HORIBA堀場納米拉曼光譜儀經(jīng)濟適用

這是一套基于業(yè)界掃描探針顯微鏡SmartSPM和 XploRA plus的耦合系統(tǒng),。

XploRA Nano系統(tǒng)，緊湊,、全自動,、易于使用，這是一套已經(jīng)得到證實了的經(jīng)濟適用的高度集中原子力顯微鏡-拉曼的全功能系統(tǒng),，它幫助大家實現(xiàn)TERS成像,。

HORIBA堀場納米拉曼光譜儀經(jīng)濟適用

多樣品分析平臺

宏觀、微觀和納米尺度的測量可以在同一個平臺上進行

簡單易用

全自動操作,，在幾分鐘內(nèi)即可開始測量,，而不是幾小時！

真正的共聚焦

高空間分辨率,，自動樣品臺,，全顯微鏡可視化。

高收集效率

頂部和側(cè)向拉曼光譜檢測都可以獲得高分辨和高通量測量同區(qū)域和針尖增強光譜測量（TERS和TEPL)

高光譜分辨率

高光譜分辨能力,，多光柵自動切換,，寬光譜范圍的拉曼和光致發(fā)光分析。

高空間分辨率

針尖增強的納米級光譜分辨率（優(yōu)于10nm）

豐富的光學(xué)光譜（拉曼和光致發(fā)光）

多技術(shù)/多環(huán)境

結(jié)合TERS/TEPL化學(xué)成像的多模式SPM技術(shù)包括AFM,、導(dǎo)電和電學(xué)模式（cAFM,、KPFM）、STM,、液池和電化學(xué)環(huán)境,。一個工作站和強大的軟件即可對兩臺儀器進行控制，SPM和光譜儀可以同時或獨立操作,。

堅固性/穩(wěn)定性

高共振頻率AFM掃描器,，遠離噪音干擾！高性能表現(xiàn),，無需主動隔振系統(tǒng),。

各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風(fēng)扇)、AND愛安得（電子天平）,、SAN-EI三英(點膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機,USHIO牛尾照度計,Tsubosaka壺坂電機,IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機,lambda拉姆達膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀,、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設(shè)備、顯影）,、POLARION普拉瑞,、AITEC艾泰克（檢查光源）、Iwasaki巖崎,、OTSUKA大塚電子（光學(xué)膜厚儀）,、KOSAKA小坂（臺階儀）、HORIBA堀場儀器（分析儀）、SIBATA柴田科學(xué)（環(huán)境測定）,、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）,、yamada山田鹵素強光燈、CEDAR思達