已知,，則為覆蓋層線性厚度)和二次輻射強(qiáng)度之間存在一定的關(guān)系,。該關(guān)系首先由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標(biāo)準(zhǔn)塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知,，同時又給出實際的密度,，則這樣的標(biāo)準(zhǔn)塊就能給出覆蓋層線性厚度。