接觸式探頭：
接觸式探頭是一個(gè)通常可生成縱波且與被測(cè)樣件直接接觸的單晶探頭,。所有接觸式探頭都裝有WC-5防磨面,，不僅具有超級(jí)防磨效果，可以延長(zhǎng)探頭壽命,，還可以提供適合于大多數(shù)金屬的聲阻抗,。
接觸式探頭是一種可與被檢工件直接接觸的單晶縱波探頭。
優(yōu)勢(shì)
• WC-5防磨板增加了這種探頭的耐用性,、抗裂性及防磨性,。
• 所有這類探頭都可用于檢測(cè)面粗糙的工業(yè)部件。
• 具有與大多數(shù)金屬匹配的近似聲阻抗,。
• 可用于檢測(cè)多種材料。
應(yīng)用
• 垂直聲束缺陷探測(cè)和厚度測(cè)量,。
• 分層缺陷的探測(cè)和定量,。
• 材料特性評(píng)價(jià)和聲速測(cè)量。
• 檢測(cè)平板,、坯材,、棒材、鍛件,、鑄件,、擠壓成形件及多種其它金屬與非金屬部件,。
• 可在50°C（122°F）的高溫下持續(xù)使用,。
指尖接觸式
• 大于6毫米（0.25英寸）的探頭帶有凸節(jié),，便于抓取。
• 303不銹鋼外殼,。
• 薄外形的特點(diǎn)便于檢測(cè)難于接觸到的表面。
• 根據(jù)客戶的要求,，可免費(fèi)提供用于方便抓取探頭的可拆裝塑料套筒。
6毫米（0.25英寸）套筒的工件編號(hào)為CAP4,；3毫米
（0.125英寸）套筒的工件編號(hào)為CAP8,。
• 標(biāo)準(zhǔn)配置為直角連接器,，并適用于Microdot連接器。
雙晶探頭：
雙晶探頭包含兩個(gè)縱波晶片（一個(gè)用作發(fā)送器,，另一個(gè)用作接收器）,，兩個(gè)晶片裝于同一個(gè)外殼中，但中間有一層隔音屏障,。每個(gè)晶片都稍微向另一個(gè)晶片傾斜,，目的是使從工件底面反彈的信號(hào)以V形聲程傳播,。雙晶探頭在檢測(cè)嚴(yán)重腐蝕的工件時(shí)一般都能提供更穩(wěn)定的讀數(shù),，而且還可用于高溫環(huán)境。
雙晶探頭在同一個(gè)外殼中裝有由隔音屏障分開(kāi)的兩個(gè)晶片,。一個(gè)晶片發(fā)射縱波,，另一個(gè)晶片作為接收器接收聲波。要了解有關(guān)用于MG2和37系列測(cè)厚儀的探頭更詳細(xì)的情況請(qǐng)咨詢我們,。
優(yōu)勢(shì)
• 改進(jìn)了近表面的分辨率,。
• 避免了高溫應(yīng)用所需的多延遲塊。
• 在粗糙或彎曲表面上的耦合效果好,。
• 減少了粗晶?；蛞咨⑸洳牧现械闹苯臃聪蛏⑸湓胍簟?/span>
• 將低頻單晶探頭的穿透性能與高頻單晶探頭的近表面分辨率性能結(jié)合在一起,。
• 可與曲面工件外形相吻合,，緊貼在工件的表面。
應(yīng)用
• 剩余壁厚測(cè)量,。
• 腐蝕/侵蝕監(jiān)控,。
• 焊縫覆蓋和覆層的粘膠/脫膠檢測(cè)。
• 探測(cè)鑄件和鍛件中的多孔性、夾雜物,、裂紋及分層等缺陷,。
• 探測(cè)螺栓或其它圓柱形部件中的裂紋。
• 等于或小于5.0 MHz的探頭可承受的最高溫度為425°C（800°F）,；7.5 MHz和10 MHz的探頭可承受的最高溫度為175°C（350°F）,。表面溫度在90°C（200°F）到425°C（800°F）的情況下，建議使用的占空因數(shù)為最多10秒鐘接觸,，然后進(jìn)行最少1分鐘的空氣冷卻（不適用于袖珍雙晶）,。
角度聲束探頭：
角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以所選的角度將縱波或橫波
發(fā)射到工件中,。角度聲束探頭可以對(duì)工件中垂直入射接觸式探頭的超聲聲程無(wú)法到達(dá)的區(qū)域進(jìn)行檢測(cè),。角度聲束探頭一般用于焊縫檢測(cè)，因?yàn)槿绻褂脴?biāo)準(zhǔn)接觸式探頭,，焊冠會(huì)擋住聲波,，使聲波無(wú)法到達(dá)希望檢測(cè)的焊縫區(qū)域，而且一般的缺陷對(duì)準(zhǔn)操作會(huì)使角度聲束產(chǎn)生更強(qiáng)的反射信號(hào),。
