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納米粒度及Zeta電位分析儀基本性能指標

粒徑檢測(動態(tài)光散射法)

粒徑范圍	0.3 nm – 15 μm
最小樣品量	3 μL
檢測角度	173 °+90 ° + 11.2°
分析算法	Cumulants,、通用模式,、CONTIN、NNLS

沉降法粒度測試

檢測方法	沉降法
粒徑范圍	1μm-50μm
檢測角度	0°
樣品量	1-3ml

Zate電位測試

Zeta范圍	無實際限制
電泳遷移率范圍	> ±20 μ.cm/V.s
電導(dǎo)率范圍	0 - ≥270 mS/cm
Zeta測試粒徑范圍	1 nm – >120 μm

分子量測試

分子量范圍

342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流變測試

測試能力	均方位移,、復(fù)數(shù)模量,、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span>

趨勢測試

模式

時間和溫度

濃度檢測

檢測方法	LEDLS
測試能力	體積分數(shù)和數(shù)量濃度

折光率測試

檢測方法	楔形池樣品折射（無需示蹤粒子）
檢測角度	0°
RI范圍	1.2-1.6
精度	優(yōu)于0.1%
最小樣品量	380 μL

系統(tǒng)參數(shù)

溫控范圍	-15°C - 120°C
冷凝控制	干燥空氣或者氮氣
激光器	50 mW 高性能固體激光器,， 671 nm（不同波長激光器可選）
相關(guān)器	快,、中、慢多模式,，最快25 ns采樣,，最多 4000通道，10¹¹動態(tài)線性范圍
檢測器	APD （高性能雪崩光電二極管）+PD+CMOS
光強控制	0.0001% - 100%,，手動或者自動

納米粒度及Zeta電位分析儀檢測參數(shù)

動態(tài)光散射

●流體力學(xué)尺寸 D_h

●分布系數(shù) PD.I

●擴散系數(shù) D

●顆粒間相互作用力因子 k_d

●顆粒體系的光強,、體積、面積和數(shù)量分布

●計算分子量

●溶液粘度和折射率

●流變學(xué)信息G*,，G‘,，G“，η*,，J

電泳光散射

●Zeta電位及其分布

●帶電顆粒的電泳遷移率

透射

●透射濁度

● 顆粒物濃度

●液體折射率

●沉降法粒度和粒度分布測試

趨勢測試

● Zeta電位和粒徑的pH滴定

● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢測試

靜態(tài)光散射

● 絕對分子量Mn,、Mw、Mz

● 分子量分布

● 第二維利系數(shù)A₂

選配件

●動靜態(tài)流動模式

BeNano動靜態(tài)流動模式（Flow Mode）是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端（FFF,、GPC/SEC）相連接,。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進行分離，依次流出,。通過檢測每個流出組分的動態(tài)光散射信號和靜態(tài)光散射號,，并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號，得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布,、分子量分布信息,。

納米粒度及Zeta電位分析儀

●BAT-1自動滴定儀

樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強烈的依賴性，尤其是環(huán)境pH,，不但影響Zeta電位的大小,，而且會影響顆粒體系的帶電符號。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用,，內(nèi)置三個高精度滴定泵和一個樣品輸送泵,，具有樣品攪拌能力，可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進行自動化的酸堿滴定測試,，具有測試效率高,、精確定量、重復(fù)性好,、結(jié)果不依賴于操作者等特點,。由于盛放樣品的樣品管可拋棄，避免了交叉污染的風險,。

納米粒度及Zeta電位分析儀

●BeScan穩(wěn)定性分析儀

BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備,，通過檢測得到樣品隨空間分布,、時間、溫度的不穩(wěn)定性變化,，并給出不穩(wěn)定性指數(shù)I_US,，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,，能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化,，從而極大的節(jié)約檢測時間，縮短配方研制周期,。BeScan與BeNano聯(lián)合使用,，通過定量的I_US和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

納米粒度及Zeta電位分析儀