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特殊探頭能為您解決特殊檢測問題
如果您正有一個檢測難題需要解決,，而標(biāo)準(zhǔn)探頭不能解決您的問題，那么您需要讀讀這本小冊子,。這里介紹的是已經(jīng)在許多超聲檢測領(lǐng)域獲得成功應(yīng)用的特殊探頭,，它們都已經(jīng)通過檢測驗證，得到用戶的肯定, 并且可以根據(jù)客戶需要定制。其中必有一種能解決您的檢測問題,。
由于我們特殊探頭的范圍非常廣,，我們需要把同類型的探頭歸類在一起，從產(chǎn)品型號的編號上對探頭歸類（例如B2S-0A）,。在這種情況下,，為了選擇合適的探頭，您必須要對檢測任務(wù)有詳細(xì)的了解,。
解決方案是您能發(fā)給我們檢測物件的圖紙,，上面標(biāo)有探頭位置，缺陷位置,，可能需要的頻率等,。如果您在這本冊子里沒有找到與您的檢測問題相關(guān)的信息，也請把你的詳細(xì)需求發(fā)給我們,，我們的探頭及應(yīng)用專家將很樂意為您尋求解決方案并為您提供合適的探頭,。
特殊探頭能為您解決特殊檢測問題
① RB…,MRB…型
用于管道周向檢測的斜探頭，能夠同時從兩個周向檢測管道的,。Lemo00接頭,。
② IR…型
從管道內(nèi)部檢測缺陷或測量厚度。
③ Z4R6X6/6X
多晶片探頭—4MHz,，6個6x6mm晶片水浸探頭,，帶2.5m探頭線。我們也能提供其他
頻率,，晶片尺寸和晶片數(shù)量的探頭,，相應(yīng)的多晶片斜探頭可以用來檢測橫向缺陷。
④ IALF10…型
10MHz水浸探頭,，園柱曲面,，晶片寬30mm，由PVDF材料制成,，帶1.5m
Lemo1接口探頭線,。可提供其他頻率和晶片尺寸的探頭,。
鐵軌檢測探頭
① SESZS…型
4MHz雙 晶 直 探 頭 ,， 0.95m探 頭 線 ，Lemo接頭,。
② SESZW…型
雙晶斜探頭,，聲束同時向前，向后70º入射,，2MHz,，帶0.75m探頭線,，Lemo1接頭。
③ WB45-01型
45º斜探頭,，1MHz,，頂端帶Lemo1接頭,；套在夾具上組成前后串聯(lián)式檢測鐵軌,。
注釋:
SESZS…型和SESZW…型都適用于鐵軌檢測系統(tǒng)自動檢測。用于坯餅檢測時請參
考第6頁,，板坯檢測,。關(guān)于其他的檢測問題，請聯(lián)系我們的專業(yè)技術(shù)人員,。
用于軸承和輪軸
① B2S-0A…型
1MHz,，2MHZ，4MHZ斜探頭,，晶片直徑24mm,，可更換保護膜。通過不同角度延
遲塊得到7º 14º 21º 28º 縱波斜探頭,。頂部Lemo1接頭,。尤其適用于檢測大軸承偏
心位置的體積型缺陷。
② AW…型
斜探頭,，延遲塊可更換,，2MHZ，晶片直徑24mm,，Lemo1接頭,；適用于橫波探
傷，探頭接觸面可與曲面耦合,。
③ ASW…型
斜探頭,，用橫波檢測輪軸中心孔，帶有2m探頭線,，Lemo1插頭一個,。
④ B…S, MB…S
直探頭，可提供各種頻率,，晶片直徑為10mm和24mm,，帶延遲塊。B…S型為
Lemo1接頭,，MB…S探頭為Lemo00接頭,。
⑤ Z2GB1, Z4NB5
帶延遲塊的縱波斜探頭，專為電梯軸承檢測設(shè)計,，與Lemo 00插頭匹配,。
注釋:
對于粗晶材料(由于晶粒散射而導(dǎo)致信噪比差),，請參照第15頁“粗晶結(jié)構(gòu)材料
