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各種常用粒度測(cè)試方法各有那些優(yōu)缺點(diǎn)
(1) 激光法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，測(cè)試速度快,，測(cè)試范圍大,，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可實(shí)現(xiàn)在線測(cè)量和干法測(cè)量,。缺點(diǎn)：結(jié)果受分布模型影響較大,，儀器造價(jià)較高。
(2) 動(dòng)態(tài)圖像法：由顯微鏡,、高速攝像機(jī),、樣品分散系統(tǒng)、控制系統(tǒng)以及高速圖像分析軟件組成,。優(yōu)點(diǎn)：顆粒圖像直觀清晰,，操作簡(jiǎn)便、拍攝與分析速度快,、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,，可干法也可濕法,，可測(cè)量zui大顆粒，可進(jìn)行圓形度,、長(zhǎng)徑比等形貌分析,。缺 點(diǎn)：分析細(xì)顆粒（如-2 μm ）圖像不清晰，誤差較大,，成本較高,。
(3) 靜態(tài)圖像法：由顯微鏡、攝像機(jī)和圖像分析軟件組成,。優(yōu)點(diǎn)：成本較低,，操作簡(jiǎn)單，圖像清晰,、可進(jìn)行圓形度,、長(zhǎng)徑比等形貌分析。缺點(diǎn)：分析速度慢,，無(wú)法分析細(xì) 顆粒（如-2 μm ）,。
(4) 電鏡法：用電子顯微鏡（掃描電鏡或透射電鏡）拍攝顆粒圖像，然后再進(jìn)行圖像 分析的方法,。優(yōu)點(diǎn)：能分析納米顆粒和超細(xì)顆粒,，圖像清晰，表面紋理可見(jiàn),，分辨率高,，是表征納米材料粒度的標(biāo)準(zhǔn)方法。缺點(diǎn)：?jiǎn)畏鶊D像中的顆粒數(shù)少,、代表性差,、儀器價(jià)格昂貴。
(5) 光阻法：優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試速度快,，可測(cè)液體或氣體中顆粒數(shù),，分辨力高，樣品用量少,。缺點(diǎn)：進(jìn)樣系統(tǒng)比較復(fù)雜,，不適用粒徑<1μm 的樣品。
(6) 電阻法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便,，可測(cè)顆粒數(shù),，等效概念明確，速度快,，準(zhǔn)確性好,。缺點(diǎn)：不適合測(cè)量超細(xì)樣品和寬分布樣品，更換小孔管比較麻煩,。
(7) 沉降法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便,，儀器可以連續(xù)運(yùn)行,，價(jià)格較低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好,，測(cè)試范圍較大。缺點(diǎn)：測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng),，操作較復(fù)雜,，結(jié)果易受環(huán)境因素影響。
(8) 篩分法：優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單,、直觀,、設(shè)備造價(jià)低，常用于大于 38 μm （400 目）的樣品,。缺點(diǎn)：不能用于超細(xì)樣品,；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
(9) 動(dòng)態(tài)光散射法：動(dòng)態(tài)光散射法是測(cè)試納米材料粒度分布的常用方法,。首先將納米顆粒放到合適的液體（通常為純凈水）中制成懸浮液,，懸浮液中的納米顆粒由于受到 水分子熱運(yùn)動(dòng)（布朗運(yùn)動(dòng)）的碰撞而進(jìn)行不規(guī)則運(yùn)動(dòng)。當(dāng)一束水平偏振的激光照射到這些顆粒上時(shí),，會(huì)在引起的散射光強(qiáng)的瞬間變化,。這些瞬間變化的散射光信號(hào)的幅度、頻率等特征與顆粒大小有關(guān),，對(duì)這些信號(hào)進(jìn)行相關(guān)運(yùn)算就可以得到呢米顆粒的粒度分布了,。優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試范圍寬（從納米到微米）、測(cè)試速度快,，重復(fù)性好,，操作簡(jiǎn)便。缺點(diǎn)：測(cè)試寬分布的納米材料誤差及較大,。
(10)超聲波法：優(yōu)點(diǎn)：可對(duì)高濃度漿料直接現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量,，無(wú)需取樣。缺點(diǎn)：分辨率較低,，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較差,，結(jié)果受環(huán)境因素影響較大。
(11)透氣法（費(fèi)氏法）：優(yōu)點(diǎn)：儀器價(jià)格低,，不用對(duì)樣品進(jìn)行分散,，可直接測(cè)量干粉，可測(cè)磁性材料粉體,。缺點(diǎn)：只能得到平均粒度值,，不能測(cè)粒度分布。
