大塚otsukael分光測(cè)厚儀FE-300致使儀器示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的要素主要是來(lái)自工件本身的資料和構(gòu)造的特別性,，再者，被測(cè)件的外表粗糙度和附著物也是致使儀器示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的重要要素,，其探頭對(duì)那些阻礙與覆蓋層外表緊密觸摸的附著物質(zhì)靈敏,。有必要確保探頭與覆蓋層外表直觸摸摸。因而,，解決此種毛病的關(guān)鍵即是：測(cè)量前鏟除被測(cè)件觸摸面的塵埃,、細(xì)屑,、油脂及腐蝕產(chǎn)物等附著物，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì),。再有即是在進(jìn)行體系調(diào)零時(shí),，所使用的基體外表也有必要是清洗、潤(rùn)滑的,。5. 熱成像儀軟件與固件軟件更新：檢查有無(wú)可用的軟件或固件更新,，新版本往往包含性能優(yōu)化和BUG修復(fù)2. 清潔氣體檢測(cè)儀傳感器口吹掃過(guò)濾器：使用干凈壓縮空氣輕輕吹掃進(jìn)氣口和排氣口，去除可能堵塞的灰塵或雜質(zhì)以下是一些有效排查和解決測(cè)量不準(zhǔn)確問(wèn)題的方法：1. 膜厚測(cè)試儀環(huán)境因素評(píng)估確保測(cè)量環(huán)境溫度,、濕度,、振動(dòng)以及潔凈度符合設(shè)備的工作要求
大塚otsukael分光測(cè)厚儀FE-300維修膜厚儀常見(jiàn)故障維修
1.電池電量不足
儀器五天以上不使用時(shí)，就應(yīng)該取下電池,。儀器若出現(xiàn)低電壓提示時(shí),，就需要及時(shí)更換電池，保證儀器的使用性能,。
2.恢復(fù)出廠設(shè)置
當(dāng)操作有誤不知如果修正時(shí),，就可以根據(jù)涂層測(cè)厚儀的使用說(shuō)明書(shū)，進(jìn)行恢復(fù)出廠設(shè)置,。不同品牌的涂層測(cè)厚儀恢復(fù)出廠設(shè)置的步驟各不相同,，以具體的操作說(shuō)明書(shū)為準(zhǔn)。
3.測(cè)量頭校準(zhǔn)修正
如果儀器測(cè)量結(jié)果出現(xiàn)較大誤差時(shí),，就可以按照多點(diǎn)修正的方法,，重新校準(zhǔn)儀器。
克斯膜厚儀使用時(shí)需要注意的問(wèn)題：
邊緣效應(yīng)：不應(yīng)在緊靠試件的突變處,，如邊緣,、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
曲率：不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量,。
表面清潔度：測(cè)量前,，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土,、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
讀數(shù)次數(shù)：通常由于儀器的每次讀數(shù)并不相同,，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù),。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量,，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此,。
大塚otsukael分光測(cè)厚儀FE-300若自檢不過(guò)，根據(jù)出錯(cuò)提示信息,，大致可判斷問(wèn)題所在,，再對(duì)相關(guān)電路原理進(jìn)行分析,，能夠比較快的找到故障點(diǎn)，然后采取相應(yīng)的措施排除故障7. 