的檢測”。關(guān)于特大軸承檢測請參照第6頁“大型部件檢測”,。
用于板坯
① SEZ4R10…型
雙晶4MHz探頭,，聲束寬度約為50mm，由一個發(fā)射晶片和3個接收晶片組成,，一根探頭線,，帶有4個Lemo1接頭。
① 5Z6X27ND型
雙晶5MHZ探頭,，聲束寬度約為25mm,，帶Lemo1接頭的探頭線，尤其適合板材邊緣檢測,。
② B…S-O型
提供各種頻率的直探頭,，可更換保護膜，頂部Lemo1接頭,。例如用于檢測平板輥筒,。
③ SEZ4N30V，SEB4TV型
4MHz雙晶探頭,，2.5m帶Lemo1接頭探頭線一根,，即使在不斷升高的溫度下也適用于檢測平板輥筒。
④ UWB…
1 MHz,，2 MHz或4 MHz入射角可調(diào)斜探頭,，可以得到縱波和橫波，配有Lemo1接
口,，用于產(chǎn)生蘭姆波,。
用于大型部件
① NQP…型
用 于 直 接 接 觸 法 的 聚 焦 直 探 頭 ，2MHZ,，晶片直徑34mm,，50mm，或
75mm,，深度越深處,，焦點直徑越小，Lemo1接頭,。尤其適用于各個方向的相
鄰缺陷,。
② WQP…型
聚 焦 斜 探 頭 ， 晶 片 直 徑 3 4 m m ,，50mm,，或75mm，深度越深處,，焦點直徑越小,，Lemo1接頭,。
③ SEB…G型
雙晶探頭，1 MHz 或 2 MHz,， 大晶片,，深度聚焦，Lemo 00接頭,。
④ GRST…型
相控陣探頭,，聲束焦點和角度可變，可用于自動檢測系統(tǒng),。
用于特殊形狀工件
例如飛機零件
① G…MN,，G…KS型
多 種 頻 率 高 分 辨 率 的 直 探 頭 ,， 可 更換延遲塊,，Microdot接頭，G…KS為
Lemo00探頭,。例如用于渦輪葉片冷卻壁 測 量 ,。 檢 測 塑 料 時 ， 延 遲 塊 可 根
據(jù) 實 際 使 用 環(huán) 境 設(shè) 計 ,， 使 延 遲 塊 跟工件完美耦合,，消除界面回波（0界面探頭）。
② H…MN…F型
高分辨率水浸探頭,，多種頻率和晶片直徑可選,，探頭帶有噴水耦合的噴嘴和防
水Lemo03接頭；例如用于渦輪葉片的厚度測量,。
③ SMWB…
小晶片斜探頭,，4 MHz，5MHz或6 MHz,，晶片尺寸3mm x 4mm,，Microdot接頭；例如檢測鉚釘孔的裂紋,，也可用串聯(lián)式技術(shù)檢測,。
例如：汽車部件
汽車零件的檢測幾乎是機械自動化的?；钊?，閥門，輪軸,，齒輪檢測的相關(guān)信
息可在特別發(fā)布的SD263資料中找到,。點焊檢測的信息參見第10頁。
用于其他檢測應(yīng)用
超聲檢測的應(yīng)用范圍非常廣,，我們經(jīng)常接到一些檢測應(yīng)用要求,，有些檢測要求
至今為止都沒有方法實現(xiàn)，我們收集了大量相關(guān)資料,。這里列舉了一些例子：
豬的脂肪與肌肉檢測,，皮膚厚度的測量,，眼睛的長度測量，人體眼睛透鏡厚
度的檢測,，雞蛋殼的厚度測量,，食物中固體的確定,，金錠和金幣的檢測，骨骼
康復(fù)治療的監(jiān)測,，液體的凝固和分離，啤酒,，奶酪或水果的成熟度，微型電子
部件等的檢測,。
我們致力于解決超聲領(lǐng)域各種應(yīng)用要求,。因此，如果您有檢測要求,，請務(wù)必
與我們聯(lián)系,，我們將給你一個解決方案。
用于混凝土,，石頭,，和木材
