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Bruker X射線熒光光譜儀：精準分析，開啟材料科學新視野
布魯克（Bruker）X射線熒光光譜儀結合高精度技術與靈敏度,，為材料科學,、工業(yè)質量控制、科研實驗等領域提供了強大的元素分析工具,。這款設備集成多項先進功能，以高效,、可靠的性能滿足多樣化應用需求,，是現(xiàn)代實驗室和工業(yè)應用的重要設備之一。
設備亮點
高靈敏度與精準度
采用 HighSense 光管與分光晶體 技術,，覆蓋從鈹（Be）到镅（Am）的全元素分析范圍,。
檢出限低至0.2 ppm，可應對極微量樣品分析,，確保數(shù)據(jù)精準可靠,。
靈活的樣品適配性
支持固體、液體,、粉末和小顆粒樣品的直接分析,，無需復雜的樣品制備。
多種面罩與準直器選擇,，光斑尺寸最小達300 µm,，適用于微區(qū)分析和面掃描。
快速高效的操作體驗
自動化樣品處理系統(tǒng),，結合 EasyLoad 設計,，減少操作時間，提高樣品周轉率,。
用戶界面采用直觀的 TouchControl 系統(tǒng),，操作簡單，即使非專業(yè)人員也能輕松使用,。
低維護與長壽命設計
SampleCare 技術 防止粉塵和樣品污染設備內部組件,，延長設備使用壽命。
氦氣節(jié)能模式減少運行成本,，保持長期高效運作,。
關鍵技術特點
HighSense 技術提升分析性能
分光晶體優(yōu)化：18種分光晶體適配不同元素，提高檢測強度和精密度,。
動態(tài)計數(shù)技術：DynaMatch 技術實現(xiàn)計數(shù)率高達13 Mcps,，為高通量分析提供保障。
光管增強：28 µm 鈹窗設計,，輕元素檢測強度提升35%,。
XRF2 微區(qū)分析功能
面掃描工具結合高靈敏度光路，支持輕重元素的高分辨率分析。
小光斑（300 µm）和高步長精度（100 µm）讓微區(qū)分布研究更加精確,。
高效樣品進樣與分析
自動識別樣品類型（固體或液體）,，避免操作失誤。
進樣托盤配置靈活,，支持單樣品或批量樣品測量,，適合高通量需求。
可靠的數(shù)據(jù)管理能力
數(shù)據(jù)自動記錄與存儲,，確保分析結果的可追溯性,。
靈活的報告輸出功能，支持多種格式的數(shù)據(jù)導出與打印,。
適用領域與優(yōu)勢
工業(yè)質量控制
支持水泥,、礦物、金屬合金等材料的主要成分和微量元素檢測,。
滿足ISO,、ASTM等多種國際標準要求。
科研與學術研究
用于材料科學,、地質學,、古生物學的深度分析。
微區(qū)掃描功能特別適合缺陷分析和元素分布研究,。
環(huán)保與能源行業(yè)
聚合物中重金屬與微量元素檢測,。
在石油化工領域，提供潤滑油,、水和聚合物的精確分析,。
技術規(guī)格
檢測范圍：鈹（Be）至镅（Am）
光斑尺寸：最小300 µm
計數(shù)率：高達13 Mcps
操作界面：觸控式TouchControl
樣品處理：支持108位樣品托盤與自動化進樣
設備維護與操作建議
環(huán)境要求
放置在無塵環(huán)境中，確保設備運行穩(wěn)定,。
避免濕度過高,，以保護光管和分光晶體。
定期維護
清潔粉塵收集器和真空封擋,，避免污染光譜室,。
檢查氦氣模式與耗材狀態(tài)，確保設備長期高效運行,。
安全操作
樣品進樣時遵循操作指引,，避免液體泄漏或松散粉末污染設備。
數(shù)據(jù)存儲與分析權限管理需規(guī)范操作,，保護實驗數(shù)據(jù)安全,。
總結
布魯克 X射線熒光光譜儀以其優(yōu)異的檢測性能、靈活的樣品適配性和低維護設計,，成為工業(yè)與科學分析領域的可靠選擇,。設備通過創(chuàng)新技術與高效操作結合,，不僅提升了實驗效率，還顯著優(yōu)化了分析結果的精度和可靠性,。它是一款能夠應對未來需求,、支持廣泛應用的多功能儀器。
