可程式高低溫試驗(yàn)箱是各行業(yè)必須的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備,主要適用于測(cè)試和確定電子電工,、材料及其他產(chǎn)品在進(jìn)行高溫、低溫或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能,。(簡(jiǎn)單定義為:檢測(cè)產(chǎn)品是否耐高溫,、低溫或恒定試驗(yàn))目前生產(chǎn)廠家繁多,,在計(jì)量時(shí)廣大客戶應(yīng)注意以下幾個(gè)事項(xiàng):
一、高低溫試驗(yàn)箱的計(jì)量項(xiàng)目,、方法,、計(jì)算
A、計(jì)量特性:溫濕度偏差,、溫濕度波動(dòng)度,、溫濕度均勻性
B、名詞解釋:a,、均勻度:環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下,,工作空間某一時(shí)刻各測(cè)試點(diǎn)(溫濕度)之間的差異。(簡(jiǎn)單定義為:點(diǎn)與點(diǎn)之間的溫差)b,、波動(dòng)度:環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下,,工作空間中心點(diǎn)參數(shù)隨時(shí)間的變化量。(簡(jiǎn)單定義為:一個(gè)點(diǎn)的跳動(dòng)值)c,、偏差:設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下,,工作空間各測(cè)量點(diǎn)的實(shí)測(cè)zui高值和實(shí)測(cè)zui低值與標(biāo)稱值的上下偏差。
C,、計(jì)量方法:
1,、計(jì)量在空載條件下進(jìn)行。若帶有負(fù)載,,應(yīng)在證書中說明負(fù)載情況,。
2、計(jì)量濁濕度點(diǎn)一般應(yīng)選擇設(shè)備使用范圍的上限,、下限及中心點(diǎn),,也可根據(jù)用戶需要選擇實(shí)際常用的溫濕度點(diǎn)
3、計(jì)量點(diǎn)的位置:設(shè)備容積小于2m3時(shí),,溫度點(diǎn)9個(gè),,濕度點(diǎn)3個(gè)設(shè)備容積大于2m3,溫度點(diǎn)15個(gè),,溫度點(diǎn)4個(gè)
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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