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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
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納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)VS1800應用光干涉現(xiàn)象,,對微細的表面形貌進行測量,可實現(xiàn)高性能薄膜,、半導體,、汽車零配件、顯示器等行業(yè)所要求的高精度測量,。而且還能以無損傷方式進行多層膜的層結構以及層內部的異物測量,。
隨著材料不斷趨向平坦化、薄膜化及結構的微細化,,人們開始要求比傳統(tǒng)的普通SPM(掃描探針顯微鏡),、觸針式粗糙度測量儀及激光顯微鏡等產品更高的測量精度。相比較利用光干涉原理的白光干涉掃描顯微鏡,,納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)VS1800,,使用更方便,測量精度跟高,,測量范圍更大,。此外,傳統(tǒng)的采用線粗的測量方式仍存在“測量位置導致的結果偏差"和“掃描方向導致的結果偏差"等重大課題,。VS1800的解決對策是通過參照國際標準ISO25178規(guī)定的表面形貌評估方法來計算參數(shù),,建立測量表面形貌的新標準,從而受到了各界的關注,。
原子力顯微鏡的納米尺度3D探針測量系統(tǒng)AFM5500M同樣可實現(xiàn)高度的分辨率為0.1nm以下,,與此相比,納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)VS1800的一大特點在于面內方向的測量范圍更大。發(fā)揮兩種測量系統(tǒng)各自的優(yōu)點,,根據(jù)需求選擇合適的測量系統(tǒng)有利于生產率的提高,。