大塚電子從其創(chuàng)立之初就以光散射技術(shù)和分離技術(shù)為基礎(chǔ),，這些技術(shù)不僅是公司的技術(shù)根源,，也是新材料分析的核心技術(shù)并以這些技術(shù)開發(fā)、生產(chǎn)和銷售的產(chǎn)品,。利用光散射技術(shù)的產(chǎn)品是大塚電子歷史最悠久的產(chǎn)品系列之一,。在許多大學(xué)、機(jī)構(gòu)和企業(yè)中,，做為功能材料和新材料物性評估測量設(shè)備被高度評價(jià),。在接受各方面的建議和幫助下，不斷開發(fā)絕對分子量測定,、微粒子粒徑測定和電位測定設(shè)備,，并在各應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行改進(jìn)。同時(shí),，從基礎(chǔ)研究到質(zhì)量控制的用途不斷擴(kuò)大,，在這一領(lǐng)域已經(jīng)成為日本的國產(chǎn)制造商,，獲得了高的信任。

利用光散射作為新材料分析的核心技術(shù),，并將其應(yīng)用于納米技術(shù)領(lǐng)域的物性測量,。以粒子大小、電位和分子量的測量方法作為基準(zhǔn),，拓展新材料,、生命科學(xué)、高分子化學(xué),，以及半導(dǎo)體和醫(yī)藥等領(lǐng)域的應(yīng)用,。

Otsuka大塚 多通道光譜儀高速測量MCPD-9800為瞬間多通道分光器MCPD系列的高級機(jī)型，與本公司以往的機(jī)型相比,，實(shí)現(xiàn)了寬動(dòng)態(tài)范圍,、低雜散光功能、以及更高速,、更高再現(xiàn)性,。適于高精度紫外定量評估、量子效率測量,、在線測量為首的所有高精度測光系統(tǒng),。分光測量的世界得到進(jìn)一步擴(kuò)展。

具有寬動(dòng)態(tài)范圍,，適合于全光束測量,。

Otsuka大塚 多通道光譜儀高速測量搭載低雜散光功能，適用于UV評估和量子效率評估,。與本公司舊機(jī)型相比,，雜散光率只有五分之一。

最短5ms到65s*的曝光時(shí)間,，適合于微弱光測量,、高速測量、在線測量等廣泛的測量需求,。

采用Scramble加擾光纖*2,，實(shí)現(xiàn)高再現(xiàn)性。

輕量,、緊湊的豎立式設(shè)計(jì),，與本公司以往舊機(jī)型相比，體積降低約60%!

發(fā)射光譜測量透射/吸收光譜測量反射光譜測量熒光測量

物體顏色測量光源顏色測量（色度,、亮度,、照度）膜厚測量等離子體發(fā)射光譜測量

各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風(fēng)扇)、AND愛安得（電子天平）、SAN-EI三英(點(diǎn)膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機(jī),USHIO牛尾照度計(jì),Tsubosaka壺坂電機(jī),IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機(jī),lambda拉姆達(dá)膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀,、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設(shè)備,、顯影）、POLARION普拉瑞,、AITEC艾泰克（檢查光源）,、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子（光學(xué)膜厚儀）,、KOSAKA小坂（臺(tái)階儀）,、HORIBA堀場儀器（分析儀）、SIBATA柴田科學(xué)（環(huán)境測定）,、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）,、yamada山田鹵素強(qiáng)光燈、CEDAR思達(dá)