HORIBA堀場高分辨微區(qū)X射線熒光分析儀

• <15µm 超高強(qiáng)度X射線頭,，兼具高靈敏度和高空間分辨率

• 高分辨相機(jī)和多種照明模式成像

• 雙檢測器！熒光X射線檢測器和透射X射線檢測器

• 輕元素檢測器使元素檢測范圍下延到C元素

HORIBA堀場高分辨微區(qū)X射線熒光分析儀XGT-9000 以其精心設(shè)計(jì)的激發(fā)系統(tǒng)保證性能和靈活性,，X射線發(fā)生器具有高達(dá) 50 kV 和 1000 µA 的高輸出,。 此外可以通過我們多樣化的X射線頭提供多種尺寸（10μm - 1.2mm）的激發(fā)用初級(jí) X 射線，其中就包括超高強(qiáng)度X射線頭（probe）,，以實(shí)現(xiàn)快速測量,。
XGT-9000 樣品倉可容納各種樣品,，包括微型碎片、印刷電路板,、硬幣,、薄片、粉末,、液體,、晶圓，并根據(jù)需求提供各種樣品架,，此外最多可以選擇 4 種測量環(huán)境來提高靈敏度,。

功能強(qiáng)大的XGT 9000 軟件，包括全面完整的基本測試功能,，如單點(diǎn)測試,、多點(diǎn)測試、線分析和Mapping測試等,。除了基本測試功能外,，還可以在軟件套件中添加高級(jí)模塊，以提供更豐富的用戶體驗(yàn),。

• 多層FPM模塊可以進(jìn)行厚度測試,，有無標(biāo)樣都可以進(jìn)行

• RoHS檢測模塊用于RoHS要求的有害元素篩查

• 隊(duì)列模塊自動(dòng)進(jìn)行多區(qū)域自動(dòng)測試

• 顆粒搜尋模塊可以進(jìn)行顆粒分析以及原位分析

• LabSpec Link模塊，將數(shù)據(jù)導(dǎo)入到LabSpec 6以進(jìn)行多變量分析

各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風(fēng)扇),、AND愛安得（電子天平）,、SAN-EI三英(點(diǎn)膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機(jī),USHIO牛尾照度計(jì),Tsubosaka壺坂電機(jī),IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機(jī),lambda拉姆達(dá)膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設(shè)備,、顯影）、POLARION普拉瑞,、AITEC艾泰克（檢查光源）,、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子（光學(xué)膜厚儀）,、KOSAKA小坂（臺(tái)階儀）,、HORIBA堀場儀器（分析儀）、SIBATA柴田科學(xué)（環(huán)境測定）,、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）,、yamada山田鹵素強(qiáng)光燈、CEDAR思達(dá)