HITACHI日立是一家全球性的日立公司，通過互聯(lián)材料分析解決方案幫助我們的客戶變得更加成功和可持續(xù),，這些解決方案使生產(chǎn)和開發(fā)過程更加高效,、自動化和綠色，以確保產(chǎn)品質(zhì)量,、可靠性和合規(guī)性,。我們提供實(shí)驗(yàn)室級和強(qiáng)大高性能現(xiàn)場檢測設(shè)備如光電直讀光譜儀、X射線熒光光譜（XRF）,、X熒光測厚儀（鍍層測厚儀）,、激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀（LIBS）、熱分析儀、鋰電池異物分析儀,、油品分析儀,、土壤分析儀等。切換檢測器波長時會產(chǎn)生小的信號差異,即使這樣UH4150也可實(shí)現(xiàn)高精度的測定

安裝在積分球上的多個檢測器可在紫外-可見-近紅外的波長范圍內(nèi)進(jìn)行測定,。由于使用日立專業(yè)的積分球結(jié)構(gòu)技術(shù)和信號處理技術(shù)等,，將檢測器切換時（信號水平的差異）吸光度值的變化降到最小。

日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)低雜散光和低偏振

UH4150采用棱鏡-光柵（P-G）雙單色器的光學(xué)系統(tǒng),，秉承U-4100光學(xué)系統(tǒng)的特點(diǎn),。棱鏡-光柵（P-G）系統(tǒng)與常見的光柵-光柵（G-G）系統(tǒng)相比,S和P偏振光強(qiáng)度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品,，UH4150也可實(shí)現(xiàn)低噪音測定,。

平行光束可實(shí)現(xiàn)反射光和散射光的精確測定

入射角對固體樣品鏡面反射率的測定非常重要。對于會聚光束,，由于入射角根據(jù)透鏡的焦距等因素會不同,，因此，像導(dǎo)電多層膜和棱鏡等光學(xué)薄膜的模擬設(shè)計(jì)值將與實(shí)際測定值不同,。 但對于平行光束,，相對于樣品入射角始終相同，實(shí)現(xiàn)了高精度鏡面反射率的測定,。此外,，平行光束可用于擴(kuò)散率（霧度）的評價和透鏡透過率的測定。

可提供適合不同測定目的的多種檢測器

可使用八種不同材料,、尺寸和形狀的積分球,。*2*3

改進(jìn)樣品室門，提升操作性,。為了便于更換樣品和附件的操作,，采用了符合人體工學(xué)的設(shè)計(jì)。

兼容多種U-4100附件

通用附件適用于兩種型號,。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸,，適合更多的測定類型,。

比U-4100型更高的樣品通量

在秉承U-4100型光學(xué)系統(tǒng)高性能的同時,，UH4150提供更高通量的測定。之前型號的儀器在1 nm數(shù)據(jù)間隔下測定時,，掃描速度必須是600 mm/min,。UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進(jìn)行測定，顯著縮短測定時間,。*5UH4150在約2分鐘內(nèi)可從240 nm測定到2,600 nm,。對需要在紫外-可見-近紅外波長范圍內(nèi)測定的樣品，如太陽能反射材料，尤其有效,。

各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風(fēng)扇),、AND愛安得（電子天平）、SAN-EI三英(點(diǎn)膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機(jī),USHIO牛尾照度計(jì),Tsubosaka壺坂電機(jī),IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機(jī),lambda拉姆達(dá)膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀,、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設(shè)備,、顯影）、POLARION普拉瑞,、AITEC艾泰克（檢查光源）,、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子（光學(xué)膜厚儀）,、KOSAKA小坂（臺階儀）,、HORIBA堀場儀器（分析儀）、SIBATA柴田科學(xué)（環(huán)境測定）,、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）,、yamada山田鹵素強(qiáng)光燈、CEDAR思達(dá)