Otsuka大塚顯微分光膜厚儀 高精度測量 非接觸 · 非破壞 · 顯微,、對焦、測量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀,，測試膜厚,、折射率n、消光系數k,、絕對反射率的新型高精度,、高性價比的分光膜厚儀。適用于各種可透光膜層的測試,，并有可針對透明基板去除背面反射,，從而達到“真實反射率、膜厚"測試的目的,。此外,，軟件操作簡單、使用方便且簡化了復雜的建模流程,。

Otsuka大塚顯微分光膜厚儀 高精度測量非接觸,、非破壞式，量測頭可自由集成在客戶系統(tǒng)內

● 初學者也能輕松解析建模的初學者解析模式

● 高精度,、高再現性量測紫外到近紅外波段內的絕對反射率,，可分析多層薄膜厚度、光學常數（n：折射率,、k：消光系數）

● 單點對焦加量測在1秒內完成

● 顯微分光下廣范圍的光學系統(tǒng)（紫外 ~ 近紅外）

● 獨立測試頭對應各種inline定制化需求

● 最小對應spot約3μm

● 可針對超薄膜解析nk

 絕對反射率分析

●  多層膜解析（50層）

●  光學常數（n：折射率,、k：消光系數）

膜或者玻璃等透明基板樣品，受基板內部反射的影響,，無法正確測量,。OPTM系列使用物鏡，可以物理去除內部反射,，即使是透明基板也可以實現高精度測量,。此外，對具有光學異向性的膜或SiC等樣品,，也可不受其影響,，單獨測量上面的膜。

半導體,、復合半導體：硅半導體,、碳化硅半導體、砷化鎵半導體,、光刻膠,、介電常數材料

● FPD：LCD,、TFT、OLED（有機EL）

● 資料儲存：DVD,、磁頭薄膜,、磁性材料

● 光學材料：濾光片、抗反射膜

● 平面顯示器：液晶顯示器,、薄膜晶體管,、OLED

● 薄膜：AR膜、HC膜,、PET膜等

● 其它：建筑用材料,、膠水、DLC等

各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風扇),、AND愛安得（電子天平）,、SAN-EI三英(點膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機,USHIO牛尾照度計,Tsubosaka壺坂電機,IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機,lambda拉姆達膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設備,、顯影）,、POLARION普拉瑞,、AITEC艾泰克（檢查光源）,、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子（光學膜厚儀）,、KOSAKA小坂（臺階儀）,、HORIBA堀場儀器（分析儀）、SIBATA柴田科學（環(huán)境測定）,、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）,、yamada山田鹵素強光燈、CEDAR思達