膜厚測(cè)試儀MDM300專業(yè)維護(hù)如果經(jīng)過(guò)上述檢查仍無(wú)法解決問(wèn)題,，可能需要專業(yè)的維護(hù)用戶可以做的首要排查就是先確定這個(gè)異常是否是由于儀器長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行導(dǎo)致的偏差,，這個(gè)可以通過(guò)溫度、重量等校準(zhǔn)來(lái)驗(yàn)證,，如果不是,，那么再檢查電源供給是否正常、是否穩(wěn)定（4）管燒更換時(shí)不能大于0.75A,，0.5A較好,，嚴(yán)禁用油導(dǎo)線或其他導(dǎo)電物代替電源輸入端故障八：數(shù)據(jù)不穩(wěn)定處理方法：清洗鏡片后重新做標(biāo)準(zhǔn)化，直讀膜厚測(cè)試儀鏡片的污染會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)測(cè)試的結(jié)果不穩(wěn)定,，長(zhǎng)時(shí)間沒(méi)有做儀器的曲線校準(zhǔn)也會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)測(cè)試穩(wěn)定性不好
檢查電源線和電源插座是否存在可見(jiàn)損傷,，確保接觸良好實(shí)施定期的校準(zhǔn)和功能測(cè)試，確保設(shè)備長(zhǎng)期保持狀態(tài)同步熱分析儀差熱曲線是描述樣品與參比物之間的溫差隨溫度和時(shí)間的變化關(guān)系,，這個(gè)溫差電勢(shì)一般只有幾微伏到幾十微伏,，通過(guò)放大單元放大再由微機(jī)記錄下來(lái)6. 膜厚測(cè)試儀MDM300軟件更新查看是否有可用的固件或軟件更新
我司建有電子儀器維修室，從事電子儀器維修工作十多年,，現(xiàn)有專業(yè)維修技術(shù)工程師多名,，與各儀器生產(chǎn)商有密切的，維修備件,，通過(guò)多年的專業(yè)積累,，能維修的儀器有：Agilent、HP,、R＆S,、Anritsu、Tektronix,、FLUKE,、ADVANTEST等，專業(yè)維修的儀器有：網(wǎng)絡(luò)分析儀,、信號(hào)源,、頻譜分析儀、無(wú)線電綜合測(cè)試儀（綜測(cè)儀）,、高頻LCR測(cè)試儀,，阻抗分析儀，藍(lán)牙測(cè)試儀（wifi測(cè)試儀）,，誤碼分析儀,、數(shù)據(jù)/傳輸分析儀、功率計(jì),、膜厚測(cè)試儀,、通信電源等電子測(cè)試儀器.上海維修安捷倫E4448A頻譜分析儀可維修故障：1、電源故障：不能正常開(kāi)機(jī)2,、輸入端故障：阻抗異常,；無(wú)信號(hào)；信號(hào)幅度異常3,、測(cè)試分析故障：頻率,、相位測(cè)試異常4、顯示故障：花屏,；黑屏5,、按鍵故障：按鍵無(wú)反應(yīng)；調(diào)節(jié)旋鈕無(wú)響應(yīng)6,、接口故障：不認(rèn)存儲(chǔ)介質(zhì),；不能與控制系統(tǒng)聯(lián)機(jī)7、其他使用問(wèn)題等
常規(guī)儀器校準(zhǔn)有： 電學(xué)類儀器校準(zhǔn): 數(shù)字多用表,、高壓表,、功率表、多功能校準(zhǔn)儀,、交直流電源,、絕緣電阻儀、泄漏電流儀,、耐電壓儀,、線材測(cè)試機(jī)、晶體管圖示儀,、LCR電橋,、插頭線綜合測(cè)試儀、安規(guī)綜合測(cè)試儀,、表面電阻儀,、防靜電儀、電子負(fù)載儀,、數(shù)據(jù)采集器,、變壓器電量測(cè)試儀、LED光譜分析系統(tǒng)（積分球）,、元件自動(dòng)分析儀,、電池測(cè)試系統(tǒng)、帶電繞組溫升測(cè)試儀等再更換新的過(guò)濾網(wǎng),，硅鐵硫得到很大改善,，通過(guò)C、S前放的增益及頻率調(diào)節(jié),，硫曲線基本正常,，可以分析硅鐵硫比如,，檢查儀器的參數(shù)設(shè)置是否正確規(guī)范，主機(jī)運(yùn)作是否在正常,，監(jiān)視器是否有線路連接問(wèn)題,，傳輸設(shè)備是否完好無(wú)損等
膜厚測(cè)試儀開(kāi)機(jī)困難故障維修方式愛(ài)色麗(X-Rite)色差儀是一種精密儀器，用于顏色測(cè)量和質(zhì)量控制,，在印刷,、涂料、塑料等行業(yè)有著廣泛的應(yīng)用2. 斯派克手持式膜厚測(cè)試儀清潔維護(hù)清理觸點(diǎn)： 使用干凈的布擦拭燈座和燈泡的金屬接觸面,，去除氧化層或積灰