① B0.05N，B0.05U…型
直 探 頭 ,， 5 0 K H Z ,， 接 觸 面 3 0 m m 和55mm,，信號衰減弱，Lemo1接頭,；只
能用于穿透式檢測,。我們可以提供更高頻率探頭。
② B0.05NN型
直探頭,，50KHZ,，探頭通過增強桿增強超聲信號，聲束傳播直徑大,，Lemo1接
頭,，只適用于穿透式軟質(zhì)材料的檢測(如木材）。
③ K0.1G,，K0.25G型
100KHZ和250KHZ直探頭,，接觸面直徑45mm，阻尼性好,，例如脈沖持續(xù)時間
短,，防水Lemo1接頭,；在脈沖回波模式可用于精確測量超聲傳播時間,。
③ B…SL，G0.5G型
250 kHz,，500 kHz,，1 MHz直探頭，各種晶片尺寸可選,，Lemo1接頭,。
用于陶瓷（如絕緣材料）
① K…G，K…N 型
高分辨率直探頭,，提供各種頻率,，晶片直徑24mm和10mm，耐磨接觸面和Lemo00接頭,。
② IB…
2MHZ或4MHZ,，Lemo00接頭，窄外殼設(shè)計使得探頭能進(jìn)入傘形絕緣體的縫隙中,。
③ IW…B…
4MHZ 斜探頭,，Lemo00接頭。入射角取決于缺陷位置和探頭耦合點,。注釋：大部分標(biāo)準(zhǔn)探頭可以用于檢測大絕緣體,，成形的陶瓷工件可使用高頻探頭（如AP-FM50.3.1）水浸法探傷。
用于簡單復(fù)合纖維塑料
① G…NS,，G…KS型
各種頻率沖擊波直探頭,，晶片尺寸可選,，通過螺紋固定保護膜或延遲塊，Lemo00接頭,?？梢愿鶕?jù)工件材料設(shè)計延遲塊，盡量消除界面波的影響（0界面探頭）,。也適用于帶涂層工件的厚度測量,。
② CA212，CA214
高分辨率直探頭,，2MHZ,，5MHZ，晶片尺寸10mm和24mm,，Microdot接頭,，通過螺紋固定保護膜或延遲塊，適用于帶涂層工件的厚度測量,。
② G…N,，G…KB
各種頻率沖擊波直探頭，晶片尺寸可選,，Lemo00接頭,，耐磨接觸面。
③ W70B2GT型
70º斜探頭,，頻率為2MHZ,，Lemo00接頭，適合檢測PE和PVC材料,。65º斜探頭可用于檢測大厚度材料,，WB70-1適合厚度更大的材料。
說明：
關(guān) 于 熱 塑 料 的 檢 測 請 參 見 特 別 版SD277資料,，干耦合檢測相關(guān)信息見第14頁,。
用于點焊檢測
① G20MN…型
高 分 辨 率 直 探 頭 ， P V D F 晶 片 ,，20MHZ,，Microdot接頭和水延遲線，由可更換彈性保護膜密封,，用于點焊檢測,；晶片尺寸取決于點焊焊核，可以用15MHZ探頭檢測更大厚度的點焊,。更多詳情請看特別版SD272,。
用于精密部件檢測
① G…MN型
各種頻率沖擊波探頭，晶片直徑可選，Microdot接頭,，可更換延遲塊,；尤其適用于點焊檢測。
② H…NA,，H…KA,，H…MA型
各種頻率，晶片尺寸可選的水浸沖擊波探頭,，H…N,，H…K帶2.5m探頭線，H…M帶1.5m探頭線,，Lemo00接頭,；尤其適合厚度測量。
③ H...KP...F, H...MP...F型
各種頻率,，晶片尺寸,，焦距可選的高分辨率水浸探頭，防水Lemo03接頭,，并附有用于機械自動檢測的噴水耦合噴嘴,。
膠接層檢測
