大塚電子從其創(chuàng)立之初就以光散射技術(shù)和分離技術(shù)為基礎(chǔ),，這些技術(shù)不僅是公司的技術(shù)根源，也是新材料分析的核心技術(shù)并以這些技術(shù)開發(fā),、生產(chǎn)和銷售好的產(chǎn)品,。利用光散射技術(shù)的產(chǎn)品是大塚電子歷史最悠久的產(chǎn)品系列之一。在許多大學(xué),、機構(gòu)和企業(yè)中,，做為功能材料和新材料物性評估測量設(shè)備被高度評價。在接受各方面的建議和幫助下,，不斷開發(fā)絕對分子量測定,、微粒子粒徑測定和電位測定設(shè)備，并在各應(yīng)用領(lǐng)域進行改進,。同時,，從基礎(chǔ)研究到質(zhì)量控制的用途不斷擴大，在這一領(lǐng)域已經(jīng)成為日本好的國產(chǎn)制造商,，獲得了高的信任,。

利用光散射作為新材料分析的核心技術(shù)，并將其應(yīng)用于納米技術(shù)領(lǐng)域的物性測量,。以粒子大小,、電位和分子量的測量方法作為基準(zhǔn)，拓展新材料,、生命科學(xué),、高分子化學(xué),，以及半導(dǎo)體和醫(yī)藥等領(lǐng)域的應(yīng)用。

OTSUKA大塚多樣品納米粒子徑測試系統(tǒng)是一臺通過動態(tài)光散亂法（DLS法）測量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置,。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測定的新光學(xué)系統(tǒng),，實現(xiàn)了實驗室必需的輕量、小型化,、標(biāo)準(zhǔn)1分鐘的高速測定,。 另外，這是一款非浸泡型,、不受接觸器影響,、無需自動取樣器、標(biāo)準(zhǔn)配備“5檢體連續(xù)測量"的新產(chǎn)品,。

Otsuka大塚多樣品納米粒子徑測試系統(tǒng)● 1臺便可實再5個樣品的連續(xù)測量

實現(xiàn)了在沒有自動取樣器的情況下難以連續(xù)測量的多個樣品

可以改變每個樣品的條件進行測量

● 可以對應(yīng)從稀薄到濃厚的樣品

● 標(biāo)準(zhǔn)測量時間1分的高度測量

Otsuka大塚多樣品納米粒子徑測試系統(tǒng)自動調(diào)整從濃厚系到稀薄系樣品的最佳測量位置,，實現(xiàn)約1分鐘的高速測量

● 配備簡單測量功能(點擊一鍵即可開始測量)

沒有任何復(fù)雜的操作，簡單易懂的軟件

● 因為每個樣品槽都是獨立的,，沒有接觸污染的風(fēng)險,。

● 搭載溫度梯度功能

● 粒徑0.6nm～10μm

● 濃度范圍 0.00001～40％

● 溫度范圍0～90℃^*

各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風(fēng)扇)、AND愛安得（電子天平）,、SAN-EI三英(點膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機,USHIO牛尾照度計,Tsubosaka壺坂電機,IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機,lambda拉姆達膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀,、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設(shè)備、顯影）,、POLARION普拉瑞,、AITEC艾泰克（檢查光源）、Iwasaki巖崎,、OTSUKA大塚電子（光學(xué)膜厚儀）、KOSAKA小坂（臺階儀）,、HORIBA堀場儀器（分析儀）,、SIBATA柴田科學(xué)（環(huán)境測定）,、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）、yamada山田鹵素強光燈,、CEDAR思達