角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭,，可以向被測(cè)工件內(nèi)部發(fā)射折射橫波或縱波。
優(yōu)勢(shì)
• 三種材料制成的Accupath楔塊在提高了信噪比性能的同時(shí),，還表現(xiàn)出的防磨特性,。
• 高溫楔塊可對(duì)熱材料進(jìn)行在役檢測(cè)。
• 用戶可根據(jù)需要定制楔塊,，以得到非標(biāo)準(zhǔn)的折射角度,。
• 具有可更換型和整合型兩種結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。
• 具有外形吻合性能,。
• 可提供在鋁制材料中獲得標(biāo)準(zhǔn)折射角度的楔塊及整合組件設(shè)計(jì),。
應(yīng)用
• 缺陷探測(cè)與定量。
• 要了解衍射時(shí)差探頭,，請(qǐng)參閱第35頁(yè),。
• 檢測(cè)管道、管件,、鍛件,、鑄件，機(jī)加工部件和結(jié)構(gòu)部件上的焊縫缺陷或裂縫,。
袖珍旋入式探頭
• 旋入式設(shè)計(jì)，303不銹鋼外殼,。
• 不同頻率的探頭顏色不同,。
• 兼容于短接近、Accupath、高溫和表面波楔塊,。
延遲塊探頭：
延遲塊探頭為單晶寬帶接觸式探頭,，其特殊的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)是在探頭晶片前插有塑料或環(huán)氧材料制成的一個(gè)薄片。延遲塊改進(jìn)了工件近表面缺陷的分辨率,，可以測(cè)量更薄的材料厚度,，并能提供更精確的厚度測(cè)量結(jié)果。延遲塊可根據(jù)工件的表面幾何形狀緊貼在工件上,，而且還可用于高溫應(yīng)用中,。
可更換延遲塊探頭是一種單晶接觸式探頭，專門(mén)與可更換的延遲塊一起使用,。
優(yōu)勢(shì)
• 強(qiáng)阻尼探頭加上延遲塊可以提供的近場(chǎng)分辨率,。
• 較高的探頭頻率提高了分辨率。
• 直接接觸法可提高測(cè)量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力,。
• 具有外形吻合性能,，適用于曲面工件。
應(yīng)用
• 精確測(cè)厚,。
• 垂直聲束缺陷探測(cè),。
• 對(duì)接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測(cè)?？筛鼡Q延遲塊探頭
• 每個(gè)探頭的配置都帶有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)延遲塊和一個(gè)固定環(huán),。
• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。
• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑,。
保護(hù)面探頭：
保護(hù)面探頭為一種帶有螺紋外殼護(hù)套的單晶縱波探頭,，可以安裝延遲塊、防磨帽或保護(hù)膜,。這個(gè)特點(diǎn)極大地增強(qiáng)了探頭的靈活通用性,，可使這種探頭用于范圍極為廣泛的應(yīng)用中。保護(hù)面探頭還可用作直接接觸式探頭,，檢測(cè)橡膠或塑料等低阻抗材料,，以改進(jìn)聲阻抗的匹配效果。
保護(hù)面探頭是一種單晶縱波接觸式探頭,，可以裝配延遲塊,、保護(hù)膜，或保護(hù)防磨
帽,。
優(yōu)勢(shì)
