下照式鍍層測厚儀 物理特性分析 熒光光譜儀

T300V下照式鍍層測厚儀

T300V是佳譜儀器集多年X熒光光譜儀技術(shù)積累與鍍層應(yīng)用經(jīng)驗,，專門設(shè)計研發(fā)的 一 款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測厚 儀,，性價比高、適用性強,。該款采用優(yōu)良的FP算法同時搭配高速數(shù)字多道技術(shù),，  應(yīng)對各大小平面件、曲面件金屬鍍層及電鍍液檢測時檢出 限低,，性能穩(wěn)定,，檢出限可達0.005um，是一款頗具客戶 好評的C型腔體設(shè)計的實用型膜厚儀,。

應(yīng)用領(lǐng)域

優(yōu)良配置,，值得更優(yōu)性能

相比圖2普通接收器，T300V采用了更為優(yōu)良的高分辨率探測器,，能將不同元素的信號準(zhǔn)確 解析,，針對單層、多層或復(fù)雜合金鍍層的測量,，測量精度更高,，穩(wěn)定性更好。

儀器參數(shù)

選擇T300V的理由

檢測實例

     電鍍層,，油漆層,，陶瓷層,，鋁瓦，銅瓦,，磷化層,，紙張的厚度測量，也可用于船體油漆及水下結(jié)構(gòu)件的附著物的厚度測量,。具有耐磨硬質(zhì)金屬探針的彈簧導(dǎo)套式探頭,，不但能在堅硬或粗糙的表面上進行測量，而且能保證測頭具有不變的壓緊力和穩(wěn)定的取樣植,。使用一款快速,、連接、可靠的,，簡化超聲厚度檢測流程,。測厚儀可用作精密或腐蝕測厚儀，滿足苛刻的應(yīng)用要求,。測厚儀具有優(yōu)良的超聲功能,、高達60 Hz更新率的快速掃描速度以及集成的無線連接功能，能夠在無縫工作流程中提供值得信賴的結(jié)果,。連接：集成藍牙,、USB、RS-232和可移動microSD卡*快速：以快2倍的顯示更新率掃描最小厚度區(qū)域**用途廣泛：使用我們的全系列雙晶和單晶探頭,，可應(yīng)對多種厚度應(yīng)用鍍層膜厚儀,，簡稱為，鍍層厚度檢測儀,，是用來專業(yè)測量,，金鎳，銅厚,，等，鍍層的厚度的標(biāo)準(zhǔn)儀器,。簡介 鍍層膜厚儀,，簡稱為，鍍層厚度檢測儀,，是用來專業(yè)測量,，金鎳，銅厚,，等,，鍍層的厚度的標(biāo)準(zhǔn)儀器。檢測鍍層厚度也有一定要求,，鍍層厚度要求分散能力是具有比

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