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        低溫探針臺主要用于電學(xué)、磁學(xué),、微波,、THz、光學(xué)等多種測量,，可以根據(jù)客戶需要,，選擇不同的溫度和磁場配置,。客戶可以選擇自己搭配測試儀表集成各類測試,，也可以選擇我們的整體測試解決方案,，如電輸運(yùn)測試、半導(dǎo)體分析測試,、霍爾效應(yīng)測試,、鐵電分析測試，集成光學(xué)測試等,。

┃ 設(shè)備特點(diǎn)

• ±2.5T磁場,，可定制5T磁場

• 低溫至1.6K，高溫至675K

• 可測8英寸晶圓樣品

• 67GHz高頻探針

• 3 kV 高電壓探針

• 大溫區(qū)低溫漂探針

• 真空腔聯(lián)用傳送樣品

• ＜30 nm低振動適用于顯微光學(xué)測量

• 霍爾效應(yīng),、鐵電,、半導(dǎo)體分析測試選件