例如在滑動軸承（白金屬鐵或鋁鐵），焊接頭（鐵與鐵或者銅與銅,，銅表面包銀）,，搭接焊，離合器扭轉(zhuǎn)或制動襯板粘結(jié)檢測,，關(guān)于更詳細(xì)的膠接檢測信息請查閱另外更詳細(xì)的資料SD288,。然而，對于大部分檢測應(yīng)用要求,，標(biāo)準(zhǔn) 探 頭 都 能 滿 足 。 如 有 特 殊 應(yīng) 用 需求,，請聯(lián)系我們-我們將為您提供合適的探頭,。
腐蝕檢測
DA312
雙晶探頭檢測的小厚度為0.6mm。
DA412
性能與DA312一樣,，比DA312多對話功能,，探頭里存儲了探頭參數(shù)。
DA311
相當(dāng)于標(biāo)準(zhǔn)探頭DA301,，只是探頭接口在頂部,。
DA303
2MHz雙晶探頭，用于測量聲能吸收或者聲散射嚴(yán)重的材料,。
DA0,，8G
雙晶探頭，用于聲衰減或者聲散射非常嚴(yán)重的材料（例如,，鑄件或者塑料）,。
DA408
與DA0,，8G相同，只是比DA0,，8G多對話功能,，探頭里存儲了探頭參數(shù)。
DA317類型
雙晶探頭用于檢測厚度比較小并且表面溫度大為300℃的工件,，該型號探頭的耦合穩(wěn)定性非常好,。
DA319
與DA312相同，只是該型號能用于表面溫度高達(dá)250℃的工件,。
HT400
雙 晶 探 頭 用 于 檢 測 表 面 溫 度 高 達(dá)550℃的工件,，在室溫下可測量的小厚度為0.8mm。
DA305
雙晶探頭使用石英玻璃延遲塊,，尤其適合于溫度非常高的工件檢測,。
DA類型
一個非常小的筆型雙晶探頭，Microdot接 頭 ,， 可 以 檢 測 接 觸 面 積 非 常 小 的工件,。
CA212，CA214
高 分 辨 率 直 探 頭 ,， 頻 率 為 2 M H z 或5MHz,，通 過 螺 紋 固 定 延 遲 塊 或 保 護膜 ； 適 用 于 帶 A 掃 描 測 厚 儀 測 量 厚度值,。
用于測試材料特性
例如利用縱波橫波聲速計算彈性模量,。
G…N，G…KB,，G…K型
各種頻率,，晶片尺寸可選的沖擊波直探頭，耐磨損接觸面,，Lemo00插頭,。
G…K型為
Microdot接頭。適合測量縱波聲速,。
SM-P…型
各種頻率,，晶片尺寸可選的高分辨率直探頭，Microdot接頭,，有一個磁環(huán)可將探頭固定在磁性材料上,。尤其適合測量螺栓應(yīng)力。
K…NY,，K…KY型
高分辨率橫波直探頭,。多種頻率和晶片尺寸可選。Microdot接頭。適合測量橫波聲速,，適用于精密測厚儀,。
注釋：
如有需要，橫波和縱波晶片可以同時封裝在一個外殼里,。例 如 可 以 用 來 確 定 硬 化 層 的 厚 度 和純度,。
Z20m型
20MHZ，窄脈沖水浸探頭,，晶片尺寸5mm,，1.5m探頭線，Lemo1接頭,。適合用超聲背散射測量硬化層深度,。
注釋：
硬化層和未硬化層之間的結(jié)構(gòu)突變是測量的先決條件。參見SD284,。
Z10M型
10MHZ窄脈沖水浸探頭,，晶片尺寸5mm，1.5m探頭線,，Lemo1接頭,。適用于純度測量。
串聯(lián)式焊縫檢測
- W45SEK2/…型
45º斜探頭,，雙晶片,，兩晶片的聲軸交點在焊縫中心；適用于對接焊,。
② D45N2…型
各種角度,，頻率，晶片尺寸的斜探頭,，適用于串聯(lián)式厚焊縫檢測,。可用于機械自動檢測,。
高溫高壓或輻射環(huán)境下檢測
- W…B2GV,，W…B4GV
45º，60º,，70º斜探頭，頻率2MHZ,，或4MHZ,。Lemo00接頭。適合高溫超聲檢測,。
