HITACHI日立是一家全球性的日立公司,，通過互聯(lián)材料分析解決方案幫助我們的客戶變得更加成功和可持續(xù)，這些解決方案使生產(chǎn)和開發(fā)過程更加高效,、自動化和綠色,，以確保產(chǎn)品質(zhì)量、可靠性和合規(guī)性,。我們提供實驗室級和強大高性能現(xiàn)場檢測設(shè)備如光電直讀光譜儀,、X射線熒光光譜（XRF）、X熒光測厚儀（鍍層測厚儀）,、激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀（LIBS）、熱分析儀,、鋰電池異物分析儀,、油品分析儀、土壤分析儀等,。

最高靈敏度的檢測系統(tǒng)

1. F-7100簡介

HITACHI日立熒光分光光度計F-7100是在前代機型F-7000的基礎(chǔ)上更新升級,，基本性能得到了進一步提升。靈敏度（S/N）是選擇熒光分光光度計的重要因素之一,，F(xiàn)-7100與前代機型相比,，靈敏度提高了1.5倍。與此同時,，F(xiàn)-7100 采用長壽命氙燈,，與前代機型使用的耗材氙燈相比，使用壽命延長了5倍,。F-7100 配置熒光指紋測定功能和日差變化校正功能,，使操作更加簡單。

2. F-7100特點

這里為您介紹F-7100的三大特點,。

（1）更高靈敏度的檢測系統(tǒng)

HITACHI日立熒光分光光度計F-7100繼承F-7000高可靠性的光學(xué)系統(tǒng),，同時采用高亮度氙燈和更好的檢測光學(xué)系統(tǒng)，實現(xiàn)了更高的靈敏度,。

使用F-7100 可檢測低至1×10-13mol/L（亞皮摩爾） 量級的熒光素,。從線性曲線圖可知，即使在超微量區(qū)域,，也能獲得很好的線性關(guān)系,。

長壽命光源
F-7100采用全新氙燈，并改良了燈電源,，使得光源亮度提升,，并有效延長了氙燈的使用壽命。延長燈泡更換周期可降低耗材成本，減輕燈泡更換等作業(yè)負擔(dān),。F-7100性能優(yōu)異,，即使氙燈使用接近2500h，也能夠維持較高的靈敏度,。

高速掃描,，速度可達 60,000 nm/min ‐三維時間掃描熒光光譜追蹤監(jiān)控化學(xué)反應(yīng)過程

傳統(tǒng)熒光光譜儀很難實現(xiàn)化學(xué)反應(yīng)監(jiān)控，但F-7100超高速的掃描速度可使這種測量輕松進行,。在本例中,，熒光光譜測量追蹤2秒時間間隔內(nèi)，煤油里的異構(gòu)化過程,，并以三維時間掃描光譜圖顯示出來,。

之前，在1分鐘內(nèi)發(fā)生的快速化學(xué)反應(yīng)只能采用固定波長的方法進行監(jiān)控,。因為F-7100的快速掃描能力,，在1秒之內(nèi)可完成整個波長范圍的測量，所以它能夠追蹤如此快速的反應(yīng)過程,。

可將測定的三維數(shù)據(jù)匯總輸出

熒光指紋分析是指多變量分析多個三維熒光光譜數(shù)據(jù),。F-7100標(biāo)配三維測定數(shù)據(jù)一次性輸出功能，可將多個三維熒光光譜數(shù)據(jù)整合輸出至1個Excel表中,。輸出時還可以更換矩陣,，而且數(shù)據(jù)可輸出至其他多變量分析軟件。

● 可輸出指定波長的三維測定數(shù)據(jù)

在指定波長表中輸入您希望測定的波長,，輸出至 Microsoft Excel®時可只輸出指定波長的測定結(jié)果,。

● 可輸出過濾高階光后的數(shù)據(jù)

F-7100新設(shè)“高階光過濾"功能，可在多變量分析三維熒光光譜數(shù)據(jù)時,，將不含二階光區(qū)域的數(shù)據(jù)至 Excel 表,。與不輸出比激發(fā)光波長要短的波長的數(shù)據(jù)的“過濾散射光"聯(lián)用，可輕松將分析時需要的數(shù)據(jù)輸出到Microsoft Excel®,。

3. 結(jié)束語

以上為F-7100特點和新功能的介紹,。此外,F-7100繼續(xù)延續(xù)前代機型的高波長掃描速度（60,000 nm/min）和豐富的配件用以應(yīng)對多種應(yīng)用領(lǐng)域，包括LED,、太陽能電池零部件等工業(yè)材料,、食品檢測、生命科學(xué),、生物技術(shù)等領(lǐng)域,。

今后我們還將迎合市場需求，大力開展產(chǎn)品配件,、軟件和應(yīng)用的開發(fā)和產(chǎn)品化工作,。

各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風(fēng)扇)、AND愛安得（電子天平）、SAN-EI三英(點膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機,USHIO牛尾照度計,Tsubosaka壺坂電機,IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機,lambda拉姆達膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀,、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設(shè)備,、顯影）、POLARION普拉瑞,、AITEC艾泰克（檢查光源）,、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子（光學(xué)膜厚儀）,、KOSAKA小坂（臺階儀）,、HORIBA堀場儀器（分析儀）、SIBATA柴田科學(xué)（環(huán)境測定）,、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）,、yamada山田鹵素強光燈、CEDAR思達