• 具有很強(qiáng)的靈活適用性,，提供可拆裝延遲塊、保護(hù)防磨帽和保護(hù)膜,。
• 單獨(dú)使用探頭時(shí)（沒(méi)有附加任何可選配件）,，其環(huán)氧防磨面可提供匹配于塑料,、很多復(fù)合材料及其它低阻抗材料的適當(dāng)?shù)穆曌杩埂?/span>
• 外殼帶有螺紋，方便了延遲塊,、保護(hù)膜和防磨帽的安裝,。
應(yīng)用
• 垂直聲束缺陷探測(cè)
• 厚度測(cè)量
• 高溫檢測(cè)
• 平板、坯材,、棒材及鍛件的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)保護(hù)面•
• 探頭的舒適套筒的設(shè)計(jì)目的是便于操作者在帶手套時(shí)抓取和握持探頭,。
• 標(biāo)準(zhǔn)的連接器類型為直角BNC（RB）；也可以提供平直BNC（SB）連接器,。
• 延遲塊,、保護(hù)膜及防磨帽需與探頭分開(kāi)訂購(gòu)。
水浸探頭：
水浸探頭為單晶縱波探頭,，其防磨面具有與水匹配的阻抗,。水浸探頭裝在密封外殼中，在與防水線纜一起使用時(shí),，可以*浸泡在水面以下,。由于水浸探頭將水用作耦合劑和延遲塊，因此針對(duì)必須對(duì)工件施行持續(xù)耦合的掃查應(yīng)用來(lái)說(shuō),，這種探頭是一種理想的探頭,。水浸探頭還有一個(gè)附加選項(xiàng)，即可以通過(guò)增加特定區(qū)域的聲強(qiáng)同時(shí)減少聲束焦點(diǎn)大小的方式將聲束聚焦,。
水浸探頭是一種單晶縱波探頭,，帶有一個(gè)在聲學(xué)特性上與水相配的1/4波長(zhǎng)的層。這種探頭是為使超聲波在部分或全部浸在水中的被測(cè)工件中傳播而特別設(shè)計(jì)的,。
優(yōu)勢(shì)
• 水浸技術(shù)提供了一種均勻耦合的方法,。
• 四分之一波長(zhǎng)的匹配層加強(qiáng)了聲能的輸出。
• 防腐蝕的303不銹鋼外殼帶有鍍鉻黃銅制連接器,。
• 射頻屏蔽功能可以提高關(guān)鍵性應(yīng)用的信噪比特性,。
• 除了筆刷式探頭的所有水浸探頭都可進(jìn)行球面（點(diǎn)）聚焦或柱面（線）聚焦。
• 用戶定制的聚焦長(zhǎng)度可根據(jù)用戶需求聚焦聲束,，以提高檢測(cè)小反射體的靈敏度,。
應(yīng)用
• 自動(dòng)掃查。
• 在線厚度測(cè)量,。
• 高速探測(cè)管道,、棒材、管件,、平板及其它類似部件中的缺陷,。
• 基于渡越時(shí)間和波幅的成像功能。
• 穿透檢測(cè),。
• 材料分析及聲速測(cè)量,。
使用注意事項(xiàng)：
探頭浸于水中的時(shí)間不能超過(guò)8小時(shí),。探頭需要有16小時(shí)的干燥時(shí)間，以保證其使用壽命,。
高頻探頭：
高頻探頭包括延遲塊探頭和聚焦水浸探頭。這些探頭的頻率范圍在20 MHz至225
MHz之間,。高頻延遲塊探頭可以對(duì)厚度薄如0.010毫米（0.0004英寸）的材料進(jìn)行厚度測(cè)量（取決于材料,、探頭、表面條件,、溫度和設(shè)置）,。高頻聚焦水浸探頭是對(duì)硅制微型芯片等具有低衰減性的薄材料進(jìn)行高分辨率成像和缺陷探測(cè)應(yīng)用的理想探頭。
高頻探頭為單晶接觸式或水浸式探頭,，可產(chǎn)生等于或高于20 MHz的頻率,。
優(yōu)勢(shì)
• 強(qiáng)阻尼寬帶設(shè)計(jì)提供了時(shí)間分辨率。
• 短波長(zhǎng)可獲得*的缺陷分辨率能力,。
• 直徑極小的聲束也可以聚焦,。
• 頻率范圍為20 MHz到225 MHz。
應(yīng)用
• 高分辨率缺陷探測(cè),，如：微孔隙檢測(cè)或微裂紋檢測(cè),。
• 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。
