西班牙Albedo萬兆網(wǎng)絡(luò)多業(yè)務(wù)測試平臺Ether10.Genius 10GE
簡介
Ether10.Genius 是一款手持測試儀,，非常適合實驗室或現(xiàn)場使用,，因為它配備齊全（IP/Ethernet/PTP/T1/E1）、電池供電（運行24小時）,、重量輕（1.2kg）且非常堅固,。該單元能夠測試高達(dá)10Gb/s的以太網(wǎng)/IP網(wǎng)絡(luò)，同時支持主/從Sync-E/PTP仿真,。它還具有PDH/T1/E1/E0和IEEE C37.94的接口,。操作模式包括所有接口的性能、質(zhì)量和漂移測試,，以及在測量頻率/相位,、PDV指標(biāo),、分析/生成TIE/MTIE/TDEV和TE時仿真和分析PTP/同步的能力。
您可以只購買全新一代雙端口10GbE測試儀,，然后您可以在需要時添加其他接口,，方法是通過代碼進(jìn)行簡單的升級。然后您將能夠得到支持所需功能的新固件,。
主要特點
● 雙SFP/SFP+接口,，支持1GE、10GE測試
● 支持E1,、C37.94,、以太網(wǎng),、Datacom等測試模式
● 支持RFC2544,、Y.1564網(wǎng)絡(luò)性能測試
● 支持系統(tǒng)同步時鐘的GPS模塊，可用于PTP測試
● 支持漂移和抖動測試
● 流量壓力測試和誤碼率測試
● SLA,、MPLS,、帶寬等多種數(shù)據(jù)統(tǒng)計
● 高容量鋰離子電池組可以保證測試的連續(xù)性和便攜性
| 測試端口 | |
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| 可選配銣鐘 | |
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屏幕界面
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eSAM策略測試 | |
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eSAM EIR測試 | |
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RFC2544延遲測試 | |
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eSAM性能測試 |
西班牙Albedo萬兆網(wǎng)絡(luò)多業(yè)務(wù)測試平臺Ether10.Genius 10GE
| 產(chǎn)品型號 | 描述 |
AT.E10GE.HH （標(biāo)配） | Ether10.Genius主機、電池供電,。10 Gb/s以太網(wǎng)測試儀,，可選E1，數(shù)據(jù)通信和同步功能,。包括雙10/100/1000 Mb/s電氣端口,、雙SFP+端口。QoS統(tǒng)計,、RFC2544性能測試,、L1-L4誤碼率測試、連續(xù)/突發(fā)/斜坡/隨機流量生成,、流量統(tǒng)計,、錯誤分析、連接測試（“ping",、“traceroute"）,、分析過濾器、事件插入,、端點和直通操作模式,、事件圖形顯示、報告生成和導(dǎo)出,。包括AC/DC適配器,、運輸袋、一根RJ-45接插電纜,、一根BNC-BNC接插電纜,。不包括SFP+和SFP收發(fā)器 |
| AT.E10GE.MSTR | 多流測試,。生成超過八個獨立的流量流。每個測試端口有八個分析過濾器,。 |
| AT.E10Ge.1564 | eSAM（ITU-T Y.1564）同時測試多達(dá)8個服務(wù),。CIR、EIR和警務(wù)比率的設(shè)置,。每流質(zhì)量目標(biāo),。信息速率（IR）、幀傳輸延遲（FTD）,、幀延遲變化（FDV）,、幀丟失率（FLR）和可用性的測量。[需要：AT.M10G.MSTR] |
| AT.E10Ge.IPv6 | IPV6數(shù)據(jù)報的解碼與分析,。IPV6流量統(tǒng)計和事件,。IPV6數(shù)據(jù)包過濾。TOP IPV6源和目標(biāo)地址（帶有網(wǎng)絡(luò)搜索選項）,。 |
| 根據(jù)RFC 3032生成單或雙MPLS標(biāo)簽,。TTL配置，流量等級,，標(biāo)簽,。按標(biāo)簽和流量類字段篩選選擇規(guī)則。MPLS分析,。頂級LSP（帶網(wǎng)絡(luò)搜索選項 | |
| AT.E10Ge.NS | 自動檢測多達(dá)16個由Ipv4,、VLAN和MAC列出的最頻繁流。 |
| AT.10GS.SFP | SFP適配器10 Gb/s,，850納米,，毫米波，300米范圍,，w/DDM,，雙工LC，0-70C |
| AT.10GL.SFP | SFP適配器10 Gb/s,，1310 nm,，SMF，2 km范圍,，w/DDM,，雙工LC，0-70C |
| AT.10GZ.SFP | SFP適配器10 Gb/s,，1550 nm,，SMF，40 km范圍，w/DDM,，雙工LC,，0-70C |
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