鋁膜測厚儀型號：BN/DT-LM

鋁膜測厚儀

可測量范圍與量程：被測薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%

測量量程 厚度90～800?（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□

精que度： 測量準確度 厚度 ±(20?+2%讀數(shù))

方阻 ±0.15Ω/□（在300～500?范圍）

讀數(shù)重現(xiàn)性 10? (同一測量點) 注：1微米＝1000納米＝10000埃

可測量范圍與量程：被測薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%

測量量程 厚度90～800?（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□

精que度： 測量準確度 厚度 ±(20?+2%讀數(shù))

方阻 ±0.15Ω/□（在300～500?范圍）

讀數(shù)重現(xiàn)性 10? (同一測量點) 注：1微米＝1000納米＝10000埃

可測量范圍與量程：被測薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%

測量量程 厚度90～800?（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□

精que度： 測量準確度 厚度 ±(20?+2%讀數(shù))

方阻 ±0.15Ω/□（在300～500?范圍）

讀數(shù)重現(xiàn)性 10? (同一測量點) 注：1微米＝1000納米＝10000埃