一,、應(yīng)用范圍 適用于石墨,、磨料,、陶瓷,、碳化硅、硅灰石,、***剛石,、***屬粉、碳粉,、藥粉,、涂料、水泥,、硬質(zhì)合***,、催化劑,、云母粉、填料等各種粉末物料顆粒的形貌觀察和粒度分析,。 二,、性能特點(diǎn) 1.顆粒圖像分析儀，工業(yè)級(jí)攝像頭高速采集,，光學(xué)顯微鏡放大成像,，圖像快速顯示于電腦，直接觀察顆粒形貌,，軟件進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)處理,。 2. 測(cè)量范圍：0.5μm～3000μm 3. 接口方式：USB連接。 4. 平場(chǎng)消色差物鏡,，大分辨率0.07微米,，大光學(xué)放大倍數(shù)1600倍，打印大倍數(shù)4000倍(A4幅面),。 5. 供等面積和等周長(zhǎng)兩種基準(zhǔn)下的個(gè)數(shù),、直徑、面積,、體積,、圓形度等分布數(shù)據(jù)。同時(shí)提供顆粒數(shù),、D10,、D50、D90,、平均粒徑,、表面積、長(zhǎng)徑比等粒度分布數(shù)據(jù),，配有(30)多種圖像分析和處理功能,，可以滿足各種圖像處理需要。 6. 對(duì)采集的圖像進(jìn)行調(diào)整高度,、寬度,、亮度、對(duì)比度,、濾波,、填充等，提高分析分辨率,，網(wǎng)格標(biāo)注顆粒尺寸等功能,，使測(cè)試結(jié)果更真實(shí)可靠。 7. 儀器分二種型號(hào),，技術(shù)原理,、參數(shù)都相同,，A型顆粒圖像分析儀配置透射顯微鏡，B型顆粒圖像分析儀配置透反射顯微鏡,，后者還可用于陶瓷,、***屬等各種不透光物體表面晶形的觀察分析。 8. 顆粒形貌圖像可存盤和打印,，還可輸出多種格式的測(cè)試報(bào)告。另可根據(jù)行業(yè)特殊要求,，設(shè)計(jì)磨料,、硅灰石等軟件。 三,、 圖像分析處理功能 1. 色調(diào)處理：負(fù)像,、灰度化、色調(diào)調(diào)整,、亮度,、對(duì)比度調(diào)整； 2. 圖像矯正：水平鏡像,、垂直鏡像,、90度（逆時(shí)針)、90度(順時(shí)針) ,、旋轉(zhuǎn),、放大、縮小任意比例縮放等,； 3. 測(cè)量單位：微米,、毫米、厘米,、英吋任選,； 4. 圖像增強(qiáng)：對(duì)比度均衡,、膨脹,、腐蝕等,； 5. 圖像處理：圖像銳化,，邊緣平滑,，二值化，邊界濾波,，分析目標(biāo)擦除,、孔洞填充,，手工擦除,，手工連接,，粒子屬性查看,、設(shè)置標(biāo)尺、網(wǎng)格等功能,； 6. 分析參數(shù)： （1）幾何參數(shù)：每個(gè)顆粒的質(zhì)心 X,、Y 坐標(biāo)位置，像素,； （2）當(dāng)量幾何參數(shù)：等面積圓直徑,，等周長(zhǎng)圓直徑,，長(zhǎng)徑，短徑,，長(zhǎng)徑比； （3）外接幾何參數(shù)：每個(gè)顆粒的外接圓直徑,； （4）光密度參數(shù)：圖像 R,、G、B,、灰度分布,； （5）形態(tài)學(xué)參數(shù)：長(zhǎng)徑比,，圓度系數(shù),；