HORIBA堀場高靈敏度X 射線熒光分析儀

多年以來,，HORIBA銷售的EDXRF分析儀和XGT-WR系列為客戶提供RoHS, ELV和無鹵檢測,，對含有害元素如Pb、Cd,、Hg,、Br等的樣品進行篩選式測量,。如今在世界范圍內(nèi)已廣泛使用。

基于大量客戶的要求,，HORIBA憑借長期的經(jīng)驗開發(fā)出全新的EDXRF分析裝置MESA-50,。它將為您提供友好的操作界面和優(yōu)異的使用性能。MESA-50具有三種尺寸的準直器可用于各種大小的樣品,，從細長的電線,、微小的電子器件到大型的樣品。

結(jié)合SDD檢測器和HORIBADPP處理器,，MESA-50將為您帶來EDXRF的全新體驗,。MESA-50是HORIBA全新的生態(tài)采購支持儀器，不僅適用歐洲的RoHS,，ELV,，也適用于其他地區(qū)的各種法規(guī)。

HORIBA堀場高靈敏度X 射線熒光分析儀

1. 快速

• 硅漂移檢測器(SDD) 大幅度減少了測量時間,，在高通量的同時提供了更高的靈敏度

2. 小巧

• 便攜,、體積小、重量輕

• 內(nèi)部電池供電

3. 簡單

• 減少日常維護工作（無需液氮）

• 無需真空泵

• 各種材料測量直觀簡單

4.智能

• 英文/日文/中文多語言操作界面

• Excel® 數(shù)據(jù)管理工具

5. 安全

• 無需擔心 X 射線泄漏

各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風扇),、AND愛安得（電子天平）,、SAN-EI三英(點膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機,USHIO牛尾照度計,Tsubosaka壺坂電機,IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機,lambda拉姆達膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設備,、顯影）,、POLARION普拉瑞、AITEC艾泰克（檢查光源）,、Iwasaki巖崎,、OTSUKA大塚電子（光學膜厚儀）、KOSAKA小坂（臺階儀）,、HORIBA堀場儀器（分析儀）、SIBATA柴田科學（環(huán)境測定）,、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）,、yamada山田鹵素強光燈、CEDAR思達