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T300V下照式鍍層測厚儀
T300V是佳譜儀器集多年X熒光光譜儀技術(shù)積累與鍍層應(yīng)用經(jīng)驗,專門設(shè)計研發(fā)的 一 款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測厚 儀,,性價比高,、適用性強。
該款采用的FP算法同時搭配高速數(shù)字多道技術(shù),, 應(yīng)對各大小平面件,、曲面件金屬鍍層及電鍍液檢測時檢出 限低,性能穩(wěn)定,,檢出限可達0.005um,,是一款頗具客戶 好評的C型腔體設(shè)計的實用型膜厚儀。
應(yīng)用領(lǐng)域
配置,,值得更優(yōu)性能
相比圖2普通接收器,,T300V采用了更為的高分辨率探測器,能的將不同元素的信號準確 解析,,針對單層,、多層或復雜合金鍍層的測量,測量精度更高,,穩(wěn)定性更好,。
儀器參數(shù)
選擇T300V的理由
檢測實例
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