TSE320-S快速型一鍵閃測量儀

產(chǎn)品簡介

TSE-300系列拼接式閃測儀采用雙遠心光學系統(tǒng),，結(jié)合高精度圖像拼接測量算法。不僅能快速測量產(chǎn)品的平面尺寸和形位公差,，還可搭配鐳射（點激光,、線激光）測量段差、深度和平面度等尺寸,。儀器量測范圍可達300*200mm,，測量效率是傳統(tǒng)影像儀器的10-20倍

產(chǎn)品優(yōu)勢

1）超高的效率，單次可拼接測量300*200mm的范圍,，可同時測量上百個產(chǎn)品,。30s內(nèi)即可測量上千個尺寸，效率是傳統(tǒng)儀器的10-20倍,。

2）優(yōu)秀的模板匹配功能,，產(chǎn)品可任意擺放，無需治具,。具有多種模板匹配模式,，確保復雜工件都能夠精準匹配。

3）強大的拼接測量功能,，可支持多圖層,、多光源切換拼接，不僅可以測量薄片類產(chǎn)品,，還可以測量有一定厚度的產(chǎn)品,。

4）完善的測量工具，可直接測量點,、線,、圓、弧,、輪廓,；豐富的構(gòu)造工具包含相交、相切,、垂直,、平行、鏡像,、平移,、旋轉(zhuǎn)；

5）完善的坐標體系,，支持工件多重坐標系,，支持坐標平移、旋轉(zhuǎn)、調(diào)用,；

6）支持點激光,、線激光,，可同時測量高度差,、深度、平面度,。

TSE320-S快速型一鍵閃測量儀