② SEB4KV
4MHZ雙晶探頭,，Lemo00接頭，與A掃描顯示的儀器連接可在高溫下用于厚度測量。
LWG854型
防輻射探頭：如檢測滲水燃油桿,。
③ H5KV型
5MHZ水浸探頭,，防水Lemo03接頭，可在125º和60bar下工作,。尤其適合檢測輸油管道連續(xù)厚度測量和缺陷檢測,，用特殊的表面保護層可用于腐蝕性材料檢測。
④ K5KVB4型
5MHZ直探頭,，耐熱延遲塊,，可用于高溫高壓下塑料部件的厚度測量。使用特殊延遲塊可用于腐蝕性材料檢測,。
注釋：
高溫測厚探頭詳細(xì)資料見第11頁,。
用于結(jié)構(gòu)復(fù)雜，空間接觸面積受限制的工件
SMWB型
小晶片斜探頭,，頻率4MHZ,，5MHZ，6MHZ,。晶片尺寸3mmx4mm,，入射角可選，Microdot接頭,。
② K…M…型
各頻率小晶片直探頭,，（外徑2.5mm，高度3mm）,，Microdot接頭或固定細(xì)探頭線,。可提供接觸面直徑為2mm的錐形延遲塊,。
③ WSY型
90º爬波探頭,，Lemo00接頭，用來檢測難以接近的位置,。
注釋：
爬波在工件表面下沿直線傳播,。它并不像表面波一樣沿著表面?zhèn)鞑ァＫ杂行┯闷渌暡o法檢測到的缺陷可以用爬波檢測到,。這種探頭必須很好的與材料表面貼合在一起才能產(chǎn)生爬波,。
不用耦合劑（干耦合）檢測
如果在檢測工件表面不能使用液體耦合劑，某些情況下可以使用塑料來代替,。
用塑料箔或塑料冒安裝在探頭前面保證探頭和檢測工件耦合,。滾筒探頭，
B1KS,，B1KE型帶有特殊接觸面可以在沒有耦合的情況下連續(xù)檢測,。在這種情
況下,，保證探頭和被檢物件表面的清潔是十分重要的，因為工件表面的臟物會
使探頭不能與工件耦合,。這種技術(shù)尤其適合于塑料檢測,。詳情請參見SD261。
用于粗晶材料的檢測（鑄件和奧氏體材料）
很多用于檢測粗晶材料的探頭都得到成功應(yīng)用,，現(xiàn)在已成為標(biāo)準(zhǔn)探頭,。
包括：
- K…S，K…SM
各頻率高分辨率直探頭,，晶片尺寸34或28mm,，Lemo1接頭，通過螺紋固定保護膜,，延遲線和斜楔,。
② WRY…，WSY…
45º,，60º,，70º縱波斜探頭，高分辨率,，頻率2MHZ,。WSY…頻率4MHZ，Lemo00接頭,。
③ VRY…,，VSY…
45º，60º,，70º,，2MHZ縱波雙晶斜探頭。VSY… 4MHZ,，Lemo00接頭,。如果您需要與上述標(biāo)準(zhǔn)探頭頻率、入射角,、接頭型號不同的探頭,，請聯(lián)系我們，我們將給您提供探頭,，使其能滿足您的應(yīng)用需求,。
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)檢測
很多國家的標(biāo)準(zhǔn)都規(guī)定了探頭的技術(shù)參數(shù)，常規(guī)檢測的檢測方法和規(guī)范,。這些
標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)量和范圍都非常大,，在此對于具體的探頭參數(shù)不一一列舉。
如果您需要符合特定標(biāo)準(zhǔn)的探頭,，請聯(lián)系我們,，如果您急需探頭的話，我
們建議您給我們提供基于標(biāo)準(zhǔn)的探頭技術(shù)資料,。
化工儀器網(wǎng)