奧林巴斯超聲波探傷儀單晶探頭A133S-RM
 

接觸式探頭是一種可與被檢工件直接接觸的單晶縱波探頭。

優(yōu)勢(shì)
• WC-5防磨板增加了這種探頭的耐用性,、抗裂性及防磨性,。
• 所有這類探頭都可用于檢測(cè)面粗糙的工業(yè)部件。
• 具有與大多數(shù)金屬匹配的近似聲阻抗,。
• 可用于檢測(cè)多種材料,。

應(yīng)用

• 垂直聲束缺陷探測(cè)和厚度測(cè)量。
• 分層缺陷的探測(cè)和定量,。
• 材料特性評(píng)價(jià)和聲速測(cè)量,。
• 檢測(cè)平板、坯材,、棒材,、鍛件、鑄件,、擠壓成形件及其它金屬與非金屬部件,。
• 可在50°C（122°F）的高溫下持續(xù)使用。

奧林巴斯超聲波探傷儀單晶探頭A133S-RM

奧林巴斯超聲探頭選擇

接觸式探頭：

接觸式探頭是一個(gè)通?？缮煽v波且與被測(cè)樣件直接接觸的單晶探頭,。所有接觸式探頭都裝有WC-5防磨面，不僅具有超級(jí)防磨效果，可以延長(zhǎng)探頭壽命,，還可以提供適合于大多數(shù)金屬的好的聲阻抗,。

接觸式探頭是一種可與被檢工件直接接觸的單晶縱波探頭。

優(yōu)勢(shì)

• WC-5防磨板增加了這種探頭的耐用性,、抗裂性及防磨性,。

• 所有這類探頭都可用于檢測(cè)面粗糙的工業(yè)部件。

• 具有與大多數(shù)金屬匹配的近似聲阻抗,。

• 可用于檢測(cè)多種材料,。

應(yīng)用

• 垂直聲束缺陷探測(cè)和厚度測(cè)量。

• 分層缺陷的探測(cè)和定量,。

• 材料特性評(píng)價(jià)和聲速測(cè)量,。

• 檢測(cè)平板、坯材,、棒材,、鍛件、鑄件,、擠壓成形件及多種其它金屬與非金屬部件,。

• 可在50°C（122°F）的高溫下持續(xù)使用。

指尖接觸式

• 大于6毫米（0.25英寸）的探頭帶有凸節(jié),，便于抓取,。

• 303不銹鋼外殼。

• 薄外形的特點(diǎn)便于檢測(cè)難于接觸到的表面,。

• 根據(jù)客戶的要求,，可免費(fèi)提供用于方便抓取探頭的可拆裝塑料套筒。

6毫米（0.25英寸）套筒的工件編號(hào)為CAP4,；3毫米

（0.125英寸）套筒的工件編號(hào)為CAP8,。

• 標(biāo)準(zhǔn)配置為直角連接器，并適用于Microdot連接器,。

雙晶探頭：

雙晶探頭包含兩個(gè)縱波晶片（一個(gè)用作發(fā)送器,，另一個(gè)用作接收器），兩個(gè)晶片裝于同一個(gè)外殼中,，但中間有一層隔音屏障,。每個(gè)晶片都稍微向另一個(gè)晶片傾斜，目的是使從工件底面反彈的信號(hào)以V形聲程傳播,。雙晶探頭在檢測(cè)嚴(yán)重腐蝕的工件時(shí)一般都能提供更穩(wěn)定的讀數(shù),，而且還可用于高溫環(huán)境。

雙晶探頭在同一個(gè)外殼中裝有由隔音屏障分開的兩個(gè)晶片,。一個(gè)晶片發(fā)射縱波,，另一個(gè)晶片作為接收器接收聲波,。要了解有關(guān)用于MG2和37系列測(cè)厚儀的探頭更詳細(xì)的情況請(qǐng)咨詢我們,。

優(yōu)勢(shì)