• 可測(cè)量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度*,。
• 可對(duì)陶瓷及高級(jí)工程材料進(jìn)行檢測(cè),。
• 可對(duì)材料進(jìn)行分析。
*厚度范圍取決于材料,、探頭,、表面條件、溫度及所選的的設(shè)置,。高頻接觸式
• 使用直接接觸檢測(cè)法時(shí),，利用熔融石英延遲塊可進(jìn)行缺陷評(píng)價(jià)、材料分析或厚度測(cè)量,。
• 3種不同延遲塊的配置（BA,、BB、BC）可形成多種延遲塊回波的組合,。
• 其標(biāo)準(zhǔn)連接器類型為直角Microdot（RM）,。
數(shù)字化 | 渦流 | 膠片 | 檢測(cè)系統(tǒng) | 超聲波 | X射線
特殊探頭能為您解決特殊檢測(cè)問(wèn)題
如果您正有一個(gè)檢測(cè)難題需要解決，而標(biāo)準(zhǔn)探頭不能解決您的問(wèn)題,，那么您需要讀讀這本小冊(cè)子,。這里介紹的是已經(jīng)在許多超聲檢測(cè)領(lǐng)域獲得成功應(yīng)用的特殊探頭，它們都已經(jīng)通過(guò)檢測(cè)驗(yàn)證,，得到用戶的肯定, 并且可以根據(jù)客戶需要定制,。其中必有一種能解決您的檢測(cè)問(wèn)題,。
由于我們特殊探頭的范圍非常廣，我們需要把同類型的探頭歸類在一起,，從產(chǎn)品型號(hào)的編號(hào)上對(duì)探頭歸類（例如B2S-0A）,。在這種情況下，為了選擇合適的探頭,，您必須要對(duì)檢測(cè)任務(wù)有詳細(xì)的了解,。
*解決方案是您能發(fā)給我們檢測(cè)物件的圖紙，上面標(biāo)有探頭位置,，缺陷位置,，可能需要的頻率等。如果您在這本冊(cè)子里沒(méi)有找到與您的檢測(cè)問(wèn)題相關(guān)的信息,，也請(qǐng)把你的詳細(xì)需求發(fā)給我們,，我們的探頭及應(yīng)用專家將很樂(lè)意為您尋求最佳解決方案并為您提供合適的探頭。
特殊探頭能為您解決特殊檢測(cè)問(wèn)題
① RB…,MRB…型
用于管道周向檢測(cè)的斜探頭,，能夠同時(shí)從兩個(gè)周向檢測(cè)管道的,。Lemo00接頭。
② IR…型
從管道內(nèi)部檢測(cè)缺陷或測(cè)量厚度,。
③ Z4R6X6/6X
多晶片探頭—4MHz,，6個(gè)6x6mm晶片水浸探頭，帶2.5m探頭線,。我們也能提供其他
頻率，晶片尺寸和晶片數(shù)量的探頭,，相應(yīng)的多晶片斜探頭可以用來(lái)檢測(cè)橫向缺陷,。
④ IALF10…型
10MHz水浸探頭，園柱曲面,，晶片寬30mm,，由PVDF材料制成，帶1.5m
Lemo1接口探頭線,?？商峁┢渌l率和晶片尺寸的探頭。
鐵軌檢測(cè)探頭
① SESZS…型
4MHz雙 晶 直 探 頭 ,， 0.95m探 頭 線 ,，Lemo接頭。
② SESZW…型
雙晶斜探頭,，聲束同時(shí)向前,，向后70º入射，2MHz,，帶0.75m探頭線,，Lemo1接頭。
③ WB45-01型
45º斜探頭,，1MHz,，頂端帶Lemo1接頭；套在夾具上組成前后串聯(lián)式檢測(cè)鐵軌,。
注釋:
SESZS…型和SESZW…型都適用于鐵軌檢測(cè)系統(tǒng)自動(dòng)檢測(cè),。用于坯餅檢測(cè)時(shí)請(qǐng)參
考第6頁(yè),，板坯檢測(cè),。關(guān)于其他的檢測(cè)問(wèn)題,，請(qǐng)聯(lián)系我們的專業(yè)技術(shù)人員。
用于軸承和輪軸
① B2S-0A…型
1MHz,，2MHZ,，4MHZ斜探頭，晶片直徑24mm,，可更換保護(hù)膜,。通過(guò)不同角度延
