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瀏覽次數(shù)日本理學(xué) X 射線熒光光譜儀：精準分析的
日本理學(xué)（Rigaku）是的分析儀器制造商,，其 X 射線熒光光譜儀（XRF）以高靈敏度,、多功能性性能在全球科學(xué)界和工業(yè)領(lǐng)域享有盛譽,。這些儀器被廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、冶金,、環(huán)境監(jiān)測,、地質(zhì)勘探等多個領(lǐng)域，為用戶提供快速,、非破壞性,、多元素同步檢測的高效解決方案。
產(chǎn)品亮點
高靈敏度與寬廣的檢測范圍
檢測元素范圍覆蓋從氧（O）到鈾（U）,，無論是輕元素還是重元素都能實現(xiàn)精準分析,。
采用薄窗光管技術(shù)，顯著提升輕元素檢測靈敏度,，滿足復(fù)雜樣品的多樣化需求,。
非破壞性檢測
無需復(fù)雜的樣品前處理，不會損壞樣品的物理或化學(xué)結(jié)構(gòu),。
適用于高價值或稀有樣品的重復(fù)檢測,。
多元素同步分析
一次掃描即可完成多種元素的定性和定量分析，顯著提升工作效率,。
優(yōu)化的軟件和自動化功能,，讓用戶能夠輕松完成批量樣品檢測。
廣泛的樣品適配性
支持固體,、液體,、粉末、薄膜等多種樣品形式,，且樣品處理過程簡單,。
專為大尺寸或重型樣品設(shè)計的型號可接受最大直徑達 400 毫米、重量達 30 千克的樣品,。
高可靠性與低維護成本
上照射式光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計,，減少樣品室污染,，提升設(shè)備的使用壽命。
采用高強度材料與自動化維護設(shè)計,，減少維護時間和成本,。
主要產(chǎn)品及功能
ZSX Primus 波長色散 X 射線熒光光譜儀
結(jié)合高精度薄窗光管和高分辨率分光晶體，提供輕元素分析性能,。
映射功能支持樣品均勻性和夾雜物的檢測,，特別適合復(fù)雜材料分析。
ZSX Primus IV 波長色散 XRF
上照射式設(shè)計,，減少污染并提升分析穩(wěn)定性,。
高精度樣品定位功能，適用于高要求的元素分析,，如合金成分檢測,。
ZSX Primus 400 波長色散 XRF
專為大尺寸樣品而設(shè)計，可處理濺射靶材,、磁盤等大型或重型樣品。
靈活適配工業(yè)中多樣化的檢測需求,。
Supermini 200 臺式波長色散 XRF
世界大功率臺式波長色散 XRF 光譜儀,。
小型化設(shè)計適用于實驗室或狹小空間，同時保持高分辨率和低檢測限,。
適用領(lǐng)域
工業(yè)質(zhì)量控制
精準分析礦物,、合金、水泥等材料中的主要成分與微量元素,。
支持生產(chǎn)線實時監(jiān)控,，優(yōu)化工業(yè)流程。
材料科學(xué)研究
高靈敏度檢測材料中的雜質(zhì)和添加劑,。
微區(qū)分析功能助力新材料研發(fā)和故障檢測,。
環(huán)境監(jiān)測
檢測土壤、水樣中的重金屬和污染物,，為環(huán)境保護提供技術(shù)支持,。
地質(zhì)與礦物
對礦石和巖石樣品進行元素分析，支持礦產(chǎn)勘探和資源開發(fā),。
儀器優(yōu)勢
高性能
先進的光路和探測技術(shù)結(jié)合優(yōu)化的軟件算法,，確保高效精準的檢測結(jié)果。
智能化操作
用戶友好的操作界面和自動化樣品處理系統(tǒng),，顯著降低操作復(fù)雜性,。
耐用性
創(chuàng)新的防污染設(shè)計和耐用材料，使設(shè)備在高頻使用下依然保持穩(wěn)定性能,。
總結(jié)
日本理學(xué) X 射線熒光光譜儀以性能,、強大的功能和靈活的樣品適配性，滿足了從科研到工業(yè)生產(chǎn)的多樣化需求。無論是精準檢測輕元素,、批量處理樣品,，還是分析復(fù)雜材料，這些儀器都能提供可靠的解決方案,，是現(xiàn)代實驗室和工業(yè)應(yīng)用的重要工具,。
