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產(chǎn)品型號HORIBA堀場XploRA Nano
品 牌HORIBA/堀場
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地蘇州市
更新時間:2025-06-24 15:51:11瀏覽次數(shù):59次
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HORIBA堀場拉曼光譜儀全功能系統(tǒng)
這是一套基于業(yè)界掃描探針顯微鏡SmartSPM和 XploRA plus的耦合系統(tǒng)。
XploRA Nano系統(tǒng),,緊湊,、全自動、易于使用,,這是一套已經(jīng)得到證實了的經(jīng)濟適用的高度集中原子力顯微鏡-拉曼的全功能系統(tǒng),,它幫助大家實現(xiàn)TERS成像。
HORIBA堀場拉曼光譜儀全功能系統(tǒng)多樣品分析平臺
宏觀、微觀和納米尺度的測量可以在同一個平臺上進行
簡單易用
全自動操作,,在幾分鐘內(nèi)即可開始測量,,而不是幾小時!
真正的共聚焦
高空間分辨率,,自動樣品臺,,全顯微鏡可視化。
高收集效率
頂部和側(cè)向拉曼光譜檢測都可以獲得高分辨和高通量測量同區(qū)域和針尖增強光譜測量(TERS和TEPL)
高光譜分辨率
高光譜分辨能力,,多光柵自動切換,,寬光譜范圍的拉曼和光致發(fā)光分析。
高空間分辨率
針尖增強的納米級光譜分辨率(優(yōu)于10nm)
豐富的光學(xué)光譜(拉曼和光致發(fā)光)
多技術(shù)/多環(huán)境
結(jié)合TERS/TEPL化學(xué)成像的多模式SPM技術(shù)包括AFM,、導(dǎo)電和電學(xué)模式(cAFM,、KPFM)、STM,、液池和電化學(xué)環(huán)境,。一個工作站和強大的軟件即可對兩臺儀器進行控制,SPM和光譜儀可以同時或獨立操作,。
堅固性/穩(wěn)定性
高共振頻率AFM掃描器,,遠離噪音干擾!高性能表現(xiàn),,無需主動隔振系統(tǒng),。
各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風(fēng)扇)、AND愛安得(電子天平),、SAN-EI三英(點膠閥) HOYA光源,KURABO脫泡機,USHIO牛尾照度計,Tsubosaka壺坂電機,IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機,lambda拉姆達膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚(膜厚儀,、粒度儀),Hitachi日立(掃描電鏡),MIKASA米卡薩(旋涂設(shè)備、顯影),、POLARION普拉瑞,、AITEC艾泰克(檢查光源)、Iwasaki巖崎,、OTSUKA大塚電子(光學(xué)膜厚儀),、KOSAKA小坂(臺階儀)、HORIBA堀場儀器(分析儀),、SIBATA柴田科學(xué)(環(huán)境測定),、TORAY東麗濃度儀(氧氣分析儀)、yamada山田鹵素強光燈,、CEDAR思達
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