• 改進(jìn)了近表面的分辨率,。

• 避免了高溫應(yīng)用所需的多延遲塊。

• 在粗糙或彎曲表面上的耦合效果好,。

• 減少了粗晶?；蛞咨⑸洳牧现械闹苯臃聪蛏⑸湓胍簟?/span>

• 將低頻單晶探頭的穿透性能與高頻單晶探頭的近表面分辨率性能結(jié)合在一起,。

• 可與曲面工件外形相吻合,，緊貼在工件的表面。

應(yīng)用

• 剩余壁厚測(cè)量,。

• 腐蝕/侵蝕監(jiān)控,。

• 焊縫覆蓋和覆層的粘膠/脫膠檢測(cè)。

• 探測(cè)鑄件和鍛件中的多孔性,、夾雜物,、裂紋及分層等缺陷。

• 探測(cè)螺栓或其它圓柱形部件中的裂紋,。

• 等于或小于5.0 MHz的探頭可承受的最高溫度為425°C（800°F）,；7.5 MHz和10 MHz的探頭可承受的最高溫度為175°C（350°F）。表面溫度在90°C（200°F）到425°C（800°F）的情況下,，建議使用的占空因數(shù)為最多10秒鐘接觸,，然后進(jìn)行最少1分鐘的空氣冷卻（不適用于袖珍雙晶探頭）。

角度聲束探頭：

角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭,，可以所選的角度將縱波或橫波

發(fā)射到工件中,。角度聲束探頭可以對(duì)工件中垂直入射接觸式探頭的超聲聲程無(wú)法到達(dá)的區(qū)域進(jìn)行檢測(cè)。角度聲束探頭一般用于焊縫檢測(cè),，因?yàn)槿绻褂脴?biāo)準(zhǔn)接觸式探頭,，焊冠會(huì)擋住聲波，使聲波無(wú)法到達(dá)希望檢測(cè)的焊縫區(qū)域,，而且一般的缺陷對(duì)準(zhǔn)操作會(huì)使角度聲束產(chǎn)生更強(qiáng)的反射信號(hào),。

角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以向被測(cè)工件內(nèi)部發(fā)射折射橫波或縱波,。

優(yōu)勢(shì)

• 三種材料制成的Accupath楔塊在提高了信噪比性能的同時(shí),，

還表現(xiàn)出好的防磨特性,。

• 高溫楔塊可對(duì)熱材料進(jìn)行在役檢測(cè)。

• 用戶可根據(jù)需要定制楔塊,，以得到非標(biāo)準(zhǔn)的折射角度,。

• 具有可更換型和整合型兩種結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。

• 具有外形吻合性能,。

• 可提供在鋁制材料中獲得標(biāo)準(zhǔn)折射角度的楔塊及整合組件設(shè)

計(jì)（參見(jiàn)第15頁(yè)）,。

應(yīng)用

• 缺陷探測(cè)與定量,。

• 要了解衍射時(shí)差探頭,，請(qǐng)參閱第35頁(yè),。

• 檢測(cè)管道,、管件,、鍛件,、鑄件，機(jī)加工部件和結(jié)構(gòu)部件上的焊縫缺陷或裂縫,。

袖珍旋入式探頭

• 旋入式設(shè)計(jì),，303不銹鋼外殼。

• 不同頻率的探頭顏色不同,。

• 兼容于短接近,、Accupath,、高溫和表面波楔塊,。

延遲塊探頭：

延遲塊探頭為單晶寬帶接觸式探頭，其特殊的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)是在探頭晶片前插有塑料或環(huán)氧材料制成的一個(gè)薄片。延遲塊改進(jìn)了工件近表面缺陷的分辨率,，可以測(cè)量更薄的材料厚度,，并能提供更精確的厚度測(cè)量結(jié)果,。延遲塊可根據(jù)工件的表面幾何形狀緊貼在工件上,，而且還可用于高溫應(yīng)用中。

可更換延遲塊探頭是一種單晶接觸式探頭,，專門與可更換的延遲塊一起使用,。

優(yōu)勢(shì)

• 強(qiáng)阻尼探頭加上延遲塊可以提供好的近場(chǎng)分辨率,。

• 較高的探頭頻率提高了分辨率。

• 直接接觸法可提高測(cè)量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力,。

• 具有外形吻合性能,，適用于曲面工件。

應(yīng)用

• 精確測(cè)厚,。

• 垂直聲束缺陷探測(cè),。

• 對(duì)接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測(cè),?？筛鼡Q延遲塊探頭

• 每個(gè)探頭的配置都帶有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)延遲塊和一個(gè)固定環(huán)。

• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊,。

• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑,。