遲塊得到7º 14º 21º 28º 縱波斜探頭。頂部Lemo1接頭,。尤其適用于檢測(cè)大軸承偏
心位置的體積型缺陷。
② AW…型
斜探頭,，延遲塊可更換,，2MHZ，晶片直徑24mm,，Lemo1接頭,；適用于橫波探
傷，探頭接觸面可與曲面耦合,。
③ ASW…型
斜探頭,，用橫波檢測(cè)輪軸中心孔，帶有2m探頭線,，Lemo1插頭一個(gè),。
④ B…S, MB…S
直探頭，可提供各種頻率,，晶片直徑為10mm和24mm,，帶延遲塊,。B…S型為
Lemo1接頭，MB…S探頭為Lemo00接頭,。
⑤ Z2GB1, Z4NB5
帶延遲塊的縱波斜探頭,，專為電梯軸承檢測(cè)設(shè)計(jì)，與Lemo 00插頭匹配,。
注釋:
對(duì)于粗晶材料(由于晶粒散射而導(dǎo)致信噪比差),，請(qǐng)參照第15頁(yè)“粗晶結(jié)構(gòu)材料
的檢測(cè)”。關(guān)于特大軸承檢測(cè)請(qǐng)參照第6頁(yè)“大型部件檢測(cè)”,。
用于板坯
① SEZ4R10…型
雙晶4MHz探頭,，聲束寬度約為50mm，由一個(gè)發(fā)射晶片和3個(gè)接收晶片組成,，一根探頭線,，帶有4個(gè)Lemo1接頭。
① 5Z6X27ND型
雙晶5MHZ探頭,，聲束寬度約為25mm,，帶Lemo1接頭的探頭線，尤其適合板材邊緣檢測(cè),。
② B…S-O型
提供各種頻率的直探頭,，可更換保護(hù)膜，頂部Lemo1接頭,。例如用于檢測(cè)平板輥筒,。
③ SEZ4N30V，SEB4TV型
4MHz雙晶探頭,，2.5m帶Lemo1接頭探頭線一根,，即使在不斷升高的溫度下也適用于檢測(cè)平板輥筒。
④ UWB…
1 MHz,，2 MHz或4 MHz入射角可調(diào)斜探頭,，可以得到縱波和橫波，配有Lemo1接
口,，用于產(chǎn)生蘭姆波,。
用于大型部件
① NQP…型
用 于 直 接 接 觸 法 的 聚 焦 直 探 頭 ，2MHZ,，晶片直徑34mm,，50mm，或
75mm,，深度越深處,，焦點(diǎn)直徑越小，Lemo1接頭。尤其適用于各個(gè)方向的相
鄰缺陷,。
② WQP…型
聚 焦 斜 探 頭 ,， 晶 片 直 徑 3 4 m m ，50mm,，或75mm,，深度越深處，焦點(diǎn)直徑越小,，Lemo1接頭,。
③ SEB…G型
雙晶探頭，1 MHz 或 2 MHz,， 大晶片,，深度聚焦，Lemo 00接頭,。
④ GRST…型
相控陣探頭,，聲束焦點(diǎn)和角度可變，可用于自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng),。
用于特殊形狀工件
例如飛機(jī)零件
① G…MN，G…KS型
多 種 頻 率 高 分 辨 率 的 直 探 頭 ,， 可 更換延遲塊,，Microdot接頭，G…KS為
Lemo00探頭,。例如用于渦輪葉片冷卻壁 測(cè) 量 ,。 檢 測(cè) 塑 料 時(shí) ， 延 遲 塊 可 根
據(jù) 實(shí) 際 使 用 環(huán) 境 設(shè) 計(jì) ,， 使 延 遲 塊 跟工件耦合,，消除界面回波（0界面探頭）。
② H…MN…F型
高分辨率水浸探頭,，多種頻率和晶片直徑可選,，探頭帶有噴水耦合的噴嘴和防
水Lemo03接頭；例如用于渦輪葉片的厚度測(cè)量,。
③ SMWB…
小晶片斜探頭,，4 MHz，5MHz或6 MHz,，晶片尺寸3mm x 4mm,，Microdot接頭；例如檢測(cè)鉚釘孔的裂紋,，也可用串聯(lián)式技術(shù)檢測(cè),。
例如：汽車部件
汽車零件的檢測(cè)幾乎是機(jī)械自動(dòng)化的。活塞,，閥門(mén),，輪軸，齒輪檢測(cè)的相關(guān)信
息可在特別發(fā)布的SD263資料中找到,。點(diǎn)焊檢測(cè)的信息參見(jiàn)第10頁(yè),。
