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供應(yīng)簡介

日本原裝TOPCON拓普康近紅外光譜儀SR-NIR
近年來,，對近紅外區(qū)域測量的需求不斷增加,，特別是在顯示器和照明市場。

此外,，沒有任何測量儀器可以輕松準(zhǔn)確地測量這一點,。

詳細(xì)介紹

日本原裝TOPCON拓普康近紅外光譜儀SR-NIR

在這種情況下，我們在SR系列分光輻射度計的技術(shù)基礎(chǔ)上開發(fā)了“近紅外分光輻射度計SR-NIR",。

通過將該產(chǎn)品與SR系列光譜輻射計結(jié)合使用,，現(xiàn)在可以測量380nm至1030nm的光譜輻射亮度,。

e 能夠測量 FPD 微弱發(fā)射的近紅外區(qū)域

e 高精度測量近紅外區(qū)域（600 至 1030 nm）的光譜分布 e

與我們的分光輻射度計 SR 系列結(jié)合使用時，可從可見光到近紅外區(qū)域測量外部光譜分布（380-1030nm）

觀測各種FPD的近紅外輸出

e 觀測Ne和Ar的發(fā)射線輸出

e 評估光學(xué)薄膜等的近紅外傳輸特性 e

其它光源的近紅外光譜測量

光電探測器	電子冷卻線性陣列傳感器
波長色散元件	衍射光柵
光學(xué)系統(tǒng)	物鏡：f=82mm F2.5,，目鏡：觀察視場5°
測量角度	2°/1°/0.2°/0.1° 電動切換型
最小測量直徑（mmφ）	2°: 10.0, 1°: 4.99, 0.2°: 1.00, 0.1°: 0.50
測量距離	350mm~∞（距物鏡硬件的距離）
測量波長范圍	600～1030nm
光譜波長寬度	6-8nm（半寬）
波長分辨率	1納米
測量模式	自動/手動（存儲時間/頻率）,、外部垂直同步信號輸入
測量細(xì)節(jié)	光譜輻射亮度：W?sr -1?m -2?nm -1
測量范圍（*1）	2°：0.5～3,000 cd/m 2 1°：1～9,000 cd/m 2 0.2°：20～70,000 cd/m 2 0.1°：100～300,000 cd/m 2
重復(fù)性(*2)	±2%以內(nèi)
偏振特性	光譜輻射率5%以下
校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)	我們的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn) *標(biāo)準(zhǔn) A 光，23℃±3℃,，65% RH 以下
測量時間（*3）	約 1 至 31 秒
界面	RS-232C,、USB 2.0
電源	專用交流適配器AC100~240V (50/60Hz)
功耗	約36W
使用條款	溫度：5～35℃，濕度：80%RH以下,，無凝結(jié)
外形尺寸（寬×深×高）	150×406×239毫米
大量的	約5.5公斤

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