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當(dāng)前位置:美薩科技(蘇州)有限公司>>科學(xué)儀器>>HORIBA堀場(chǎng)>> HORIBA堀場(chǎng)UVISEL PLUSHORIBA堀場(chǎng)高穩(wěn)定性橢圓偏振光譜儀
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)HORIBA堀場(chǎng)UVISEL PLUS
品 牌HORIBA/堀場(chǎng)
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地蘇州市
更新時(shí)間:2025-06-24 15:51:50瀏覽次數(shù):36次
聯(lián)系我時(shí),,請(qǐng)告知來自 化工儀器網(wǎng)HORIBA堀場(chǎng)熒光壽命測(cè)試系統(tǒng)
HORIBA堀場(chǎng)經(jīng)濟(jì)實(shí)惠熒光光譜儀
HORIBA堀場(chǎng)熒光光譜儀簡(jiǎn)單易行
應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,制藥/生物制藥,汽車及零部件 |
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HORIBA堀場(chǎng)高穩(wěn)定性橢圓偏振光譜儀
UVISEL Plus橢圓偏振光譜儀為優(yōu)良薄膜,、表面和界面表征提供了模塊化和性能的優(yōu)化組合。
UVISEL Plus作為一款高準(zhǔn)確性,、高靈敏度,、高穩(wěn)定性的經(jīng)典橢偏機(jī)型,它采用了PEM 相位調(diào)制技術(shù),,與機(jī)械旋轉(zhuǎn)部件技術(shù)相比,, 能提供更好的穩(wěn)定性和信噪比。光譜范圍從190nm到2100nm,。
UVISEL Plus集成了全新的FastAcqTM快速采集技術(shù),,可在3分鐘以內(nèi)實(shí)現(xiàn)高分辨的樣品測(cè)試(190-2100 nm),校準(zhǔn)僅需幾分鐘,?;谌碌碾娮釉O(shè)備,數(shù)據(jù)處理和高速單色儀,,F(xiàn)astAcq技術(shù)能夠?yàn)橛脩籼峁└叻直婕翱焖俚臄?shù)據(jù)采集,。FastAcq專門為薄膜表征設(shè)計(jì),雙調(diào)制技術(shù)可以確保您獲得優(yōu)異的測(cè)試結(jié)果,。
HORIBA堀場(chǎng)高穩(wěn)定性橢圓偏振光譜儀相位調(diào)制技術(shù)的特點(diǎn)為高頻調(diào)制 50 kHz,,信號(hào)采集過程無移動(dòng)部件:
測(cè)試全范圍的橢偏角,,Ψ (0-90),,Δ (0-360)
從FUV到NIR具有優(yōu)良的信噪比
數(shù)據(jù)采集速度快,,高達(dá)50毫秒/點(diǎn),是動(dòng)力學(xué)研究和在線測(cè)量的理想選擇
相比于采用 旋轉(zhuǎn)元件調(diào)制的傳統(tǒng)橢圓偏振光譜儀,,UVISEL Plus的相位調(diào)制模式在表征薄膜方面具有更高的靈敏度和精度,。它不僅可以探測(cè)到其他橢偏儀無法觀測(cè)到的極薄膜或界面,還可以表征50µm的厚膜,。
在測(cè)試有背反射的透明樣品時(shí),,測(cè)試簡(jiǎn)單、準(zhǔn)確,,無需刮花背面,。
UVISEL Plus還設(shè)計(jì)有多種附件及可選功能,便于客戶根據(jù)應(yīng)用需求及預(yù)算選擇合適的配置,。比如,,微光斑用于圖案樣品、自動(dòng)變角器,、自動(dòng)樣品臺(tái)等,。
UVISEL Plus采用模塊化設(shè)計(jì),可靈活擴(kuò)展,。即可用于離線臺(tái)式測(cè)量,,也可以耦合于鍍膜設(shè)備做在線監(jiān)控。
UVISEL Plus可根據(jù)習(xí)慣選擇操作界面,,一個(gè)是 DeltaPsi2 具有建模和擬合處理功能,;另一個(gè)是 Auto-Soft 用戶導(dǎo)向的全自動(dòng)樣品測(cè)試界面 ,工作流程直觀,,易于非專業(yè)人士操作,。
UVISEL Plus搭載FastAcq技術(shù)是材料研究和加工、平板顯示,、微電子和光伏領(lǐng)域中優(yōu)選通用光譜型橢偏儀,。
UVISEL Plus是材料科學(xué)研究的理想工具。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
高精度和高靈敏度
模塊化設(shè)計(jì)
寬光譜范圍: 190-2100 nm
集數(shù)據(jù)測(cè)量,、建模和自動(dòng)化操作為一體的軟件包
獲得的信息
膜層厚度,,從1?到50 µm
表面和界面粗糙度
光學(xué)常數(shù) (n,k) ,適用于各向同/異性和漸變層
光學(xué)特性如:吸收系數(shù)α, 光學(xué)帶隙Eg
材料性能:合金成分,、孔隙率,、結(jié)晶度及形貌等
穆勒矩陣
退偏
各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風(fēng)扇)、AND愛安得(電子天平),、SAN-EI三英(點(diǎn)膠閥) HOYA光源,KURABO脫泡機(jī),USHIO牛尾照度計(jì),Tsubosaka壺坂電機(jī),IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機(jī),lambda拉姆達(dá)膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚(膜厚儀,、粒度儀),Hitachi日立(掃描電鏡),MIKASA米卡薩(旋涂設(shè)備、顯影),、POLARION普拉瑞,、AITEC艾泰克(檢查光源),、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子(光學(xué)膜厚儀),、KOSAKA小坂(臺(tái)階儀),、HORIBA堀場(chǎng)儀器(分析儀)、SIBATA柴田科學(xué)(環(huán)境測(cè)定),、TORAY東麗濃度儀(氧氣分析儀),、yamada山田鹵素強(qiáng)光燈、CEDAR思達(dá)
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