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參考價: ￥ 2999

訂貨量: ≥1 臺

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產(chǎn)品型號TFW-100

品牌其他品牌

廠商性質代理商

所在地蘇州市

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更新時間：2025-06-21 17:13:47瀏覽次數(shù)：54次

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產(chǎn)品分類品牌分類

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別	進口	應用領域	綜合

LAMBDA拉姆達日本光譜膜厚儀分光膜厚測量
分光膜厚測量 TFW-100（1）/（2）/（3）
這是工業(yè)領域的低成本光譜膜厚測量設備。
由于它是非接觸式和非破壞性的,，因此可以在短時間內(nèi)輕松測量而不會損壞樣品,。
它廣泛用于研發(fā)和在線質量控制中的膜厚測量,。
以低廉的價格實現(xiàn)了高精度和高穩(wěn)定性,。

詳情介紹

LAMBDA拉姆達日本光譜膜厚儀分光膜厚測量

分光膜厚測量 TFW-100（1）/（2）/（3）

這是工業(yè)領域的低成本光譜膜厚測量設備。

由于它是非接觸式和非破壞性的,，因此可以在短時間內(nèi)輕松測量而不會損壞樣品,。

它廣泛用于研發(fā)和在線質量控制中的膜厚測量。

以低廉的價格實現(xiàn)了高精度和高穩(wěn)定性,。

LAMBDA拉姆達日本光譜膜厚儀分光膜厚測量 <特點>
?可進行非接觸式,、非破壞性的膜厚測量。
?厚度為 10nm~1000μm,，可支持多達 3 層的膜厚測量,。
?不僅可以測量薄膜厚度，還可以測量光學倍增器（n,、k）,。
（最多 3 個參數(shù)）
? 與微小點兼容。
?還可以測量彩色濾光片顏料膜的厚度,。
■ 規(guī)格

類型	TFW-100型（1）	TFW-100型（2）	TFW-100型（3）
用	用于 ITO 等薄膜	一般用于薄膜厚度	彩色濾鏡顏料用于薄膜厚度
測量的薄膜厚度	數(shù)量：10nm ~ 500nm （C/F）,， 500nm ~ 15μm （FFT）	150nm~1.5μm（C/F） 1.5μm~60μm（FFT）	500nm~10μm（C/F）
測量可重復性	0.2%~1%（取決于薄膜質量）
測量波長	300納米~1000納米	400 納米~700 納米	900納米~1600納米
光源	12V-100W 鹵素燈
測量軟件	TF-Lab （曲線擬合 / FFT）