探頭的放置方法對(duì)測(cè)量有很大影響,，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與被測(cè)件外表堅(jiān)持筆直。而且探頭的放置時(shí)刻不宜過(guò)長(zhǎng),，避免形成基體本身磁場(chǎng)的攪擾,。測(cè)量時(shí)不要拖動(dòng)探頭，由于這么不僅對(duì)探頭會(huì)形成磨損,，也不會(huì)得到的測(cè)量成果,。別的，基體金屬被磁化,、基體金屬厚度過(guò)小,、工件曲率過(guò)小、測(cè)量基座外表有銹蝕,、測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)周圍有電磁場(chǎng)攪擾等要素都有也許致使測(cè)量成果的反常,，假如離電磁場(chǎng)十分近時(shí)還有也許會(huì)發(fā)作死機(jī)景象。
妥善存放：避免長(zhǎng)時(shí)間暴露在惡劣環(huán)境中,，存放在干燥通風(fēng)的地方斷開(kāi)電源至少一分鐘后,，再次通電，看看是否恢復(fù)正常重新校準(zhǔn)：依據(jù)用戶手冊(cè)指導(dǎo),，進(jìn)行一次完整的校準(zhǔn)過(guò)程,，確保所有參數(shù)處于標(biāo)準(zhǔn)范圍之內(nèi)（3）確保信號(hào)發(fā)生器具備良好的頻率穩(wěn)定性規(guī)格，并符合預(yù)期的精度要求 產(chǎn)生原因2:茚三酮失效其基本原理是光學(xué)傳感器的探測(cè)激光經(jīng)塵埃粒子散射后被光敏元件接收并產(chǎn)生脈沖信號(hào),，該脈沖信號(hào)被輸出并放大,，然后進(jìn)行數(shù)字信號(hào)處理，通過(guò)與標(biāo)準(zhǔn)粒子信號(hào)進(jìn)行比較,，將對(duì)比結(jié)果用不同的參數(shù)表示出來(lái)再完儀器也會(huì)有故障問(wèn)題的發(fā)生,，下面和常州斯樂(lè)維一起來(lái)了解一下一下故障發(fā)生的原因
大塚otsukael分光測(cè)厚儀FE-300維修膜厚儀常見(jiàn)故障維修
測(cè)量實(shí)際電壓，對(duì)比設(shè)備手冊(cè)中規(guī)定的參數(shù)5. 電路板檢查電路檢查：檢查電路板上是否有燒焦痕跡,、腐蝕或其他損傷確保傳感器處于適當(dāng)?shù)臏囟确秶鷥?nèi),，過(guò)冷或過(guò)熱都會(huì)影響測(cè)量精度6. 熱成像儀硬件檢查傳感器：檢查傳感器是否有物理?yè)p傷，必要時(shí)考慮更換希望上述建議有助于解決MARPOSS P5主動(dòng)測(cè)量?jī)x的測(cè)量不準(zhǔn)或波動(dòng)大的問(wèn)題CH1 50Ω阻抗正常 1MΩ100mV（含）以上阻抗80k2.正確的電源輸入電壓，用萬(wàn)用表交流檔位檢測(cè)輸入電源電壓是否在膜厚測(cè)試儀電源插座附近標(biāo)注的范圍之內(nèi);3.要使用原機(jī)配帶的電源線
低波段的信號(hào)與本振的基波混頻后得到中頻,，再經(jīng)濾波后到第二變頻器,，中頻信號(hào)與第二本振差頻得到第二中頻信號(hào)，再與第三本振混頻得到所需中頻信號(hào),；而高波段信號(hào)經(jīng)預(yù)選后與本振相應(yīng)的諧波混頻后得到的中頻信號(hào)與第三本振差頻得到所需要的中頻信號(hào),；該中頻信號(hào)經(jīng)后續(xù)電路處理后顯示,，公司擁有充足的各種精密儀器儀表的配件,，以及很多市場(chǎng)上罕見(jiàn)的配件庫(kù)存，部分維修配件來(lái)自于原廠進(jìn)口供給5. 膜厚測(cè)試儀環(huán)境因素溫度和濕度的變化也可能影響儀器性能如果有電壓,，說(shuō)明發(fā)生器沒(méi)問(wèn)題,，插上輸出電纜線，檢查第⑤步,，如果沒(méi)有電壓,，檢查下一步 2.用萬(wàn)用表直流1000V檔，測(cè)量主電容或整流橋輸出正負(fù)兩端,，是否有300V左右,，沒(méi)有電壓則檢查第④步，有電壓檢查下一步(特別是在大負(fù)荷或高速時(shí)張力精度不夠),；3,、故障率高，維護(hù)費(fèi)用高（經(jīng)常要更換磁粉）,，磁粉制動(dòng)器/磁粉離合器的可靠性差 ,，發(fā)熱嚴(yán)重功率大的還需水冷等
德國(guó)尼克斯膜厚測(cè)試儀維修常見(jiàn)故障技巧
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