用于混凝土，石頭,，和木材
① B0.05N,，B0.05U…型
直 探 頭 ， 5 0 K H Z ,， 接 觸 面 3 0 m m 和55mm,，信號(hào)衰減弱，Lemo1接頭,；只
能用于穿透式檢測(cè),。我們可以提供更高頻率探頭。
② B0.05NN型
直探頭,，50KHZ,，探頭通過(guò)增強(qiáng)桿增強(qiáng)超聲信號(hào)，聲束傳播直徑大,，Lemo1接
頭,，只適用于穿透式軟質(zhì)材料的檢測(cè)(如木材）。
③ K0.1G,，K0.25G型
100KHZ和250KHZ直探頭,，接觸面直徑45mm，阻尼性好,，例如脈沖持續(xù)時(shí)間
短,，防水Lemo1接頭；在脈沖回波模式可用于精確測(cè)量超聲傳播時(shí)間,。
③ B…SL,，G0.5G型
250 kHz，500 kHz,，1 MHz直探頭,，各種晶片尺寸可選，Lemo1接頭,。
用于陶瓷（如絕緣材料）
① K…G,，K…N 型
高分辨率直探頭，提供各種頻率,，晶片直徑24mm和10mm,，耐磨接觸面和Lemo00接頭。
② IB…
2MHZ或4MHZ，Lemo00接頭,，窄外殼設(shè)計(jì)使得探頭能進(jìn)入傘形絕緣體的縫隙中,。
③ IW…B…
4MHZ 斜探頭，Lemo00接頭,。入射角取決于缺陷位置和探頭耦合點(diǎn),。注釋：大部分標(biāo)準(zhǔn)探頭可以用于檢測(cè)大絕緣體，成形的陶瓷工件可使用高頻探頭（如AP-FM50.3.1）水浸法探傷,。
用于簡(jiǎn)單復(fù)合纖維塑料
① G…NS,，G…KS型
各種頻率沖擊波直探頭，晶片尺寸可選,，通過(guò)螺紋固定保護(hù)膜或延遲塊,，Lemo00接頭?？梢愿鶕?jù)工件材料設(shè)計(jì)延遲塊,，盡量消除界面波的影響（0界面探頭）。也適用于帶涂層工件的厚度測(cè)量,。
② CA212,，CA214
高分辨率直探頭，2MHZ,，5MHZ,，晶片尺寸10mm和24mm，Microdot接頭,，通過(guò)螺紋固定保護(hù)膜或延遲塊,，適用于帶涂層工件的厚度測(cè)量,。
② G…N,，G…KB
各種頻率沖擊波直探頭，晶片尺寸可選,，Lemo00接頭,，耐磨接觸面。
③ W70B2GT型
70º斜探頭,，頻率為2MHZ,，Lemo00接頭，適合檢測(cè)PE和PVC材料,。65º斜探頭可用于檢測(cè)大厚度材料,，WB70-1適合厚度更大的材料。
說(shuō)明：
關(guān) 于 熱 塑 料 的 檢 測(cè) 請(qǐng) 參 見(jiàn) 特 別 版SD277資料,，干耦合檢測(cè)相關(guān)信息見(jiàn)第14頁(yè),。
用于點(diǎn)焊檢測(cè)
① G20MN…型
高 分 辨 率 直 探 頭 ， P V D F 晶 片 ，20MHZ,，Microdot接頭和水延遲線,，由可更換彈性保護(hù)膜密封，用于點(diǎn)焊檢測(cè),；晶片尺寸取決于點(diǎn)焊焊核,，可以用15MHZ探頭檢測(cè)更大厚度的點(diǎn)焊。更多詳情請(qǐng)看特別版SD272,。
用于精密部件檢測(cè)
① G…MN型
各種頻率沖擊波探頭,，晶片直徑可選，Microdot接頭,，可更換延遲塊,；尤其適用于點(diǎn)焊檢測(cè)。
② H…NA,，H…KA,，H…MA型
各種頻率，晶片尺寸可選的水浸沖擊波探頭,，H…N,，H…K帶2.5m探頭線，H…M帶1.5m探頭線,，Lemo00接頭,；尤其適合厚度測(cè)量。
③ H...KP...F, H...MP...F型
各種頻率,，晶片尺寸,，焦距可選的高分辨率水浸探頭，防水Lemo03接頭,，并附有用于機(jī)械自動(dòng)檢測(cè)的噴水耦合噴嘴,。
膠接層檢測(cè)
