粒形分析儀的測量技術(shù)
粒形分析儀擁有雙CCD成像技術(shù),,包括基準(zhǔn)鏡頭記錄大顆粒的粒度和形態(tài)信息,,聚焦鏡頭記錄小顆粒的粒度和形態(tài)信息。兩個鏡頭既可單獨使用也可同時使用,,因而能在一個很寬的粒度范圍內(nèi)得到具有重現(xiàn)性的數(shù)據(jù)結(jié)果,。一次進(jìn)樣,同時測得粒度大小,、粒度分布,、球形度、對稱性,、凹凸度等顆粒綜合信息,。
粒形分析儀*了樣品折射率測量技術(shù),對未知折射率的新材料也能得到的粒度測試結(jié)果,。粒形分析儀采進(jìn)口半導(dǎo)體泵浦激光器,,壽命大于25000小時;采用進(jìn)口的高精度透鏡組,,了微弱的,、各角度的散射光信號無一漏網(wǎng);采用進(jìn)口的高速CCD與高像遠(yuǎn)心鏡頭,,成像清晰無拖尾現(xiàn)象,;采用高速顆粒識別技術(shù),每分鐘可分析幾萬個顆粒數(shù)目,??傊搩x器是集激光散射,、顯微成像于一體的新一代粒度測試儀器,。
粒形分析儀采用激光光阻技術(shù),不需要任何假設(shè)或樣品特性,可直接測定微粒的粒度分布(0.1-3600微米)。這種*的分析技術(shù),被稱為“Laser Obscuration Time”激光光阻技術(shù)(LOT),。LOT與其他激光衍射技術(shù)相比的主要優(yōu)勢是其較高的分辨率,通過對小范圍的檢測從而得到更好的測量精度,。使用LOT技術(shù)主要好處是,即使有任何其他顆?;蚪橘|(zhì)的物理或化學(xué)性質(zhì)影響,仍得到可靠地測量結(jié)果。配套的軟件,通過分析計算復(fù)雜的多脈沖信號光阻時間,可在幾秒鐘內(nèi)得到清楚和精確的顆粒分布測量結(jié)果,。粒形分析儀實時可視化采樣,有效地讓用戶可以輕松地監(jiān)測樣品準(zhǔn)備過程或受污染情況,同時也為了避免樣品無關(guān)的或不必要的組分影響分析結(jié)果,。
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