綜合熱分析儀主要是測量熱物性值中熱滲透率的一種設(shè)備,，可以進行微小領(lǐng)域（微米等級）、納米薄膜、Sic（單晶體、多晶體）、AIN等的測量,。熱分析儀檢測設(shè)備利用激光對樣品進行調(diào)制循環(huán)加熱、通過紅外線放射量的變化,，將樣品內(nèi)部異常部分的檢測或不均勻性的熱特性可視化,。內(nèi)載紅外宏觀光學系照相機，可高倍率觀察,。并且,，使用樣品加熱器的熱傳播檢查和簡易溫度測量都可以進行。

　　綜合熱分析儀的原理：

　　消除稱重量,、樣品均勻性,、升溫速率一致性、氣氛壓力與流量差異等因素影響,，TG與DTA/DSC曲線對應性更佳,。根據(jù)某一熱效應是否對應質(zhì)量變化，有助于判別該熱效應所對應的物化過程(如區(qū)分熔融峰,、結(jié)晶峰,、相變峰與分解峰、氧化峰等),。在反應溫度處知道樣品的當前實際質(zhì)量,，有利于反應熱焓的準確計算。

　　產(chǎn)品不僅波長連續(xù)自動可調(diào),，而且精度大幅提高,，從傳統(tǒng)元素分析儀的波長誤差一般20nm(±5nm)提高到現(xiàn)在的3nm，因而可以使產(chǎn)品在擴大應用范圍的同時,，提高分析檢測的準確度,?？蓹z測普碳鋼,、低合金鋼、高合金鋼,、生鑄鐵,、球鐵、合金鑄鐵等多種材料中的Si,、Mn,、P,、Cr、Ni,、Mo,、Cu、Ti等多種元素,。每個元素可儲存99條工作曲線,，品牌電腦微機控制,全中文菜單式操作?？梢詽M足冶金,、機械、化工等行業(yè)在爐前,、成品,、來料化驗等方面對材料多元素分析的需要。

　　綜合熱分析儀檢測設(shè)備特點

　　1,、熱分析儀熱物理性顯微鏡是測量熱物性值中熱滲透率的一種設(shè)備,；

　　2、熱分析儀檢測設(shè)備可以通過點,、線,、面測量樣品的熱物性；

　　3,、該設(shè)備可以測量以往難以測量的微米等級的熱物性值的分布,；

　　4、非接觸方式且高分辨率的熱物性測量設(shè)備,；

　　5,、檢測光spot直徑3μm、高分辨率來測量微小領(lǐng)域的熱物性（點,、線,、面  測量）；

　　6,、因為可改變深度范圍來測量,，所以從薄膜、多層膜到散裝材料都可測量,；

　　7,、 基板上的樣品也可測量；

　　8,、 熱分析儀激光非接觸式測量,；

　　9、可檢測薄膜下的裂紋,、孔隙,、脫落等問題,。