例如在滑動(dòng)軸承（白金屬鐵或鋁鐵），焊接頭（鐵與鐵或者銅與銅,，銅表面包銀）,，搭接焊，離合器扭轉(zhuǎn)或制動(dòng)襯板粘結(jié)檢測(cè),，關(guān)于更詳細(xì)的膠接檢測(cè)信息請(qǐng)查閱另外更詳細(xì)的資料SD288,。然而，對(duì)于大部分檢測(cè)應(yīng)用要求,，標(biāo)準(zhǔn) 探 頭 都 能 滿 足 ,。 如 有 特 殊 應(yīng) 用 需求，請(qǐng)聯(lián)系我們-我們將為您提供最合適的探頭,。
腐蝕檢測(cè)
- DA312
雙晶探頭檢測(cè)的最小厚度為0.6mm,。
DA412
性能與DA312一樣,，比DA312多對(duì)話功能，探頭里存儲(chǔ)了探頭參數(shù),。
DA311
相當(dāng)于標(biāo)準(zhǔn)探頭DA301,，只是探頭接口在頂部。
DA303
2MHz雙晶探頭,，用于測(cè)量聲能吸收或者聲散射嚴(yán)重的材料,。
DA0，8G
雙晶探頭,，用于聲衰減或者聲散射非常嚴(yán)重的材料（例如,，鑄件或者塑料）。
DA408
與DA0,，8G相同,，只是比DA0，8G多對(duì)話功能,，探頭里存儲(chǔ)了探頭參數(shù),。
DA317類型
雙晶探頭用于檢測(cè)厚度比較小并且表面溫度最大為300℃的工件，該型號(hào)探頭的耦合穩(wěn)定性非常好,。
DA319
與DA312相同,，只是該型號(hào)能用于表面溫度高達(dá)250℃的工件。
HT400
雙 晶 探 頭 用 于 檢 測(cè) 表 面 溫 度 高 達(dá)550℃的工件,，在室溫下可測(cè)量的最小厚度為0.8mm,。
DA305
雙晶探頭使用石英玻璃延遲塊，尤其適合于溫度非常高的工件檢測(cè),。
DA類型
一個(gè)非常小的筆型雙晶探頭,，Microdot接 頭 ， 可 以 檢 測(cè) 接 觸 面 積 非 常 小 的工件,。
CA212,，CA214
高 分 辨 率 直 探 頭 ， 頻 率 為 2 M H z 或5MHz,，通 過(guò) 螺 紋 固 定 延 遲 塊 或 保 護(hù)膜 ,； 適 用 于 帶 A 掃 描 測(cè) 厚 儀 測(cè) 量 厚度值,。
用于測(cè)試材料特性
例如利用縱波橫波聲速計(jì)算彈性模量,。
G…N，G…KB,，G…K型
各種頻率,，晶片尺寸可選的沖擊波直探頭，耐磨損接觸面,，Lemo00插頭,。
G…K型為
Microdot接頭,。適合測(cè)量縱波聲速。
SM-P…型
各種頻率,，晶片尺寸可選的高分辨率直探頭,，Microdot接頭，有一個(gè)磁環(huán)可將探頭固定在磁性材料上,。尤其適合測(cè)量螺栓應(yīng)力,。
K…NY，K…KY型
高分辨率橫波直探頭,。多種頻率和晶片尺寸可選,。Microdot接頭。適合測(cè)量橫波聲速,，適用于精密測(cè)厚儀,。
注釋：
如有需要，橫波和縱波晶片可以同時(shí)封裝在一個(gè)外殼里,。例 如 可 以 用 來(lái) 確 定 硬 化 層 的 厚 度 和純度,。
Z20m型
20MHZ，窄脈沖水浸探頭,，晶片尺寸5mm,，1.5m探頭線，Lemo1接頭,。適合用超聲背散射測(cè)量硬化層深度,。
注釋：
硬化層和未硬化層之間的結(jié)構(gòu)突變是測(cè)量的先決條件。參見(jiàn)SD284,。
Z10M型
10MHZ窄脈沖水浸探頭,，晶片尺寸5mm，1.5m探頭線,，Lemo1接頭,。適用于純度測(cè)量。
串聯(lián)式焊縫檢測(cè)
- W45SEK2/…型
45º斜探頭,，雙晶片,，兩晶片的聲軸交點(diǎn)在焊縫中心；適用于對(duì)接焊,。
② D45N2…型
各種角度,，頻率，晶片尺寸的斜探頭,，適用于串聯(lián)式厚焊縫檢測(cè),。可用于機(jī)械自動(dòng)檢測(cè),。
高溫高壓或輻射環(huán)境下檢測(cè)
- W…B2GV,，W…B4GV
