PL（光致發(fā)光）檢測

      PL光致發(fā)光原理：利用特定波長的激光作為激發(fā)光源,，提供一定能量的光子,，硅片中的基態(tài)電子在吸收這些光子后進入激發(fā)態(tài)，釋放波峰在1150nm左右的近紅外光,，

然后利用高光譜高分辨率的相機進行感光,、成像。成像后光強與對應(yīng)位置非平衡少數(shù)載流子濃度成正比,，由于缺陷會導致該區(qū)域的少數(shù)載流子濃度減小從而削弱其熒光效應(yīng),，

成像后則表現(xiàn)為暗色的點、線或一定區(qū)域,，故可通過光致發(fā)光來判斷樣片是否存在缺陷,，雜質(zhì)等等最終影響電池效率。

檢測范圍：硅錠,、硅片,、工藝過程片、太陽能電池片,、組件產(chǎn)品,。

過程位置：在串焊、疊瓦之后或者組件成品之后,。通常也會根據(jù)客戶的需求來搭配安裝,，安裝在成品電池片出來后、或者串焊上料前,。

同時可以安裝適應(yīng)行業(yè)硅片,、硅錠檢測。

優(yōu)點：無接觸,，不易產(chǎn)生二次缺陷,；檢測效率高。

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