1,、鈣鈦礦/疊層太陽(yáng)電池光電特性

鈣鈦礦吸光層吸收光子后，入射光將電子從價(jià)帶躍遷到導(dǎo)帶,，形成電子-空穴對(duì),，然后電子-空穴對(duì)在吸收層內(nèi)部迅速分開(kāi)，接著電子通過(guò)電子傳輸層輸送到陽(yáng)極,，空穴通過(guò)空穴傳輸?shù)疥帢O,，隨著電子和空穴不斷在陽(yáng)極和陰極的堆積，兩極產(chǎn)生光生電動(dòng)勢(shì),。

鈣鈦礦/晶硅疊層太陽(yáng)電池,，通常是頂部寬帶隙太陽(yáng)電池吸收高能光子,，底部窄帶隙太陽(yáng)電池吸收低能光子,，從而實(shí)現(xiàn)了更寬的波長(zhǎng)吸收區(qū)域，從而突破單結(jié)Shockley-Queisser極限,。

鈣鈦礦/晶硅疊層電池中還存在由陷阱態(tài)和離子遷移等物理誘因?qū)е碌碾娏髌坪瓦t滯,。

注：可通過(guò)單點(diǎn)Isc和Voc測(cè)試與穩(wěn)態(tài)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行對(duì)比,，相差小于0.5%。

普通太陽(yáng)能電池在短脈寬（10-100ms）下進(jìn)行電壓掃描,，測(cè)試太陽(yáng)能電池電池性能用常規(guī)測(cè)試方法I-V正向掃描與V-I反向掃描接近重合,。太陽(yáng)能高效晶硅電池（HJT、HIT,、IBC,、鈣鈦礦）常規(guī)測(cè)試方法在短脈寬下用常規(guī)測(cè)試方法I-V掃描與V-I掃描差異很大。

2,、鈣鈦礦/疊層太陽(yáng)電池I-V測(cè)試方法

【現(xiàn)有負(fù)載技術(shù)理論及常規(guī)測(cè)試方法】

【IAT測(cè)試技術(shù)】

IAT測(cè)試：IAT的啟用,，系統(tǒng)會(huì)利用長(zhǎng)脈沖的優(yōu)勢(shì)，基于第一掃描區(qū)間的數(shù)據(jù)判定出最大功率點(diǎn)Pmpp的大致位置，第二掃描區(qū)間依據(jù)上述數(shù)據(jù)自動(dòng)調(diào)節(jié)掃描電壓速率,，有效降低最大功率點(diǎn)的dV/dt,，有效消除容性；

【SAT測(cè)試技術(shù)】

SAT測(cè)試：

①SAT逐次圍繞Vpmm減小電壓區(qū)間dV,，dt不變,，即斜率逐次減小，容性產(chǎn)生的電流也逐次減小,。

②確保每一次掃描中,，Pmpp被掃描到。

③根據(jù)預(yù)設(shè)的相對(duì)閾值（0.1%或0.05%等）結(jié)束掃描測(cè)試,，適應(yīng)不同容性的板型,。

【鈣鈦礦/疊層太陽(yáng)電池穩(wěn)態(tài)老化MPPT測(cè)試】

MPPT測(cè)試:擾動(dòng)光伏電池的輸出電壓（或電流），然后觀察光伏電池輸出功率的變化,，根據(jù)功率變化的趨勢(shì)連續(xù)改變擾動(dòng)電壓（或）的方向,，使光伏電池最終工作于最大功率點(diǎn),。

【穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)模擬器】

【多通道測(cè)試】