45º,，60º，70º斜探頭,，頻率2MHZ,，或4MHZ。Lemo00接頭,。適合高溫超聲檢測(cè),。
② SEB4KV
4MHZ雙晶探頭，Lemo00接頭,，與A掃描顯示的儀器連接可在高溫下用于厚度測(cè)量,。
LWG854型
防輻射探頭：如檢測(cè)滲水燃油桿。
③ H5KV型
5MHZ水浸探頭,，防水Lemo03接頭,，可在125º和60bar下工作。尤其適合檢測(cè)輸油管道連續(xù)厚度測(cè)量和缺陷檢測(cè),，用特殊的表面保護(hù)層可用于腐蝕性材料檢測(cè),。
④ K5KVB4型
5MHZ直探頭，耐熱延遲塊,，可用于高溫高壓下塑料部件的厚度測(cè)量,。使用特殊延遲塊可用于腐蝕性材料檢測(cè)。
注釋：
高溫測(cè)厚探頭詳細(xì)資料見(jiàn)第11頁(yè),。
用于結(jié)構(gòu)復(fù)雜,，空間接觸面積受限制的工件
SMWB型
小晶片斜探頭，頻率4MHZ,，5MHZ,，6MHZ。晶片尺寸3mmx4mm,，入射角可選,，Microdot接頭。
② K…M…型
各頻率小晶片直探頭,，（外徑2.5mm,，高度3mm），Microdot接頭或固定細(xì)探頭線,?？商峁┙佑|面直徑為2mm的錐形延遲塊。
③ WSY型
90º爬波探頭,，Lemo00接頭,，用來(lái)檢測(cè)難以接近的位置,。
注釋：
爬波在工件表面下沿直線傳播,。它并不像表面波一樣沿著表面?zhèn)鞑?。所以有些用其他超聲波無(wú)法檢測(cè)到的缺陷可以用爬波檢測(cè)到,。這種探頭必須很好的與材料表面貼合在一起才能產(chǎn)生爬波,。
不用耦合劑（干耦合）檢測(cè)
如果在檢測(cè)工件表面不能使用液體耦合劑，某些情況下可以使用塑料來(lái)代替,。
用塑料箔或塑料冒安裝在探頭前面保證探頭和檢測(cè)工件耦合,。滾筒探頭，
B1KS,，B1KE型帶有特殊接觸面可以在沒(méi)有耦合的情況下連續(xù)檢測(cè),。在這種情
況下，保證探頭和被檢物件表面的清潔是十分重要的,，因?yàn)楣ぜ砻娴呐K物會(huì)
使探頭不能與工件耦合,。這種技術(shù)尤其適合于塑料檢測(cè)。詳情請(qǐng)參見(jiàn)SD261,。
用于粗晶材料的檢測(cè)（鑄件和奧氏體材料）
很多用于檢測(cè)粗晶材料的探頭都得到成功應(yīng)用,，現(xiàn)在已成為標(biāo)準(zhǔn)探頭。
包括：
- K…S,，K…SM
各頻率高分辨率直探頭,，晶片尺寸34或28mm，Lemo1接頭,，通過(guò)螺紋固定保護(hù)膜,，延遲線和斜楔。
② WRY…,，WSY…
45º,，60º，70º縱波斜探頭,，高分辨率,，頻率2MHZ。WSY…頻率4MHZ,，Lemo00接頭,。
③ VRY…，VSY…
45º,，60º,，70º，2MHZ縱波雙晶斜探頭,。VSY… 4MHZ,，Lemo00接頭。如果您需要與上述標(biāo)準(zhǔn)探頭頻率,、入射角,、接頭型號(hào)不同的探頭,，請(qǐng)聯(lián)系我們，我們將給您提供最佳探頭,，使其能滿足您的應(yīng)用需求,。
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)
很多國(guó)家的標(biāo)準(zhǔn)都規(guī)定了探頭的技術(shù)參數(shù)，常規(guī)檢測(cè)的檢測(cè)方法和規(guī)范,。這些
標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)量和范圍都非常大,，在此對(duì)于具體的探頭參數(shù)不一一列舉。
如果您需要符合特定標(biāo)準(zhǔn)的探頭,，請(qǐng)聯(lián)系我們,，如果您急需探頭的話，我
們建議您給我們提供基于標(biāo)準(zhǔn)的探頭技術(shù)資料,。
化工儀器網(wǎng)